|
від 15 лютого 2002 р. N 185
Київ
|
|
Прем'єр-міністр України
|
А.КІНАХ
|
|
Інд. 21
|
Додаток
до Положення про порядок контролю за
експортом, імпортом і транзитом окремих
видів виробів, обладнання, матеріалів,
програмного забезпечення і технологій,
що можуть використовуватися для
створення озброєння, військової чи
спеціальної техніки, затвердженого
постановою Кабінету Міністрів України
від 22 серпня 1996 р. N 1005
( 1005-96-п ) (у редакції постанови
Кабінету Міністрів України від
15 лютого 2002 р. N 185)
----------------------------------------------------------------------
Розділ 1. ПЕРСПЕКТИВНІ МАТЕРІАЛИ
----------------------------------------------------------------------
Номер | Найменування | Код товару
позиції | | згідно з
| | УКТ ЗЕД
----------------------------------------------------------------------
1. ПЕРСПЕКТИВНІ МАТЕРІАЛИ
1.A. СИСТЕМИ, ОБЛАДНАННЯ І КОМПОНЕНТИ
1.A.1. Компоненти, наведені нижче, вироблені із
[1A001] сполук, що містять фтор:
1.A.1.а. Ущільнення, прокладки, ущільнювальні 3919 90 90 00
матеріали або трубчаті ущільнення,
спеціально призначені для "літальних
апаратів" чи для використання в
аерокосмічній техніці та виготовлені більше
ніж на 50 вагових відсотків з матеріалу,
зазначеного у позиціях 1.С.9.b або
1.С.9.с
Примітки. 1. Коди товарів згідно з УКТ ЗЕД наводяться
у списку довідково. Основною ознакою для
прийняття рішення є відповідність
заявленого до митного оформлення товару
найменуванню та опису відповідному
товару, що наведено в цьому списку.
2. У позиції 1.A.1 та далі за текстом
у графі "номер позиції" (у квадратних
дужках) наводяться коди товарів згідно
із системою їх класифікації
державами-учасницями Європейського Союзу.
1.A.1.b. П'єзоелектричні полімери та сополімери, 3921 90 90 00
вироблені із фтористих матеріалів,
зазначених у позиції 1.С.9.а:
1) у вигляді плівки або листа;
та
2) завтовшки понад 200 мкм
1.A.1.с. Ущільнення, прокладки, гнізда клапанів, 3919 90 90 00
трубчасті ущільнення або діафрагми,
виготовлені із фтороластомірів, які містять
щонайменше одну вінілефірну групу як
складову ланку і спеціально призначені для
"літальних апаратів" чи для використання
в аерокосмічній або ракетній техніці
1.A.2. "Композиційні" структури або ламінати
[1A002] (шаруваті матеріали), які містять:
1.A.2.а. Органічну "матрицю" і вироблені з 3926 90 10 00
матеріалів, що підлягають контролю згідно з
позиціями 1.С.10.с, 1.С.10.d чи 1.С.10.е
або
Примітка. Згідно з позицією 1.A.2.а контролю не
підлягають закінчені вироби або
напівфабрикати, спеціально призначені тільки
для наведеного нижче цивільного
використання:
а) у спортивних товарах;
b) в автомобільній промисловості;
c) у верстатобудівній промисловості;
d) у медичних цілях.
1.A.2.b. Металеву або вуглецеву матрицю і
виготовлені з: з 3801,
1) вуглецевих волокнистих або ниткоподібних 3926 90 10 00,
матеріалів з: з 6903 10 00
а) питомим модулем пружності понад
10,15 х 10 (в ступ. 6) м; та
b) питомою межею міцності при розтягові
понад 17,7 х 10 (в ступ. 4) м; або
2) матеріалів, що підлягають контролю за 3926 90 10 00,
позицією 1.С.10.с 8101 92 00 00,
8108 90 30 00,
8108 90 70 00
Примітка. Згідно з позицією 1.A.2.b контролю не
підлягають закінчені вироби або
напівфабрикати, спеціально призначені тільки
для наведеного нижче цивільного
використання:
a) у спортивних товарах;
b) в автомобільній промисловості;
c) у верстатобудівній промисловості;
d) у медичних цілях.
Технічні 1. Питомий модуль пружності - модуль Юнга,
примітки. виражений в паскалях або в Н/кв. м,
поділений на питому вагу в Н/куб. м,
виміряний при температурі
(296 +(-) 2) К [(23 +(-) 2) град. С] та
відносній вологості (50 +(-) 5)
відсотків.
2. Питома межа міцності при розтягові -
найбільша межа міцності до розриву,
виражена в Па або в Н/кв. м,
поділена на питому вагу в Н/куб. м,
виміряна при температурі
(296 +(-) 2) К [(23 +(-) 2) град. С] та
відносній вологості (50 +(-) 5)
відсотків.
Примітка. Згідно з позицією 1.A.2 контролю не
підлягають композиційні структури або
шаруваті матеріали, виготовлені з епоксидної
смоли, імпрегнованої "волокнистими чи
ниткоподібними матеріалами" для ремонту
авіаційних конструкцій, або шаруваті
матеріали, якщо їх розмір не
перевищує 1 кв. м.
1.A.3. Вироби з полімерних речовин, що не містять 3919 90 90 00,
[1A003] фториди і підлягають контролю згідно з 3920 99 90 00
позицією 1.С.8.а.3, які мають форму плівки,
листа, стрічки або смужки:
1.A.3.а. Завтовшки понад 0,254 мм; або
1.A.3.b. Покриті чи ламіновані вуглецем, графітом,
металами або магнітними речовинами
Примітка. Згідно з позицією 1.A.3 контролю не
підлягають вироби, покриті або ламіновані
міддю і призначені для виробництва
електронних печатних плат.
1.A.4. Обладнання для захисту і виявлення та їх
[1A004] частини, наведені нижче, спеціально не
призначені для військового використання:
1.A.4.а. Газові маски, коробки протигазів з фільтрами 9020 00 90 00,
та обладнання для знезараження та їх 9033 00 00 00
частини, призначені або модифіковані для
захисту від біологічних факторів чи
радіоактивних матеріалів, "пристосованих для
військового використання", або від бойових
хімічних речовин
1.A.4.b. Захисні костюми, рукавиці та взуття, 6210 20 00 00,
спеціально призначені або модифіковані для 6210 30 00 00,
захисту від біологічних факторів чи з 6405 90
радіоактивних матеріалів, "пристосованих для
військового використання", або від бойових
хімічних речовин
1.A.4.c. Ядерні, біологічні та хімічні системи з 9027,
виявлення та їх частини, спеціально 9030 10 90 00,
призначені або модифіковані для виявлення 9033 00 00 00,
або ідентифікації біологічних факторів чи 9027 10 10 00,
радіоактивних матеріалів, "пристосованих для 9027 10 90 00,
військового використання", або від бойових 9027 90 90 00
хімічних речовин
Примітка. Згідно з позицією 1.A.4 контролю
не підлягають:
а) персональні радіаційні моніторингові
дозиметри;
b) обладнання, яке за конструкцією або
функціями призначене тільки для
захисту від токсичних речовин,
специфічних для цивільної
промисловості, такої, як гірнича
справа, роботи в кар'єрах,
сільськогосподарська, фармацевтична,
медична, ветеринарна діяльність,
харчова промисловість, а також для
робіт, пов'язаних із захистом
навколишнього природного середовища та
переробкою відходів.
1.A.5. Засоби захисту тіла і спеціально призначені 6204 29 90 00
[1A005] для них компоненти, виготовлені не за
військовими стандартами або специфікаціями і
не рівноцінні їм у виконанні
Примітки. 1. Згідно з позицією 1.A.5 контролю не
підлягають індивідуальні бронежилети та
пристосування до них, коли вони
знаходяться у своїх користувачів з метою
їх власного захисту.
2. Згідно з позицією 1.A.5 контролю не
підлягають засоби захисту тіла,
призначені тільки для забезпечення
фронтального захисту як від уламків, так
і від вибуху невійськових вибухових
пристроїв.
1.В. ОБЛАДНАННЯ ДЛЯ ВИПРОБУВАННЯ, КОНТРОЛЮ
І ВИРОБНИЦТВА
1.В.1. Обладнання для виробництва волокон,
[1В001] препрегів, преформ чи "композиційних"
матеріалів або виробів, що підлягають
контролю згідно з позиціями 1.A.2 або
1.С.10, наведені нижче, і спеціально
призначені компоненти до нього та допоміжні
пристрої:
1.В.1.а. Машини для намотування волокон, у яких 8446 30 00 00,
переміщення, пов'язані с позиціюванням, з 8448
обволіканням і намотуванням волокон,
координуються та програмуються за трьома або
більше осями, спеціально призначені для
виробництва "композиційних" матеріалів або
ламінатів з "волокнистих або ниткоподібних
матеріалів"
1.В.1.b. Машини для укладання стрічки або троса, в 8446 30 00 00,
яких переміщення, пов'язані з з 8448
позиціюванням і укладанням стрічки, тросів
або листів, координуються та програмуються
за двома або більше осями, спеціально
призначені для виробництва елементів
корпусів бойових ракет або каркаса літаків з
"композиційних" матеріалів
1.В.1.с. Ткацькі машини або машини для плетіння, що 8446 21 00 00,
діють у різних вимірах і напрямках, з 8448
уключаючи адаптери та пристрої для зміни
функцій машин, призначених для ткацтва або
переплетення волокон з метою виготовлення
"композиційних" матеріалів
Примітка. Згідно з позицією 1.В.1.с контролю не
підлягають ткацькі машини, не
модифіковані для зазначеного кінцевого
використання.
1.В.1.d. Обладнання, наведене нижче, спеціально
призначене або пристосоване для виробництва
зміцнених волокон:
1) обладнання для перетворення полімерних з 8456, 8466,
волокон (таких, як поліакрилонітрил, 8515 80 91 00,
віскоза, пек або полікарбоксилан) у 8515 80 99 00,
вуглецеві або карбідокремнієві волокна, 8515 90 00 00
уключаючи спеціальне обладнання для розтягу
волокон у процесі нагрівання;
1.В.1.d. 2) обладнання для осадження парів хімічних 8417 80 20 00,
елементів або складних речовин на нагріту з 8417 90,
ниткоподібну підкладку з метою виробництва 8417 80 80 00
карбідокремнієвих волокон;
3) обладнання для виробництва термостійкої 8445 90 00 00
кераміки методом вологого намотування
(такої, як оксид алюмінію);
4) обладнання для перетворення шляхом з 8451 80,
термооброблення волокон алюмініємістких 8451 90 00 00
прекурсорів у волокна, які містять глинозем
(оксид алюмінію)
1.В.1.е. Обладнання для виробництва препрегів з 8451,
методом гарячого плавлення, які підлягають з 8477 59
контролю згідно з позицією 1.С.10.е
1.В.1.f. Обладнання для неруйнівного контролю, здатне 9022 12 00 00,
виявляти дефекти в трьох вимірах із 9022 13 00 00,
застосуванням методів ультразвукової або 9022 14 00 00,
рентгенівської томографії, спеціально 9022 19 00 00,
створене для "композиційних" матеріалів 9022 29 00 00,
9022 90 90 00,
9031 80 39 10,
9031 80 99 00,
9031 90 90 00
1.В.2. Обладнання для виробництва металевих
[1В002] сплавів, порошкоподібних металевих сплавів
або матеріалів на основі сплавів, спеціально
призначене для уникнення забруднення та
спеціально призначене для використання в
одному з процесів, уключених до позиції
1.С.2.c.2
1.В.3. Робочі інструменти, прес-форми, форми або 8207 30 10 10,
[1В003] пристрої для "надпластичного формування" чи 8207 30 10 90
"дифузійного зварювання" титану або
алюмінію чи їх сплавів, спеціально
призначені для виробництва:
а) каркасів літаків або аерокосмічних
конструкцій;
b) двигунів "літальних апаратів" чи
аерокосмічних апаратів;
с) компонентів, спеціально призначених
для таких конструкцій або двигунів
1.С. МАТЕРІАЛИ
Технічна Метали і сплави.
примітка. Терміни "метали" і "сплави" включають
наведені нижче необроблені та
напівфабрикатні форми:
Необроблені форми:
Аноди, кулі, стрічки (уключаючи рублені та
дротяні стрічки), металеві заготовки, блоки,
сталеві болванки, брикети, бруски, катоди,
кристали, куби, стакани, зерна, гранули,
зливки, брили, котуни, чушки, порошок,
кільця, дріб, сляби, шматки металу
неправильної форми, губка, дроти.
Напівфабрикатні форми (незалежно від того,
чи облицьовані, анодовані, просвердлені або
пресовані вони чи ні):
а) ковані форми або оброблені матеріали,
виготовлені шляхом прокату, волочіння,
гарячої штамповки, кування, імпульсної
штамповки, пресування, дроблення,
розпилення та розмелювання, а саме:
кутики, швелери, кільця, диски, пил,
пластівці, фольга та лист, поковки,
плити, порошок, вироби, оброблені
пресуванням або штампуванням, стрічки,
фланці, прути (уключаючи зварні
брускові прутки, дротяні прути та
прокатаний дріт), профілі, форми,
листи, смужки, труби і трубки
(уключаючи трубні кільця, трубні
прямокутники та пустотілі трубки),
витягнений або екструдований дріт;
b) ливарний матеріал, виготовлений шляхом
лиття в пісковоглинисті форми, кокіль,
металеві, пластикові або інші види
прес-форм, уключаючи лиття під високим
тиском, оболонкові форми та форми,
виготовлені методом порошкової
металургії.
Примітка. Мета контролю не повинна порушуватися під
час експорту форм як закінчених виробів,
не зазначених у цьому списку, але які
фактично є необробленими або
напівфабрикатними формами, що підлягають
контролю.
1.С.1. Матеріали, наведені нижче, спеціально
[1С001] призначені для поглинання електромагнітних
хвиль, або електропровідні полімери:
1.С.1.а. Матеріали для поглинання хвиль на частотах 3815 19 10 00,
понад 2 х 10 (в ступ. 8) Гц, але менше з 3910 00 00
ніж 3 х 10 (в ступ. 12) Гц
Приміт- Згідно з позицією 1.С.1.а контролю
ка 1. не підлягають:
а) абсорбери волосяного типу, виготовлені з
натуральних або синтетичних волокон, з
немагнітним завантаженням для абсорбції;
b) абсорбери, що не мають магнітних втрат,
робоча поверхня яких не є плоскою,
уключаючи піраміди, конуси, клини та
спіралеподібні поверхні;
с) плоскі абсорбери, які мають усі наведені
нижче характеристики:
1) виготовлені з будь-якого з наведеного
нижче матеріалу:
а) пінопластичних матеріалів (гнучких або
негнучких) з вуглецевим наповненням
або органічних матеріалів, уключаючи
в'язкі домішки, які забезпечують
понад 5 відсотків відбиття, порівняно
з металом уздовж ширини смуги,
що перевищує +(-)15 відсотків
середньої частоти падаючої енергії та
не здатні протистояти температурам
понад 450 К (177 град. С);
b) керамічних матеріалів, які
забезпечують понад 20 відсотків
відбиття, порівняно з металом уздовж
ширини смуги, що перевищує
+(-) 15 відсотків середньої частоти
падаючої енергії та не здатних
протистояти температурам понад
800 К (527 град. С).
Технічна Зразки для проведення випробувань на
примітка. поглинання згідно з приміткою 1.с.1.
до позиції 1.С.1.а повинні мати форму
квадрата із стороною не менше ніж п'ять
довжин хвиль середньої частоти і
розміщуватися в дальній зоні
випромінювального елемента.
2) з міцністю при розтягові менше ніж
7 х 10 (в ступ. 6) Н/кв. м; та
3) з міцністю на стиснення менше ніж
14 х 10 (в ступ. 6) Н/кв. м
d) плоскі абсорбери, вироблені із спеченого
фериту, що мають:
1) питому вагу понад 4,4; та
2) максимальну робочу температуру 548 К
(275 град. С).
Приміт- Примітка 1 не звільняє з-під контролю
ка 2. магнітні матеріали, що забезпечують
поглинання хвиль, коли вони містяться у
фарбах.
1.С.1.b. Матеріали для поглинання хвиль на частотах 3815 19 10 00,
понад 1,5 х 10 (в ступ. 14) Гц, але менше 3910 00 00 10,
ніж 3,7 х 10 (в ступ. 14) Гц і не- 3910 00 00 30,
прозорі для видимого світла 3910 00 00 50
1.С.1.с. Електропровідні полімерні матеріали з
об'ємною електропровідністю понад
10000 сіменс/м або поверхневим питомим
опором менше ніж 100 Ом/кв. м вироблені на
основі одного з наведених нижче полімерів:
1) поліанілін 3909 30 00 00
2) поліпірол 3911 90 91 00
3) політіофен 3911 90 93 00
4) поліфенілен-вінілен; або 3911 90 99 00
5) політіенілен-вінілен 3919 90 90 00
Технічна Об'ємна електропровідність та поверхневий
примітка. питомий опір визначаються відповідно до
стандартної методики ASTM D-257 або її
національного еквівалента.
1.С.2. Металеві сплави, порошки для металевих
[1С002] сплавів та сплавлені матеріали, наведені
нижче:
Примітка. Згідно з позицією 1.С.2 контролю не
підлягають металеві сплави, порошки
металевих сплавів або сплавлені матеріали,
призначені для ґрунтувальних покриттів.
Технічна 1. Металеві сплави, зазначені у позиції
примітка. 1.С.2, мають назву тих металів,
ваговий відсоток яких більший, ніж інших
елементів, що входять до складу сплаву.
2. Термін експлуатації до руйнування (межу
тривалої міцності) потрібно визначати
відповідно до стандартної методики ASTM
Е-139 або її національного еквівалента.
3. Показник циклової втоми необхідно
визначати відповідно до стандартної
методики ASTM Е-606 "Рекомендація з
тестування на циклову втому при постійній
амплітуді" або її національного
еквівалента. Тестування потрібно
проводити за напрямком осі при середньому
значенні показника напруги, що дорівнює
одиниці, та коефіцієнті концентрації
напруги (Kt), що дорівнює одиниці.
Середня напруга дорівнює різниці
максимальної та мінімальної напруги,
поділеній на максимальну напругу.
1.С.2.а. Алюмініди, наведені нижче: 7502 20 00 00
1) нікелеві алюмініди, що містять
мінімально 15 вагових відсотків, максимально
38 вагових відсотків алюмінію та принаймні
один додатковий елемент легування;
2) титанові алюмініди, що містять 10 або 8108 10 10 00
більше вагових відсотків алюмінію та
принаймні один додатковий елемент легування
1.C.2.b. Металеві сплави, наведені нижче, вироблені
з матеріалів, які підлягають контролю згідно
з позицією 1.С.2.c:
1) нікелеві сплави з: 7502 20 00 00
a) терміном експлуатації до руйнування
10000 годин або більше з
навантаженням 676 МПа при температурі
923 К (650 град. С); або
b) низьким показником циклової втоми
10000 циклів випробувань або більше з
навантаженням 1095 МПа при температурі
823 К (550 град. С);
2) ніобієві сплави з: 8112 91 31 00,
a) терміном експлуатації до руйнування 8112 99 30 00
10000 годин або більше з
навантаженням 400 МПа при температурі
1073 К (800 град. С); або
b) низьким показником циклової втоми
10000 циклів випробувань або більше з
навантаженням 700 МПа при температурі
973 К (700 град. С);
1.C.2.b. 3) титанові сплави з: 8108 10 10 00
a) терміном експлуатації до руйнування
10000 годин або більше з навантаженням
200 МПа при температурі 723 К
(450 град. С); або
b) низьким показником циклової втоми
10000 циклів випробувань або більше з
навантаженням 400 МПа при температурі
723 К (450 град. С);
4) алюмінієві сплави з межею міцності при
розтягові: з 7601 20,
a) 240 МПа або більше при температурі 7604 29 10 00,
473 К (200 град. С); чи 7608 20 91 00,
b) 415 МПа або більше при температурі 7608 20 99 00
298 К (25 град. С);
5) магнієві сплави з: з 8104
a) межею міцності при розтягові 345 МПа
або більше; та
b) швидкістю корозії менше ніж 1 мм на
рік у 3-відсотковому водному розчині
хлориду натрію, виміряної відповідно
до стандартної методики ASTM G-31 або
її національного еквівалента
1.С.2.c. Порошки металевих сплавів або частинки
матеріалів, які мають усі наведені нижче
характеристики:
1) виготовлені з будь-якої наведеної нижче
композиції:
Технічна X - відповідає одному або більше елементам,
примітка. що входять до складу сплаву.
а) нікелеві сплави (Ni-Al-X, Ni-X-Al), 7504 00 00 00
призначені для використання у складі
частин чи компонентів турбін
двигунів, тобто менше ніж з трьома
неметалевими частками (введеними у
процесі виготовлення), більшими ніж
100 мкм в 10 (в ступ. 9) частках
сплаву;
b) ніобієві сплави (Nb-Al-X або 8112 91 31 00,
Nb-X-Al, Nb-Si-X або Nb-X-Si, Nb-Тi-X 8112 99 30 00
або Nb-X-Ti);
с) титанові сплави (Ti-Al-X або Тi-X-Al); 8108 10 10 00
d) алюмінієві сплави (Al-Mg-X або з 7603
Al-X-Mg, Al-Zn-X або Al-X-Zn, Al-Fe-X
або Al-X-Fe); або
е) магнієві сплави (Mg-Al-X або Mg-X-Al); 8104 30 00 00
та
2) виготовлені у контрольованому середовищі
за допомогою будь-якого з наведених нижче
процесів:
а) "вакуумне розпилення";
b) "газове розпилення";
с) "відцентрове розпилення";
d) "охолодження розбризкуванням";
e) "спінінгування розплаву" та
"подрібнення";
f) "екстракція розплаву" та
"подрібнення"; або
g) "механічне легування";
3) придатні до формування матеріалів, що
підлягають контролю згідно з позиціями
1.C.2.a або 1.C.2.b
1.С.2.d. Сплавлені матеріали, які мають усі наведені 7504 00 00 00,
нижче характеристики: 7505 12 00 00,
1) виготовлені з будь-яких композиційних 7603 20 00 00,
систем, зазначених у позиції 1.C.2.c.1; 7604 29 10 00,
2) у вигляді неподрібнених гранул, стружки з 8104,
або тонких стержнів; та 8108, 8112
3) виготовлені у контрольованому середовищі
одним з наведених нижче методів:
а) "різкого охолодження";
b) "спінінгування розплаву";
c) "екстракції розплаву"
1.С.3. Магнітні метали всіх типів та будь-якої
[1С003] форми, що мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
1.С.3.а. Початкова відносна магнітна проникність 8505 11 00 00,
120000 або більше і завтовшки 0,05 мм або 8505 19,
менше 8505 19 10 00,
8505 19 90 00
Технічна Вимірювання початкової відносної магнітної
примітка. проникності повинне здійснюватися на
повністю відпалених матеріалах.
1.С.3.b. Магнітострикційні сплави, які мають 7206 90 00 00
будь-яку з наведених нижче характеристик:
1) магнітострикційне насичення більше ніж
5 х 10 (в ступ. -4);
2) коефіцієнт магнітомеханічного зчеплення
більше ніж 0,8
1.С.3.с. Аморфна або нанокристалічна стружка сплаву, з 7206,
яка має усі наведені нижче характеристики: 7504 00 00 00,
1) склад мінімум 75 вагових відсотків з 8105
заліза, кобальту або нікелю;
2) магнітну індукцію насичення (Bs) - 1,6 Т
або більше; та
3) одну з наведених нижче характеристик:
а) товщину стружки 0,02 мм або менше; або
b) питомий електричний опір
2 х 10 (в ступ. -4) Ом/см або більше
Технічна Нанокристалічні матеріали, зазначені у
примітка. позиції 1.С.3.с, - це матеріали, що мають
кристалічні зерна розміром 50 нм або менше
і визначаються дифракцією X - променів.
1.С.4. Ураново-титанові сплави або вольфрамові 2844 10 10 00,
[1С004] сплави з "матрицею" на основі заліза, 8108 10 10 00,
нікелю або міді, які мають усі наведені 8101 99 00 00
нижче характеристики:
а) густину більше ніж
17,5 г/см (в ступ. 3);
b) межу пружності більше ніж 880 МПа;
с) межу міцності на розрив більше ніж
1270 МПа;
d) відносне подовження понад 8 відсотків
1.С.5. "Надпровідні" "композиційні" провідники
[1С005] завдовжки понад 100 м або масою більше ніж
100 г, наведені нижче:
1.С.5.а. Багатожильні "надпровідні" "композиційні" 8112 99 30 00,
провідники, що містять одну або більше 8544 19 90 00
ніобієво-титанових ниток:
1) укладені у "матрицю", іншу, ніж мідні
матриці або комбіновані "матриці" з мідною
основою; або
2) мають площу поперечного перерізу
меншу ніж 0,28 х 10 (в ступ. -4)
мм (в ступ. 2) (6 мкм у діаметрі з круглим
перерізом нитки)
1.С.5.b. "Надпровідні" "композиційні" провідники, 8544 19 90 00
які містять одну або більше "надпровідних"
ниток не з ніобій-титану і мають усі
наведені нижче характеристики:
1) "критична температура" при нульовій
магнітній індукції понад 9,85 К
(-263,31 град. С), але менше ніж 24 К
(249,16 град. С);
2) площа поперечного перерізу менше ніж
0,28 х 10 (в ступ. -4) мм (в ступ. 2);
3) залишаються у стані "надпровідності" при
температурі 4,2 К (-268,96 град. С) у
разі перебування у магнітному полі з
магнітною індукцією 12 Т
1.С.6. Рідини та мастильні матеріали, наведені
[1С006] нижче:
1.С.6.а. Гідравлічні рідини, що містять як основні
складові компоненти будь-які з наведених
нижче речовин або матеріалів:
1) синтетичні вуглеводні мастила або 3819 00 00 00,
кремнієво-вуглеводні мастила, що мають усі 2909 19 00 10,
наведені нижче характеристики: з 3910 00 00
Технічна Для матеріалів, зазначених у позиції
примітка. 1.С.6.а.1, кремнієво-вуглеводні мастила
містять виключно кремній, водень та
вуглець.
а) температура займання понад 477 К
(204 град. С);
b) температура застигання 239 К
(-34 град. С) або менше;
с) коефіцієнт в'язкості 75 або більше; та
d) термостабільність при 616 К
(343 град. C); або
2) хлорфторвуглецеві матеріали, які мають 3824 71 00 00,
усі наведені нижче характеристики: 3819 00 00 00,
з 2812, 2826
Технічна Для матеріалів, зазначених у позиції
примітка. 1.С.6.а.2, хлорфтореуглеці містять
виключно хлор, фтор і вуглець.
а) без температури займання;
b) температура самозаймання понад 977 К
(704 град. С);
с) температура застигання 219 К
(-54 град. С) або менше;
d) коефіцієнт в'язкості 80 або більше;
е) температура кипіння 473 К
(200 град. С) або вище
1.С.6.b. Мастильні матеріали, що містять як їх
основні складові, так і будь-яку з
наведених нижче речовин або матеріалів:
1) феніленові або алкілфеніленові ефіри, 2909 30 90 00,
тіоефіри або їх суміші, які містять більше 2930 90 30 00
ніж дві ефірні або тіоефірні функції або їх
суміші;
2) фторовані рідини, що містять кремній і з 3910 00 00
мають кінематичну в'язкість меншу ніж 5000
мм (в ступ. 2)/с (5000 сантистоксів) при
температурі 298 К (25 град. С)
1.С.6.с. Зволожувальні або флотувальні рідини з
показником чистоти понад 99,8 відсотка,
які містять менше ніж 25 часток розміром
200 мкм і більше на 100 мл об'єму і
виготовлені, принаймні, на 85 відсотків з
будь-яких наведених нижче речовин або
матеріалів:
1) дібромтетрафторетан; 2903 46 90 00
2) поліхлортрифторетилен (лише маслянисті 3904 69 10 00,
та воскоподібні модифікації); 3904 69 90 00
3) полібромтрифторетилен 3904 69 10 00,
3904 69 90 00
1.С.6.d. Фторвуглецеві охолодні рідини для 3824 90 75 00
електроніки, що мають усі наведені нижче
характеристики:
1) містять 85 вагових відсотків або більше
однієї з наведених нижче речовин чи
суміші з них:
а) мономерні форми перфторполіалкілефір-
триазинів або перфтораліфатичних
ефірів;
b) перфторалкіламіни;
с) перфторциклоалкани;
d) перфторалкани;
2) густина 1,5 г/мл або більше при 298 К
(25 град. С);
3) рідкий стан при 273 К (0 град. С);
4) мають 60 вагових відсотків або більше
фтору
Технічна Для матеріалів наведених у позиції 1.С.6:
примітка. а) температура займання визначається з
використанням методу Клівлендської
відкритої чаші, описаного у
стандартній методиці ASTM D-92 або в
її національному еквіваленті;
b) температура застигання визначається з
використанням методу, описаного у
стандартній методиці ASTM D-97, або в
її національному еквіваленті;
с) коефіцієнт в'язкості визначається з
використанням методу, описаного у
стандартній методиці ASTM D-2270, або
в її національному еквіваленті;
d) термостабільність визначається за
наведеною нижче методикою випробувань
або в її національному еквіваленті:
20 мл випробуваної рідини заливають
у камеру об'ємом 46 мл з
корозійностійкої сталі марки 317, що
містить шари номінального діаметра
12,5 мм з інструментальної сталі
марки М-10, сталі марки 52100 та
корабельної бронзи (60 відсотків Cu,
39 відсотків Zn, 0,75 відсотків Sn);
камера, продута азотом,
загерметизована під тиском, що
дорівнює атмосферному, при
температурі, підвищеній до
644 +(-) 6 К (371 +(-) 6 град. С) і
витриманій на цьому рівні 6 годин;
зразок вважається термостабільним,
якщо після закінчення зазначеної
процедури виконуються усі наведені
нижче умови:
1) втрата ваги кожного шару менше
ніж 10 мг/мм (в ступ. 2) його
поверхні;
2) зміна початкової в'язкості,
визначеної при 311 К (38 град. С),
менше ніж 25 відсотків;
3) загальне кислотне або базове число
менше ніж 0,40;
е) температура самозаймання визначається
методом, описаним у стандартній
методиці ASTM Е-659 або в її
національному еквіваленті.
1.С.7. Матеріали на керамічній основі,
[1С007] не-"композиційні" керамічні матеріали,
матеріали типу "композит" з керамічною
"матрицею", а також їх напівфабрикати,
наведені нижче:
1.С.7.а. Основні матеріали з простих або складних 2850 00 90 00
боридів титану, які містять металеві
домішки, крім навмисних домішок, на рівні
менше ніж 5000 частинок на мільйон при
середньому розмірі частинки, що дорівнює або
менше ніж 5 мкм, при цьому не більше ніж
10 відсотків частинок з розміром понад
10 мкм
1.С.7.b. Не-"композиційні" керамічні матеріали у 2850 00 90 00
формі сирих або напівфабрикатів на основі
боридів титану з густиною 98 відсотків або
більше теоретичної густини
Примітка. Згідно з позицією 1.С.7.b. контролю не
підлягають абразиви.
1.С.7.с. "Композиційні" матеріали типу з 2849,
кераміка-кераміка із скляною або оксидною з 2850 00,
"матрицею" та армовані волокнами, 8803 90 10 00
які мають усі наведені нижче характеристики:
1) виготовлені з будь-якого наведеного нижче з 9306 90
матеріалу:
a) Si-N;
b) Si-C;
c) Si-Al-O-N;
d) Si-O-N; та
2) мають питому межу міцності при
розтягові понад 12,7 х 10 (в ступ. 3) м
1.С.7.d. "Композиційні" матеріали типу 8803 90 10 00,
кераміка-кераміка з однорідної металевої з 9306 90
фази або без неї, що включає частинки, вуса
(ниткоподібні монокристали) або волокна, в
яких "матриця" сформована з карбідів або
нітридів кремнію, цирконію або бору
1.С.7.e. Початкові матеріали (тобто полімерні або з 3910 00 00
металоорганічні спеціального призначення)
для виробництва будь-якої фази або фаз
матеріалів, що підлягають контролю за
позицією 1.С.7.с, наведені нижче:
1) полідіорганосилани (для виробництва
карбіду кремнію);
2) полісилазани (для виробництва нітриду
кремнію);
3) полікарбосилазани (для виробництва
кераміки з кремнієвими, вуглецевими та
азотними компонентами)
1.С.7.f. "Композиційні" матеріали кераміка-кераміка з 6903,
з оксидною або скляною "матрицею", 6914 90 90 00
армованою однорідними волокнами будь-якої з
наведених нижче систем:
1) Al(2)O(3);
2) Si-C-N
Примітка. Згідно з позицією 1.С.7.f контролю не
підлягають "композити", що мають волокна з
цих систем з межею міцності при розтягові
менше ніж 700 МПа при 1273 К (1000 град. С)
або опору повзучості розриву волокон понад
1 відсоток напруги повзучості при
навантаженні 100 МПа та 1273 К
(1000 град. С) протягом 100 годин.
1.С.8. Полімерні речовини, що не містять фтор,
[1С008] наведені нижче:
1.С.8.а. 1) бісмалеіміди; 2925 19 30 00,
2) ароматичні поліамідіміди; 2925 19 80 00,
3) ароматичні полііміди; 3908 90 00 00,
4) ароматичні поліефіріміди, які мають 3909 30 00 00,
температуру переходу в склоподібний стан 3907 20 91 00,
(Tg) понад 513 К (240 град. С), виміряну 3907 91 90 00
сухим методом, описаним у стандартній
методиці ASTM D 3418
Примітка. Згідно з позицією 1.С.8.а контролю не
підлягають неплавкі порошки для
формоутворення під тиском або фасованих
форм.
1.С.8.b. Термопластичні рідкокристалічні сополімери, 3907 91 90 00
які мають температуру теплової деформації
понад 523 К (250 град. С), виміряну
відповідно до стандартної методики
ASTM D 648, метод A, або її національного
еквівалента під час навантаження
1,82 Н/мм (в ступ. 2), і утворені
сполученням:
1.С.8.b. 1) будь-яким з наведених нижче:
а) фенілену, біфенілену або нафталену;
b) метилу, третинного бутилу або
феніл-заміщеного фенілену, біфенілену
або нафталену; та
2) будь-якою з наведених нижче кислот:
а) терефтальовою;
b) 6-гідрокси-2 нафтіоновою; або
с) 4-гідроксибензойною
1.С.8.с. Поліариленові ефірні кетони, наведені нижче:
1) поліефіроефірокетон (PEEK) 3907 91 90 00
2) поліефірокетон-кетон (PEEK) 3907 91 90 00
3) поліефірокетон (PEK) 3907 91 90 00
4) поліефірокетон ефірокетон-кетон (PEKEKK) 3907 91 90 00
1.С.8.d. Поліариленові кетони з 3907 99
1.С.8.е. Поліариленові сульфіди, де ариленова група є з 3911 90
біфеніленом, трифеніленом, або їх
комбінації
1.С.8.f. Полібіфеніленефірсульфон з 3911 90
Технічна Температура переходу до склоподібного стану
примітка. (Tg) для матеріалів, зазначених у позиції
1.С.8, визначається з використанням методу,
описаного в стандартній методиці ASTM
D 3418, яка передбачає застосовуння
сухого методу.
1.С.9. Необроблені сполуки, що містять фтор,
[1С009] наведені нижче:
1.С.9.а. Сополімери вініліденфториду, які містять 75 3904 69 10 00,
відсотків або більше бета-кристалічної 3904 60 90 00
структури, одержаної без витягування
1.С.9.b. Фтористі поліаміди, які містять 10 вагових 3904 69 10 00,
відсотків або більше "зв'язаного" фтору 3904 60 90 00
1.С.9.с. Фтористі фосфазинові еластомери, які містять 3904 69 10 00,
30 вагових відсотків або більше "зв'язаного" 3904 60 90 00
фтору
1.С.10. "Волокнисті або ниткоподібні матеріали", що
[1С010] можуть бути використані в органічних
"матрицях", металевих "матрицях" або
вуглецевих "матрицях", "композиційних" або
багатошарових структурах:
1.С.10.а. Органічні "волокнисті або ниткоподібні 3926 90 10 00
матеріали", що мають усі наведені нижче
властивості:
1) питомий модуль пружності
понад 12,7 х 10 (в ступ. 6) м;
2) питома межа міцності при розтягові понад
23,5 х 10 (в ступ. 4) м
Примітка. Згідно з позицією 1.С.10.а контролю не
підлягає поліетилен.
1.С.10.b. Вуглецеві "волокнисті або ниткоподібні з 3801,
матеріали", які мають усі наведені нижче 3926 90 10 00
характеристики:
1) питомий модуль пружності понад
12,7 х 10 (в ступ. 6) м;
2) питома межа міцності при розтягові 5402 10 10 00,
понад 23,5 х 10 (в ступ. 4) м 5404 90 90 00,
6815 10 10 00,
6903 10 00 00
Технічна Властивості матеріалів, описаних у позиції
примітка. 1.С.10.b, повинні визначатися за методами
SRM 12-17, рекомендованими Асоціацією
постачальників перспективних "композиційних"
матеріалів (SACMA) або їх національними
еквівалентами випробувань на розтяг,
наприклад, японський промисловий стандарт
JIS-R-7601, параграф 6.6.2, які ґрунтуються
на середній якості партії.
Примітка. Згідно з позицією 1.С.10.b контролю не
підлягають тканини, виготовлені з
"волокнистих або ниткоподібних матеріалів"
для відновлення авіаційних або багатошарових
матеріалів, розмір окремих листів яких не
перевищує 50 х 90 см.
1.С.10.с. Неорганічні "волокнисті або ниткоподібні 3926 90 10 00,
матеріали", які мають усі наведені нижче 8101 92 00 00,
характеристики: 8108 90 30 00,
1) питомий модуль пружності понад 8108 90 70 00
2,54 х 10 (в ступ. 6) м;
2) температура плавлення, розм'якшування,
розкладу або сублімації понад 1922 К
(1649 град. С) в інертному середовищі
Примітка. Згідно з позицією 1.С.10.с контролю не
підлягають:
1) неоднорідні, багатофазні, полікристалічні
волокна оксиду алюмінію у вигляді
переривного волокна або в довільній
сплутаній формі, що мають 3 або більше
вагових відсотків оксиду алюмінію
з питомим модулем пружності менше ніж
10 х 10 (в ступ. 6) м;
2) волокна молібденові або з молібденових
сплавів;
3) волокна на основі бору;
4) неоднорідні керамічні волокна з
температурами плавлення, розм'якшення,
розкладу та сублімації нижче 2043 К
(1770 град. С) в інертному середовищі.
1.С.10.d. "Волокнисті або ниткоподібні матеріали": 5402 49 99 00,
1) які мають будь-яку з наведених нижче 5501 90 10 00,
складових: 5501 90 90 00,
а) поліефіріміди, що підлягають контролю 5503 90 90 00
згідно з позицією 1.С.8.а;
b) матеріали, що підлягають контролю
згідно з позиціями 1.С.8.b - 1.C.8.f;
або
2) які виготовляються з матеріалів, що
підлягають контролю згідно з позиціями
1.С.10.d.1.а або 1.С.10.d.1.b та
"сплутані" з іншими волокнами, що підлягають
контролю згідно з позиціями 1.С.10.а,
1.С.10.b або 1.С.10.с
1.С.10.е. Волокна, насичені смолою або пеком 6815 10 10 00,
(препреги), металеві або покриті вуглецем 6815 99 90 00,
волокна ("преформи") або "преформи 6903 10 00 00,
вуглецевого волокна", наведені нижче: з 7019 11 00,
1) виготовлені з "волокнистих або з 7019 10,
ниткоподібних матеріалів", що підлягають з 7019 20
контролю згідно з позиціями 1.С.10.а,
1.С.10.b або 1.С.10.с;
2) виготовлені з органічних або вуглецевих
"волокнистих або ниткоподібних матеріалів":
а) з питомою межею міцності
при розтягові понад
17,7 х 10 (в ступ. 4) м;
b) з питомим модулем пружності понад
10,15 х 10 (в ступ. 6) м;
с) які не підлягають контролю згідно з
позиціями 1.С.10.а або 1.С.10.b;
d) які насичені матеріалами, що
підлягають контролю згідно з позиціями
1.С.8 або 1.С.9.b і мають температуру
переходу до склоподібного стану (Tg)
понад 383 К (110 град. С), або з
фенольною чи епоксидною смолами, які
мають Tg, що дорівнює або перевищує
418 К (145 град. С)
Примітки. Згідно з позицією 1.С.10.е контролю не
підлягають:
1) вуглецеві "волокнисті або ниткоподібні
матеріали", насичені "матрицею"
епоксидної смоли (препреги) для
відновлення авіаційних або багатошарових
матеріалів, в яких розмір окремих листів
препрега не перевищує 50 х 90 см;
2) препреги, насичені фенольною або
епоксидною смолами, які мають Tg нижче
433 К (160 град. С) та температуру
твердіння нижче Tg.
Технічна Температура переходу до склоподібного стану
примітка. (Tg) для матеріалів, що підлягають контролю
згідно з позицією 1.С.10.е, визначається
методом, описаним в ASTM D 3418, із
застосуванням сухого методу. Tg для
фенольних та епоксидних смол визначається за
допомогою методу, описаного в ASTM D 4065,
при частоті 1 Гц та швидкості нагрівання
2 К (град. С) за хвилину із застосуванням
сухого методу.
Технічні 1. Питомий модуль пружності: модуль Юнга в
примітки. Па або в Н/м (в ступ.2 ), поділений на
питому вагу в Н/м (в ступ. 3), виміряний
при температурі (296 +(-) 2) К
[(23 +(-) 2) град. С] та відносній
вологості (50 +(-) 5) відсотків.
2. Питома межа міцності при розтягові:
найбільша межа міцності до розриву,
виражена в Па або в Н/м ( в ступ. 2),
поділена на питому вагу в
Н/м (в ступ. 3), виміряна при температурі
(296 +(-) 2) К [(23 +(-) 2) град. С] та
відносній вологості (50 +(-) 5)
відсотків.
1.С.11. Метали та сполуки, наведені нижче:
[1С011]
1.С.11.а. Метали з розміром часток менше ніж 60 мкм, 8104 30 00 00,
які мають сферичну, розпилену, сфероїдальну, 8109 10 10 00
розшаровану або молоту форму, виготовлені з
матеріалу, що на 99 відсотків або більше
складається з цирконію, магнію або сплавів з
них
Технічна Природний вміст гафнію в цирконії (типово
примітка. від 2 до 7 відсотків) підраховується з
цирконієм.
Примітка. Метали або сплави, зазначені в позиції
1.С.11.а, підлягають контролю згідно
з цією позицією незалежно від того, вміщені
ці метали або сплави в капсули алюмінію,
магнію, цирконію або берилію чи ні.
1.С.11.b. Бор або карбід бору чистотою 85 відсотків 2804 50 10 00,
або вище та розміром часток 60 мкм або 2849 90 10 00
менше
Примітка. Метали або сплави, зазначені в позиції
1.С.11.b, підлягають контролю згідно з
цією позицією незалежно від того, вміщені ці
метали або сплави в капсули алюмінію,
магнію, цирконію або берилію чи ні.
1.С.11.с. Нітрат гуанідину 2825 10 00 00,
1.C.11.d. Нітрогуанідин (NQ) (CAS 556-88-7) 2834 29 90 00,
2904 20 90 00
*1.С.12. Матеріали, наведені нижче:
[1С012]
Технічна Ці матеріали типово використовуються для
примітка. ядерних джерел теплоти.
1.С.12.а. Плутоній у будь-якому вигляді із вмістом 2844 20 51 00,
ізотопу плутонію-238 більшим ніж 50 вагових 2844 20 59 00,
відсотків 2844 20 81 00,
2844 20 89 00
Примітка. Згідно з позицією 1.С.12.а контролю не
підлягають:
1) передача одного грама або менше плутонію;
2) передача трьох або менше "ефективних
грамів", що використовуються як чутливі
елементи в приладах.
1.С.12.b. "Попередньо розподілений" нептуній-237 у з 2844 40
будь-якому вигляді
Примітка. Згідно з позицією 1.С.12.b контролю не
підлягає передача одного грама або
менше нептунію-237.
1.D. ПРОГРАМНЕ ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ
1.D.1. "Програмне забезпечення", спеціально
[1D001] призначене або модифіковане для
"розроблення", "виробництва" або
"використання" обладнання, що підлягає
контролю за позицією 1.В
1.D.2. "Програмне забезпечення" для "розроблення"
[1D002] органічної "матриці", металевої "матриці"
або вуглецевої "матриці", "композиційних"
або багатошарових структур
1.Е. ТЕХНОЛОГІЯ
*1.Е.1. "Технологія" відповідно до позиції 3 з 3705,
[1Е001] загальних приміток для "розроблення" або з 3706, 8524,
"виробництва" обладнання або матеріалів, які 4901 99 00 00,
підлягають контролю згідно з позиціями 4906 00 00 00
1.A.1.b, 1.A.1.с, 1.A.2 - 1.A.5, 1.В або 1.С
1.Е.2. Інші "технології", наведені нижче:
[1Е002]
1.Е.2.а. "Технологія" для "розроблення" або
"виробництва" полібензотіазолів або
полібензоксазолів
1.Е.2.b. "Технологія" для "розроблення" або
"виробництва" сполук фтореластомерів, що
містять, принаймні, один мономер вінілефіру
1.Е.2.с. "Технологія" для "розроблення" або
"виробництва" наведених нижче матеріалів для
основ або не-"композиційних" керамічних
матеріалів:
1) матеріали основи, що мають усі наведені
нижче характеристики:
а) будь-яка з наведених нижче композицій:
1) простих або комплексних оксидів
цирконію і комплексних оксидів кремнію
або алюмінію;
2) простих нітридів бору (з кубічними
формами кристалів);
3) простих або комплексних карбідів
кремнію або бору;
4) простих або комплексних нітридів
кремнію;
b) сумарний вміст металевих домішок за
винятком тих, які вносяться навмисно:
1) менше ніж 1000 часток на мільйон для
простих оксидів або карбідів; або
2) менше ніж 5000 часток на мільйон для
комплексних сполук або простих
нітридів; та
1.E.2.c.1. c) будь-що з наведеного нижче:
1) цирконій із середнім розміром часток,
що дорівнює або менше ніж 1 мкм, при
цьому, не більше ніж 10 відсотків
часток з розмірами більше ніж 5 мкм;
2) інші основні матеріали із середнім
розміром часток, що дорівнює або менше
ніж 5 мкм, при цьому, не більше ніж
10 відсотків часток з розміром більше
ніж 10 мкм; або
3) які мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
a) пластинки з відношенням довжини до
товщини, що для діаметрів менше ніж
2 мкм перевищує 10;
b) ниткоподібні монокристали з
відношенням довжини до діаметра, що
для діаметрів менше ніж 2 мкм
перевищує 10; та
c) непереривчасті або переривчасті
волокна з діаметром менше ніж 10 мкм;
2) не-"композиційні" керамічні матеріали,
що складаються з матеріалів, описаних
у позиції 1.E.2.c.1
Примітка. Згідно з позицією 1.E.2.c.1 контролю не
підлягає технологія розроблення або
виробництва абразивів.
1.E.2.d. "Технологія" для "виробництва" ароматичних
поліамідних волокон
1.E.2.e. "Технологія" для складання, обслуговування
та відновлення матеріалів, що підлягають
контролю згідно з позицією 1.C.1
1.E.2.f. "Технологія" для відновлення
"композиційних", багатошарових структур або
матеріалів, які підлягають контролю згідно
з позиціями 1.A.2, 1.C.7.c або 1.C.7.d
Примітка. Згідно з позицією 1.E.2.f контролю не
підлягає "технологія" ремонту матеріалів для
"цивільних літальних апаратів", під час
якого використовуються вуглецеві "волокнисті
або ниткоподібні матеріали" та епоксидні
смоли, описані в посібниках виробників
авіатехніки.
----------------------------------------------------------------------
Розділ 2. ОБРОБЛЕННЯ МАТЕРІАЛІВ
----------------------------------------------------------------------
Номер | Найменування | Код товару
позиції | | згідно з
| | УКТ ЗЕД
----------------------------------------------------------------------
2. ОБРОБЛЕННЯ МАТЕРІАЛІВ
2.A. СИСТЕМИ, ОБЛАДНАННЯ І КОМПОНЕНТИ
Особлива Підшипники плавного ходу визначені у
примітка. позиції ML9 Списку товарів військового
призначення, міжнародні передачі яких
підлягають державному контролю,
затвердженому постановою Кабінету Міністрів
України від 8 грудня 1997 р. N 1358
( 1358-97-п ) (1358-97-п) .
2.A.1. Антифрикційні підшипники, системи
[2A001] підшипників та їх компоненти, наведені
нижче:
Примітка. Згідно з позицією 2.A.1 контролю не
підлягають шарикопідшипники з допусками на
шарики, встановленими виробниками відповідно
до міжнародного стандарту ISO 3290, класу 5
або нижче.
2.A.1.a. Шарикові та твердороликові підшипники, які 8482 10 90 00,
мають допуски, що встановлюються виробником 8482 50 00 00
відповідно до міжнародного стандарту ISO 492
класу допуску 4 (або ANSI/ABMA Std 20 класу
допуску ABEC-7 чи RBEC-7, інших національних
еквівалентів) або вище, і мають кільця,
шарики або ролики, виготовлені з
мідно-нікелевого сплаву чи з берилію
Примітка. Згідно з позицією 2.A.1.a контролю не
підлягають конічні роликові підшипники.
2.A.1.b. Інші шарикові та твердороликові підшипники, 8482 80 00 00
які мають допуски, установлені виробником
відповідно до міжнародного стандарту ISO 492
класу допуску 2 (або ANSI/ABMA Std 20 класу
допуску ABEC-9 чи RBEC-9, інших національних
еквівалентів) або вище
Примітка. Згідно з позицією 2.A.1.b контролю не
підлягають конічні роликові підшипники.
2.A.1.c. Активні магнітні підшипникові системи, які 8483 30 10 00,
мають одну із зазначених нижче складових: 8483 30 90 00
1) матеріали з магнітною індукцією 2 Т або
більше і межею плинності понад 414 МПа;
2) оснащені електромагнітним пристроєм для
приводу з тримірним уніполярним
високочастотним підмагнічуванням;
3) високотемпературні позиційні датчики,
450 К (177 град. C) і більше
2.В. ОБЛАДНАННЯ ДЛЯ ВИПРОБУВАННЯ, КОНТРОЛЮ
І ВИРОБНИЦТВА
Технічні 1. Вторинні паралельні контурні осі (осі
примітки. оброблення) (наприклад, W-осьова фреза
горизонтальної розточки або вторинна вісь
обертання, центрова лінія якої паралельна
головній осі обертання) не входять у
загальну чисельність контурних осей. Осі
обертання необов'язково передбачають
поворот на кут більший ніж 360 град.
Вісь обертання може мати привід
лінійного переміщення (наприклад, гвинтом
або зубчастою шестернею).
2. У позиції 2B кількість осей, які можуть
бути одночасно скоординовані для
"контурного керування" означає кількість
осей, які впливають на відносний рух
будь-якої заготовки та інструменту,
різальної головки або шліфувального
круга, що зрізають або видаляють матеріал
із заготовки. Це не включає будь-які
додаткові осі, які впливають на інший
відносний рух у верстаті. Такі осі
включають:
а) системи правки круга в шліфувальних
верстатах;
b) паралельні осі обертання, призначені
для кріплення окремих заготовок;
c) колінеарні осі обертання, призначені
для маніпулювання тією ж заготовкою за
рахунок утримання її в патроні з
різних кінців.
3. Номенклатура осі визначається відповідно
до міжнародних стандартів ISO 841:
"Верстати з числовим керуванням -
номенклатура осей і різновидів рухів".
4. Для цього розділу "нахильні шпинделі"
розглядаються як осі обертання.
5. Замість індивідуальних протоколів
випробувань для кожної моделі верстата
можуть бути застосовані гарантовані рівні
точності позиціонування, одержані шляхом
вимірів, зроблених відповідно до
міжнародного стандарту ISO 230/2 (1997)
або його національних еквівалентів.
Гарантована точність позиціонування
означає величину точності, про яку
повідомляють національні ліцензійні
органи, як міру точності для моделі
верстата.
Визначення гарантованих величин:
а) виберіть п'ять верстатів окремої
моделі, що поввинна бути оцінена;
b) проведіть вимірювання величин точності
для лінійних осей віповідно до
міжнародного стандарту ISO 230/2
(1997);
c) визначте величину A для кожної осі
кожного верстата. Метод обчислення
величини A описано у стандарті ISO;
d) визначте гарантовану величину для
кожної осі для окремої моделі
(Ax, Ay...);
e) оскільки у списку в розділі 2
робиться посилання на кожну лінійну
вісь, у ньому повинно бути стільки
гарантованих величин точності, скільки
є лінійних осей;
f) якщо будь-яка з осей моделей верстата,
що не підлягає контролю згідно з
позиціями 2.В.1.а - 2.В.1.с, має
гарантовану величину точності A, що
дорівнює 5 мкм для шліфувальних
верстатів і 6,5 мкм для фрезерних та
токарних верстатів або менше, виробник
повинен підтверджувати повторно рівень
точності кожні вісім місяців.
2.B.1. Верстати, наведені нижче, та будь-які їх
[2B001] модифікації (комбінації) для розрубування
або різання металів, кераміки і
"композиційних" матеріалів, які відповідно
до технічних специфікацій виробника можуть
бути оснащені електронними пристроями для
"числового керування":
Примітки. 1. Згідно з позицією 2.B.1 контролю не
підлягають верстати спеціального
призначення, застосування яких обмежено
виготовленням шестерень. Для таких
верстатів застосовується позиція 2.B.3.
2. Згідно з позицією 2.B.1 контролю не
підлягають верстати спеціального
призначення, застосування яких обмежене
виготовленням будь-яких наведених нижче
частин:
a) колінчасті вали або кулачкові вали;
b) інструменти або різці;
c) черв'яки екструдерів;
d) гравійовані або із скошеними
поверхнями деталі ювелірних виробів.
2.B.1.a. Токарні верстати, що мають усі наведені з 8458,
нижче характеристики: з 8464 90,
1) точність позиціювання вздовж будь-якої 8465 99 10 00
лінійної осі з "усіма доступними
компенсаціями" дорівнює або менше (краще)
ніж 4,5 мкм відповідно до ISO 230/2
(1997) або його національного
еквівалента;
2) дві або більше осі, які можуть бути
одночасно задані для "контурного
керування"
Примітка. Згідно з позицією 2.B.1.a контролю не
підлягають токарні верстати, спеціально
розроблені для виробництва контактних лінз.
2.B.1.b. Фрезерні верстати, що мають будь-яку із 8459 31 00 00,
зазначених нижче характеристик: 8459 39 00 00,
1) мають усі зазначені нижче характеристики: 8459 51 00 00,
a) точність позиціювання вздовж будь-якої 8459 61,
лінійної осі з "усіма доступними 8459 69,
компенсаціями" дорівнює або менше 8464,
(краще) ніж 4,5 мкм відповідно до 8465 92 00 00
ISO 230/2 (1997) або його
національного еквівалента;
b) три лінійні осі плюс одна вісь
обертання, які можуть бути одночасно
задані для "контурного керування"; або
2) п'ять або більше осей, які можуть бути
одночасно скоординовані для "контурного
керування"; або
3) точність позиціювання для
копіювально-розточувальних верстатів уздовж
будь-якої лінійної осі з "усіма доступними
компенсаціями" менше (краще) ніж 3 мкм
відповідно до ISO 230/2 (1997) або його
національного еквівалента;
4) верстати для різання матеріалу, що
безперервно переміщується, які мають усі із
зазначених нижче характеристик:
a) "радіальне биття" і "кулачковий ефект"
шпинделя менше (краще) ніж 0,0004 мм
TIR;
b) кутове відхилення руху ковзання
(рискання, перекіс у повздовжньому
напрямку і гойдання) менше (краще) ніж
2 секунди дуги, TIR, уздовж шляху
переміщення завдовжки 300 мм
2.B.1.c. Шліфувальні верстати, що мають будь-яку із 8460 11 00 00,
зазначених нижче характеристик: 8460 19 00 00,
8460 21,
1) мають усі зазначені нижче характеристики: 8460 29,
а) точність позиціювання вздовж будь-якої 8464 20 05 00,
лінійної осі з "усіма доступними 8464 20 20 00,
компенсаціями" дорівнює або менше 8464 20 80 00,
(краще) ніж 3 мкм відповідно до 8465 93 00 00
ISO 230/2 (1997) або його
національного еквівалента;
b) три або більше осі, які можуть
бути одночасно скоординовані для
"контурного керування"; або
2) п'ять або більше осей, які можуть бути
одночасно скоординовані для "контурного
керування"
Примітки. Згідно з позицією 2.B.1.c контролю не
підлягають:
1) шліфувальні верстати для оброблення
зовнішніх циліндричних, внутрішніх
поверхонь, а також комбіновані верстати
(для шліфування внутрішніх та зовнішніх
поверхонь), які мають усі наведені нижче
характеристики:
а) обмежені циліндричним шліфуванням;
b) з максимально можливим зовнішнім
діаметром або довжиною заготовки
150 мм;
2) верстати, які спеціально спроектовані
для шліфування за шаблоном і мають
будь-які із зазначених нижче
характеристик:
а) С-вісь застосовується для підтримання
шліфувального круга в положенні,
перпендикулярному до робочої поверхні;
b) А-вісь визначається конфігурацією
шліфування циліндричних кулачків;
3) плоскошліфувальні верстати.
2.B.1.d. Верстати для електроіскрового оброблення з 845630
(ЕDМ) без подачі дроту, що мають дві або
більше осей обертання, які можуть одночасно
бути скоординовані для "контурного
керування"
2.В.1.е. Верстати для видалення металів, кераміки або з 8424 30,
"композиційних" матеріалів, які мають усі з 8456 10,
наведені нижче характеристики: 8456 91 00 00,
1) видалення матеріалу за допомогою: з 8456 99
а) водяних або інших рідинних струменів,
уключаючи струмені з абразивними
добавками;
b) електронного променя; або
с) променя лазера; та
2) які мають дві або більше осей обертання,
що:
а) можуть бути одночасно позиційовані для
"контурного керування"; та
b) мають точність позиціювання менше
(краще) ніж 0,003 град.
2.В.1.f. Верстати для свердління глибоких отворів і з 8458,
токарні верстати, що модифіковані для 8459 21 00 00
свердління глибоких отворів та забезпечують
максимальну глибину їх свердління понад
5000 мм, а також спеціально розроблені до
них компоненти
2.В.2. Позицію виключено
2.В.3. Верстати з "числовим керуванням" або з 8461 40 71 00,
[2В003] ручним керуванням і спеціально розроблені 8461 40 79 00
для них компоненти, обладнання для контролю
та оснащення, спеціально розроблені для
шевінгування, фінішного оброблення,
шліфування або хонінгування загартованих
(R(с) = 40 або більше) прямозубих
циліндричних, одно- або двозаходових
черв'ячних (гвинтових) шестерень діаметром
понад 1250 мм і шириною поверхні зуба,
що дорівнює 15 відсоткам діаметра або
більше, з якістю фінішного
оброблення AGMA 14 або краще
(відповідно до міжнародного стандарту
ISO 1328 за класом 3)
2.В.4. "Ізостатичні преси" для гарячого пресування, з 8462 99
[2В004] що мають усі наведені нижче складові, та
спеціально розроблені для них компоненти і
допоміжні пристрої:
2.В.4.а. Камери з контрольованими тепловими умовами
всередині замкненої порожнини з внутрішнім
діаметром 406 мм або більше
2.В.4.b. Будь-яку наведену нижче характеристику:
1) максимальний робочий тиск понад 207 МПа;
2) контрольовані температурні умови понад
1773 К (1500 град. С);
3) обладнання для насичення вуглеводнем і
виведення газоподібних продуктів розкладу
Технічна Внутрішній розмір камери - це робочі розміри
примітка. камери, яка забезпечує робочий тиск і
температуру; до розміру камери не
включається розмір затискних пристроїв.
Зазначений розмір визначається меншим з двох
розмірів: внутрішнього діаметра камери
високого тиску або внутрішнього діаметра
ізольованої камери печі залежно від того,
яка з цих камер знаходиться в іншій.
Особлива Щодо спеціально розроблених штампів форм та
примітка. інструментів див. позиції 1.В.3, 9.В.9
і МL18 Списку товарів військового
призначення, міжнародні передачі яких
підлягають державному контролю,
затвердженого постановою Кабінету Міністрів
України від 8 грудня 1997 р. N 1358
( 1358-97-п ) (1358-97-п) .
2.В.5. Обладнання, спеціально призначене для
[2В005] осадження, оброблення та контролю у процесі
нанесення неорганічних захисних шарів
покриттів і модифікування поверхні,
наприклад, для неелектронних підкладок за
допомогою процесів, зазначених у таблиці та
у примітках до позиції 2.E.3.f, а також
компоненти, спеціально призначені для
автоматизованого регулювання, позиціювання,
маніпулювання та управління:
2.В.5.а. Виробниче обладнання для хімічного осадження 8424 20 00 00,
з газової фази (CVD), "кероване вмонтованою 8456 91 00 00,
програмою", із усіма зазначеними нижче
характеристиками: 8456 99
1) процес, модифікований для будь-якого
зазначеного нижче методу:
а) пульсуючого хімічного осадження з
парової фази (CVD);
b) кероване зародження центрів
конденсації при термічному осадженні
(CNTD);
c) стимульований плазмою або за допомогою
плазми CVD;
2.В.5.а. 2) використовує будь-що наведене нижче:
а) високий вакуум (рівний або менше
ніж 0,01 Па) ущільнення при обертанні;
b) засоби контролю товщини шару покриття
безпосередньо у процесі осадження
2.В.5.b. Виробниче обладнання для іонної імплантації, 8456 10 10 00,
"кероване вмонтованою програмою", із силою 8456 10 90 00
іонного струму 5 мА або більше
2.В.5.c. Виробниче обладнання для 8456 10 10 00,
електронно-променевого вакуумного нанесення 8456 10 90 00
покриттів методом фізичного осадження з
парової фази (EB-PVD), "кероване вмонтованою
програмою", яке має систему
електроживлення з розрахунковою потужністю
понад 80 кВт та будь-які наведені нижче
складові:
1) "лазерну" систему керування за рівнем
випаровувальної ванни, яка точно регулює
швидкість подавання матеріалів (злитків) у
зону випаровування;
2) керований комп'ютером покажчик швидкості
випаровування (монітор), який працює за
принципом фотолюмінесценції іонізованих
атомів у потоці пари, необхідний для
визначення швидкості осадження складових
покриття, що містить два або більше
елементів
2.В.5.d. Виробниче обладнання для нанесення покриттів 8456 91 00 00,
методом плазмового розбризкування, "кероване 8456 99
вмонтованою програмою", яке має будь-яку
зазначену нижче характеристику:
1) працює при зниженому тиску контрольованої
атмосфери (дорівнює або менше ніж 10 кПа,
вимірюваної вище або всередині 300 мм
вихідного перерізу сопла плазмового
пальника) у вакуумній камері, що здатна
забезпечити зниження тиску до 0,01 Па перед
початком процесу нанесення;
2) має у своєму складі засоби контролю
товщини шару покриття у процесі нанесення
2.В.5.е. Виробниче обладнання для металізації 8456 91 00 00,
розпиленням, "кероване вмонтованою 8456 99
програмою", що здатне забезпечити густину
струму 0,1 мА/мм (в ступ. 2) або більше з
продуктивністю напилення 15 мкм/год або
більше
2.В.5.f. Виробниче обладнання для катодно-дугового 8515 80 91 00,
напилення, "кероване вмонтованою програмою", 8515 80 99 00
із системою електромагнітів для керування
плямою дуги на катоді
2.В.5.g. Виробниче обладнання для іонного нанесення 8456 10 10 00,
покриттів, "кероване вмонтованою програмою" 8456 10 90 00
та здатне в процесі нанесення вимірювати
будь-що з наведеного нижче:
1) товщину покриття на підкладці та величину
продуктивності;
2) оптичні характеристики
Примітка. Згідно з позиціями 2.В.5.а, 2.В.5.b, 2.В.5.е,
2.B.5.f, 2.В.5.g контролю не підлягає
обладнання для нанесення покриттів методами
хімічного осадження з газової фази
катодно-дугового напилення та нанесення
розпиленням, іонного нанесення або іонної
імплантації, спеціально спроектоване для
різальних інструментів та металообробних
верстатів.
2.В.6. Системи або обладнання, наведені нижче, для
[2В006] вимірювання або контролю за розмірами:
2.В.6.а. Контрольно-вимірювальне обладнання, кероване 9031 80 31 10,
комп'ютером, з "числовим керуванням" або 9033 80 31 90
"кероване вмонтованою програмою", яке має
тривимірну (об'ємну) систему з "похибкою
вимірювання", що дорівнює або менше (краще)
ніж (1,7+L/1000) мкм (де L - довжина, яка
вимірюється в міліметрах), що тестується
відповідно до міжнародних стандартів
ISO 10360-2
2.В.6.b. Вимірювальні пристрої для лінійних або
кутових переміщень, наведені нижче:
1) вимірювальні пристрої для лінійних 9031 41 00 00,
переміщень, які мають будь-яку зазначену 9031 49 10 00,
нижче складову: 9031 49 90 00
а) вимірювальні системи безконтактного
типу з "розподілюваністю", що дорівнює
або менше (краще) ніж 0,2 мкм, при
діапазоні вимірювань до 0,2 мм;
2.В.6.b.1. b) системи з лінійним регульованим
диференційним перетворювачем напруги
з усіма зазначеними нижче
характеристиками:
1) "лінійністю", що дорівнює або менше
(краще) ніж 0,1 відсотка, в діапазоні
вимірювань до 5 мм;
2) відхиленням, що дорівнює або менше
(краще) ніж 0,1 відсотка на день, за
стандартних умов з коливанням навколишньої
температури + - 1 К; або
с) вимірювальні системи, що мають усі
наведені нижче складові:
1) які містять "лазер";
2) які експлуатуються безперервно (принаймні
12 годин при стандартних температурі та тиску
з коливанням навколишньої
температури + - 1 К) і мають усі наведені
нижче характеристики:
а) "розподільність" на їх повній шкалі
становить 0,1 мкм або менше (краще);
b) "похибка вимірювання" дорівнює або
менше (краще) ніж (0,2+L/2000) мкм
(де L - довжина, що вимірюється в
міліметрах)
Примітка. Згідно з позицією 2.В.6.b.1 контролю не
підлягають вимірювальні інтерферометричні
системи без зворотного зв'язку із замкненим
або відкритим контуром, що містять "лазер"
для вимірювання помилок переміщення рухомих
частин верстатів, засобів контролю за
розмірами або подібного обладнання.
2) кутові вимірювальні прилади з "кутовою 9031 41 00 00,
девіацією", що дорівнює або менше (краще) 9031 49 10 00,
ніж 0,00025 (град.) 9031 49 90 00,
з 9031 80 31,
9031 80 91 00
Примітка. Згідно з позицією 2.В.6.b.2 контролю не
підлягають оптичні прилади, такі як
автоколіматори, що використовують колімоване
світло для фіксації кутового відхилення
дзеркала.
2.В.6.с. Обладнання для вимірювання нерівностей 9031 41 00 00,
поверхні з використанням оптичного 9031 49 10 00,
розсіювання як функції кута з чутливістю 9031 49 90 00
0,5 нм або менше (краще)
Примітки. 1. Верстати, що можуть бути використані
як засіб вимірювання, підлягають
контролю, якщо їх параметри відповідають
або перевищують критерії, встановлені для
функцій верстатів або вимірювальних
приладів.
2. Обладнання, зазначене в позиції 2.В.6,
підлягає контролю, якщо його параметри
перевищують рівень контролю в будь-якому
робочому діапазоні.
2.В.7. "Роботи", що мають будь-яку із зазначених 8479 50 00 00,
[2В007] нижче характеристик, і спеціально 8537 10 10 00,
спроектовані контролери та "робочі органи" 8537 10 91 00,
до них: 8537 10 99 00
2.В.7.а. Здатні в реальному масштабі часу повністю
відобразити процес або об'єкт у трьох
вимірах з генеруванням або модифікацією
"програм" чи з генеруванням або модифікацією
цифрових даних, що програмуються
Технічна Обмеження зазначених процесів або об'єкта не
примітка. включають апроксимацію третього виміру через
заданий кут або інтерпретацію через
обмеження шкали для сприйняття глибини або
текстури модифікації завдань (2 1/2 D).
2.В.7.b. Спеціально розроблені відповідно до
національних стандартів безпеки, здатні
виробляти вибухівку або вибухові пристрої
2.В.7.c. Спеціально призначені або нормовані як
радіаційностійкі, що витримують більше
ніж 5 х 10 (в ступ. 5) рад (Si) без
погіршення робочих характеристик; або
2.В.7.d. Спеціально призначені для операцій на висоті
понад 30000 м
2.В.8. Вузли або блоки, наведені нижче, спеціально
[2В008] призначені для верстатів або систем
і обладнання для перевірки розмірів або
вимірювання:
2.В.8.а. Блоки оцінки лінійного положення із з 8466
зворотним зв'язком (наприклад прилади
індуктивного типу, калібровані шкали,
інфрачервоні системи або "лазерні" системи),
які мають повну "точність" менше (краще) ніж
[800+ (600 х L х 10 (в ступ. -3))] нм
(L - ефективна довжина, яка вимірюється в
міліметрах)
Особлива Для "лазерних" систем застосовується
примітка. також примітка до позиції 2.В.6.b.1.
2.В.8.b. Блоки оцінки положення обертання із з 8466
зворотним зв'язком (наприклад прилади
індуктивного типу, калібровані шкали,
інфрачервоні системи або "лазерні" системи),
які мають "точність" менше (краще)
ніж 0,00025 (град.)
Особлива Для "лазерних" систем застосовується також
примітка. примітка до позиції 2.В.6.b.1.
2.В.8.c. "Складені обертові столи" або "нахильні з 8466
шпинделі", використання яких за
специфікацією виробника може модифікувати
верстати до рівня, зазначеного у
позиції 2.В або вище
2.В.9. Обкатні вальцювальні та згинальні верстати, 8462 29 10 00,
[2В009] які відповідно до технічної специфікації 8463 90 00 00
виробника можуть бути обладнані блоками
"числового керування" або комп'ютерного
керування та мають усі наведені нижче
характеристики:
2.В.9.а. З двома або більше осями керування,
дві з яких здатні одночасно координуватися
для "контурного керування"
2.В.9.b. З підсиленням на обкатному інструменті
понад 60 кН
Технічна Верстати, у яких поєднані функції обкатних
примітка. вальцювальних та згинальних верстатів,
розглядаються для цілей позиції 2.В.9
як такі, що належать до обкатних
вальцювальних верстатів.
2.С. МАТЕРІАЛИ - відсутні
2.D. ПРОГРАМНЕ ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ
2.D.1. "Програмне забезпечення" інше, ніж те, що з 8524
[2D001] підлягає контролю згідно і позицією 2.D.2,
спеціально призначене або модифіковане для
"розроблення", "виробництва" або
"використання" обладнання, зазначеного в
позиціях 2.А або 2.В
2.D.2. "Програмне забезпечення" для електронних з 8524
[2D002] пристроїв, навіть якщо воно вмонтоване в
електронний пристрій або систему, яке надає
можливість таким пристроям або здатний
одночасно координувати більше 4 осей для
"контурного керування"
Примітка. Згідно з позицією 2.D.2 контролю не підлягає
"програмне забезпечення", спеціально
розроблене або модифіковане для верстатів,
які не підлягають контролю згідно з
позиціями розділу 2.
2.Е. ТЕХНОЛОГІЯ
2.Е.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 з 3705
[2Е001] загальних приміток для "розроблення" 3706,8524,
обладнання або "програмного забезпечення", 4901 99 00 00,
які підлягають контролю згідно з позиціями 4906 00 00 00
2.A, 2.В або 2.D
2.Е.2. "Технологія" відповідно до пункту 3 з 3705
[2Е002] загальних приміток для "виробництва" 3706,8524,
обладнання, яке підлягає контролю за 4901 99 00 00,
позиціями 2.A або 2.В 4906 00 00 00
2.Е.3. Інші "технології", наведені нижче: з 3705
[2Е003] 3706,8524,
2Е.3.а. "Технологія" для "розроблення" інтерактивної 4901 99 00 00,
графіки як загальної частини блоків 4906 00 00 00
"числового керування" для підготовки або
модифікації елементів "програм"
2.Е.3.b. "Технологія", наведена нижче, для
виробничих процесів металооброблення:
1) "технологія" проектування верстатів
(інструментів), прес-форм або затискних
пристроїв, спеціально призначених для
будь-якого, наведеного нижче, процесу:
а) "надпластичного формування";
b) "дифузійного зварювання";
с) "безпосереднього гідравлічного
пресування";
2) технічні дані, що включають методи або
параметри реалізації процесу, наведені
нижче, які використовуються для керування:
а) "надпластичним формуванням"
алюмінієвих, титанових сплавів або
"суперсплавів", уключаючи:
1) підготовку поверхні;
2) швидкість відносної деформації;
3) температуру;
4) тиск;
2.Е.3.b.2. b) "дифузійним зварюванням"
"суперсплавів" або титанових сплавів,
уключаючи:
1) підготовку поверхні;
2) температуру;
3) тиск;
с) "безпосереднім гідравлічним
пресуванням" алюмінієвих або
титанових сплавів, уключаючи:
1) тиск;
2) час циклу;
d) "гарячим ізостатичним модифікуванням"
алюмінієвих і титанових сплавів або
"суперсплавів", уключаючи:
1) температуру;
2) тиск;
3) час циклу
2.Е.3.с. "Технологія" для "розроблення" або
"виробництва" гідравлічних витяжних
формувальних машин і відповідних форм для
виготовлення корпусних конструкцій літака
2.Е.3.d. "Технологія" для "розроблення" генераторів
машинних команд (елементів "програм") з
проектних даних, які знаходяться всередині
блоків "числового керування"
2.Е.3.е. "Технологія" для "розроблення" загального
"програмного забезпечення" для об'єднаних
експертних систем, які підвищують у
заводських умовах операційні можливості
блоків "числового керування"
2.Е.3.f "Технологія" використання неорганічних
покриттів або неорганічних покриттів з
модифікацією поверхні (зазначених у графі 3
"Результуюче покриття" таблиці до позиції)
на неелектронних підкладках (зазначених у
графі 2 "Підкладки" таблиці до позиції),
процесів (зазначених у графі 1 "Найменування
процесу нанесення покриття" таблиці до
позиції та визначених приміткою до таблиці)
Особлива Таблицю до позиції 2.Е.3.f слід
примітка. використовувати для контролю технології
особливого процесу нанесення покриттів
тільки у тих випадках, коли "результуюче
покриття" в колонці 3 зазначено
безпосередньо проти відповідної "підкладки"
у колонці 2. Наприклад, технічні дані
процесу осадження для хімічного осадження з
парової фази (CVD) контролюються при
використанні "силіцидів" на "підкладках",
виготовлених "композиційних матеріалів" з
вуглець-вуглецевою, керамічною або металевою
"матрицею", але не контролюються при
використанні "силіцидів" на підкладках,
виготовлених з "цементованого карбіду
вольфраму" (16) та "карбіду кремнію".
У другому випадку "результуюче покриття"
не зазначено у цьому параграфі в колонці 3
безпосередньо напроти параграфу в колонці 2,
де перелічені "цементований карбід
вольфраму" (16) та "карбід кремнію" (18).
---------------------------------------------------------------------
Таблиця до позиції 2.E.3.f. Технічні методи осадження покриття
---------------------------------------------------------------------
1. Найменування |2. Підкладки |3. Результуюче покриття
процесу | |
нанесення | |
покриття (1)* | |
---------------------------------------------------------------------
A. Хімічне осадження Суперсплави Алюмініди для внутрішніх
з газової фази (CVD) каналів
Кераміка (19)* та Силіциди
скло з малим Карбіди
коефіціентом Шари діелектриків (15)
термічного Алмази
розширения (14) Алмазоподібні
вуглеці (17)
Вуглець-вуглець Силіциди
"Композиційні" Карбіди
матеріали Тугоплавкі метали
(композити) з Суміші зазначених
керамічною та матеріалів (4)
металевою Шари діелектриків (15)
"матрицею" Алюмініди
Леговані алюмініди (2)
Нітрид бору
Цементований Карбіди
карбід вольфраму Вольфрам
(16) Суміші зазначених
Карбід матеріалів (4)
кремнію ( 18) Шари діелектриків ( 15)
Молібден та його Шари діелектриків ( 15)
сплави
Берилій та Шари діелектриків (15)
його сплави Алмази
Алмазоподібні
вуглеці (17)
Матеріали вікон Шари діелектриків ( 15)
датчиків (9) Алмази
Алмазоподібні
вуглеці (17)
---------------------------------------------------------------------
В. Фізичне осадження з
парової фази
термовипаровуванням
(TE-PVD)
1. Фізичне осадження з Суперсплави Леговані силіциди
парової фази (PVD Леговані алюмініди (2)
з випаровуванням MCrAIX (5)
електронним Модифіковані види
променем (EB-PVD) діоксиду цирконію (12)
Силіциди
Алюмініди
Суміші зазначених
матеріалів (4)
---------------------------------------------------------------------
B.1. Кераміка (19) та Шари діелектриків (15)
скло з малим
коефіцієнтом
термічного
розширення (14)
Корозійностійка MCrAlX (5)
сталь (криця) (7) Модифіковані види
діоксиду цирконію (12)
Суміші зазначених
матеріалів (4)
Вуглець-вуглець Силіциди
"Композиційні" Карбіди
матеріали з Тугоплавкі метали
керамічною Суміші зазначених
та металевою матеріалів (4)
"матрицею" Шари діелектриків (15)
Нітрид бору
Цементований карбід Карбіди
вольфраму (16) Вольфрам
Карбід кремнію (18) Суміші зазначених
матеріалів (4)
Шари діелектриків (15)
Молібден та його Шари діелектриків (15)
сплави
Берилій та його
сплави Шари діелектриків (15)
Бориди
Берилій
Матеріали вікон Шари діелектриків (15)
датчиків (9)
Титанові Бориди
сплави (13) Нітриди
----------------------------------------------------------------------
B.2. Фізичне осадження Кераміка (19) та Шари діелектриків (15)
з парової фази скло з малим Алмазоподібні
засобом коефіцієнтом вуглеці (17)
резистивного термічного
нагрівання розширення (14)
(іонне осадження) Вуглець-вуглець Шари діелектриків (15)
"Композиційні"
матеріали з
керамічною та
металевою
"матрицею"
Цементований карбід Шари діелектриків (15)
вольфраму (16)
Карбід кремнію
Молібден та його Шари діелектриків (15)
сплави
Берилій та його Шари діелектриків (15)
сплави
Матеріали Шари діелектриків (15)
вікон датчиків (9) Алмазоподібні
вуглеці (17)
---------------------------------------------------------------------
B.3. Фізичне осадження Кераміка (19) та Силіциди
з парової фази: скло з малим Шари діелектриків (15)
випаровування коефіцієнтом Алмазоподібні
"лазерним" термічного вуглеці (17)
променем розширення (14)
Вуглець-вуглець Шари діелектриків (15)
"Композиційні"
матеріали з
керамічною та
металевою
"матрицею"
Цементований карбід Шари діелектриків (15)
вольфраму (16)
Карбід кремнію
Молібден та його Шари діелектриків (15)
сплави
Берилій та його Шари діелектриків (15)
сплави
Матеріали Шари діелектриків (15)
вікон датчиків (9) Алмазоподібний
вуглець (17)
---------------------------------------------------------------------
B.4. Фізичне осадження Суперсплави Леговані силіциди
з парової фази: Леговані алюмініди (2),
катодний дуговий MCrAlX (5)
розряд
Полімери (11) та Бориди
"Композиційні" Карбіди
матеріали з Нітриди
органічною Алмазоподібні
"матрицею" вуглеці (17)
---------------------------------------------------------------------
C. Пакова Вуглець-вуглець Силіциди
цементація (10) Кераміка та Карбіди
(твердофазне "Композиційні" Суміші зазначених
насичення) матеріали з матеріалів (4)
(див."A") металевою
"матрицею"
Сплави титану (13) Силіциди
Алюмініди
Леговані алюмініди (2)
Тугоплавкі метали Силіциди
та сплави (8) Оксиди
---------------------------------------------------------------------
D. Плазмове напилення Суперсплави MCrAlX (5)
Модифікований діоксид
цирконію (12)
Суміші зазначених
матеріалів (4)
Ерозійностійкий
нікель-графіт
Ерозійностійкий
нікель-хром-алюміній-
бентоніт
Ерозійностійкий
алюміній-кремній-
поліестр
Леговані алюмініди (2)
Сплави алюмінію (6) MCrAlX (5)
Модифікований діоксид
цирконію (12)
Силіциди
Суміші зазначених
матеріалів (4)
Тугоплавкі метали Алюмініди
та сплави (8) Силіциди
Карбіди
Корозійностійкі MCrAlX (5)
сталі (7) Модифікований діоксид
цирконію (12)
Суміші зазначених
матеріалів (4)
Титанові Карбіди
сплави (13) Алюмініди
Силіциди
Леговані алюмініди (2)
Ерозійностійкий нікель-
графіт
Ерозійностійкий нікель-
хром-алюміній-бентоніт
діоксиду цирконію
Ерозійностійкий
алюміній-кремній-
поліестр
---------------------------------------------------------------------
E. Шликірні суспензійні Тугоплавкі метали Плавлені силіциди
покриття (осадження) та сплави (8) Плавлені алюмініди (крім
матеріалів для нагрівних
елементів)
Вуглець-вуглець Силіциди
"Композиційні" Карбіди
матеріали: Суміші зазначених
керамічною та матеріалів (4)
металевою
"матрицею"
---------------------------------------------------------------------
F. Нанесення покриттів Суперсплави Леговані силіциди
розпиленням Леговані алюмініди (2)
Алюмініди модифіковані
благородними металами(3)
MCrAlX (5)
Види модифікованого
діоксиду цирконію (12)
Платина
Суміші зазначених
матеріалів (4)
Кераміка та скло з Силіциди
малим коефіцієнтом Платина
розширення (14) Суміші зазначених
матеріалів (4)
Шари діелектриків (15)
Алмазоподібний
вуглець (17)
Титанові Бориди
сплави (13) Нітриди
Оксиди
Силіциди
Алюмініди
Леговані алюмініди (2)
Карбіди
Вуглець-вуглець Силіциди
"Композиційні" Карбіди
матеріали з Тугоплавкі метали
керамічною та Суміші зазначених
металевою матеріалів (4)
"матрицею" Шари діелектриків (15)
Нітрид бору
Цементований карбід Карбіди
вольфраму (16) Вольфрам
Карбід кремнію (18) Суміші зазначених
матеріалів (4)
Шари діелектриків (15)
Нітрид бору
Молібден та його Шари діелектриків (15)
сплави
Берилій та його Бориди
сплави Шари діелектриків (15)
Берилій
Матеріали вікон Шари діелектриків (15)
датчиків (9) Алмазоподібний
вуглець (17)
Тугоплавкі метали Алюмініди
та сплави (8) Силіциди
Оксиди
Карбіди
---------------------------------------------------------------------
G. Іонна імплантація Термостійкі Поверхневе легування
шарикопідшипникові хромом, танталом або
сталі ніобієм (коламбієм)
Титанові Бориди
сплави (13) Нітриди
Берилій та його Бориди
сплави
Цементований карбід Карбіди
вольфраму (16) Нітриди
Примітки до таблиці:
Технічні методи осадження покриття
1. Термін "процес покриття" включає як нанесення нового покриття,
так і ремонт та поновлення існуючого.
2. Термін "покриття легованими алюмінідами" включає одностадійний
або багатостадійний процес нанесення покриттів, під час якого
елемент або елементи осаджуються до або під час отримання
алюмінідного покриття, навіть якщо ці елементи додаються за
допомогою іншого процесу. Але він не включає багаторазове
використання одноступеневих процесів пакової цементації для
отримання покриттів на основі легованих алюмінідів.
3. Термін "покриття алюмінідами модифікованими благородними
металами" включає багатоступеневе нанесення покриття, в якому
благородний метал або благородні метали були нанесені раніше
будь-яким іншим способом до отримання покриття легованими
алюмінідами.
4. Термін "їх суміші" включає інфільтруючий матеріал, градієнтні
композиції, присадки та багатошарові матеріали, які
використовуються під час одного або кількох процесів отримання
покриттів, зазначених у таблиці.
5. "MCrAlX" відповідає складному сплаву покриття, де "М" означає
кобальт, залізо, нікель або їх комбінації, а "X" означає
гафній, ітрій, кремній, тантал у будь-якій кількості, або інші
спеціально внесені додатки у кількості понад 0,01 вагового
відсотка у різноманітних пропорціях та комбінаціях, крім:
a) CoCrAlY - покриття, які мають менше ніж 22 вагових відсотки
хрому, менше ніж 7 вагових відсотків алюмінію та менше ніж
2 вагових відсотки ітрію;
b) CoCrAlY - покриття, які мають 22-24 вагових відсотків
хрому, 10-12 вагових відсотків алюмінію та 0,5-0,7 вагового
відсотка ітрію;
c) NiCrAlY - покриття, які мають 21-23 вагових відсотків
хрому, 10-12 вагових відсотків алюмінію та 0,9-1,1 вагового
відсотка ітрію.
6. Термін "сплави алюмінію" означає сплави з граничним значенням
міцності на розрив 190 МПа або більше, які визначені при
температурі 293 K (20 град. C).
7. Термін "корозійностійка сталь" означає сталі, які
задовольняють вимоги стандарту серії 300 (AISI) Американського
інституту заліза та сталі або вимоги відповідних національних
стандартів.
8. Поняття "тугоплавкі метали та сплави" включає такі метали та
їх сплави: ніобій (коламбій в США), молібден, вольфрам і
тантал.
9. "Матеріали вікон датчиків" - це оксид алюмінію, кремній,
германій, сульфід цинку, селенід цинку, арсенід галію, алмаз,
фосфід галію, сапфір та такі галогеніди металів: фторид
цирконію і фторид гафнію - для вікон датчиків, які мають
діаметр понад 40 мм.
10. На "технологію" для одноступеневих процесів пакової цементації
суцільних лопаток турбін не поширюються обмеження згідно з
розділом 2.
11. "Полімери" включають гюліімід, поліестр, полісульфід,
полікарбонати та поліуретани.
12. До поняття "модифікований діоксид цирконію" належить діоксид
цирконію з додаванням оксидів інших металів (таких як оксиди
кальцію, магнію, ітрію, гафнію, рідкоземельних металів) для
стабілізації відповідних кристалографічних фаз та фаз
зміщення. Термозахисні покриття діоксидом цирконію,
модифіковані оксидом кальцію або оксидом магнію шляхом
змішування або розплаву, контролю не підлягають.
13. Під поняттям "титанові сплави" розуміються тільки аерокосмічні
сплави з граничним значенням міцності на розрив 900 МПа або
більше, визначеним при температурі 293 K (20 град. C).
14. "Скло з малим коефіцієнтом термічного розширення" визначається
як скло, що має коефіцієнт температурного розширення
1 х 10 (в ступ. -7) K (в ступ. -1) або менше, визначений при
температурі 293 K (20 град. C).
15. "Діелектричні шарові покриття" належать до багатошарових
ізоляційних матеріалів, у яких комбінація інтерференційних
властивостей матеріалів з різноманітними коефіцієнтами
рефракції використовується для відбиття, передачі або
поглинання хвиль різноманітних діапазонів. До діелектричних
шарових покриттів належать ті, що складаються з чотирьох або
більше шарів діелектрика або шарових "композицій"
діелектрик - метал.
16. До "цементованого карбіду вольфраму" не належать
інструментальні матеріали, які застосовуються для різання та
механічної обробки і які складаються з карбіду
вольфраму/(кобальт-нікель), карбіду титану/(кобальт-нікель),
карбіду хрому/(нікель-хром) і карбіду хрому/(нікель).
17. "Технологія", спеціально розроблена для осадження
алмазоподібного вуглецю на будь-що з наведеного нижче, не
підлягає контролю: накопичувачі на магнітних дисках і магнітні
головки, окуляри з полікарбонату, обладнання для виробництва
разової тари, обладнання пекарень, клапани для кранів,
акустичні діафрагми для гучномовців, деталі двигунів для
автомобілів, різальний інструмент, матриці для пресування та
вирубні штампи, високоякісні лінзи для фото-, кіноапаратів та
телескопів, офісне автоматизоване обладнання, мікрофони або
медичні пристрої.
18. До "карбіду кремнію" не належать матеріали для виготовлення
різального або формувального інструменту.
19. До поняття "керамічні підкладки", як воно використовується в
цій позиції, не належать керамічні матеріали, що містять
5 відсотків за вагою або більше глини чи цементу, незалежно
від того, чи є вони окремим складовим компонентом, чи входять
у керамічні матеріали в їх комбінації.
Процеси, зазначені у графі "Найменування процесу нанесення
покриття", визначаються таким способом:
a. Хімічне осадження з газової фази (CVD) - це процес
нанесення зовнішнього покриття або покриття з модифікацією
поверхні, що покривається, де метал, сплав, "композиційний"
матеріал, діелектрик або кераміка наносяться на нагріту
підкладку (основу). Газоподібні реагенти розпадаються або
сполучаються на поверхні виробу, унаслідок чого на ній
утворюються бажані елементи, сплави або хімічні сполуки.
Енергія для такого розпаду або хімічної реакції може бути
забезпечена нагріванням підкладки плазмовим розрядом або
променем "лазера".
Особливі 1. Хімічне осадження з газової фази (CVD)
примітки: включає такі процеси: "безпакетне" нанесення
покриття прямим газовим струменем, газоциркуляційне
хімічне осадження, кероване зародження центрів
конденсації при термічному осадженні (CNTD) або
хімічне осадження з газової фази (CVD) з
використанням плазми.
2. Поняття "пакет" означає занурення підкладки (основи)
в суміш з кількох складових.
3. Газоподібні реагенти, що використовуються у
безпакетному процесі, отримуються за такими ж
базовими реакціями та параметрами, як і цементація,
за винятком випадку, коли підкладка, на яку
наноситься покриття, не має контакту із сумішшю
порошків.
b. Фізичне осадження з парової фази термовипаровуванням
(TE-PVD) - це процес зовнішнього покриття виробу у вакуумі
під тиском менше ніж 0,1 Па, коли джерело теплової енергії
використовується для перетворення на пару матеріалу, що
наноситься, внаслідок чого частки матеріалу, що
випаровується, конденсуються або осаджуються на відповідно
розташовану підкладку.
Напуск газів у вакуумну камеру в процесі осадження для
створення складних покриттів є звичайною модифікацією
процесу.
Використання іонних або електронних променів або плазми
для активації або сприяння нанесенню покриття є також
звичайною модифікацією цієї технології. Використання
моніторів для забезпечення вимірювання оптичних
характеристик або товщини покриття під час процесу може
бути характерною особливістю цих процесів.
Специфіка процесу TE-PVD за допомогою резистивного нагрівання
полягає у тому, що:
1) при EB-PVD для нагрівання та випаровування матеріалу,
який формує покриття на виробі, використовується
електронний промінь;
2) при PVD з резистивним нагріванням, яке здатне
забезпечити контрольований та рівномірний (однорідний)
потік пари матеріалу покриття, використовується
електричний опір;
3) при випаровуванні "лазером" для випаровування матеріалу,
що формує покриття, використовується імпульсний або
безперервний "лазерний" промінь;
4) у процесі покриття за допомогою катодної дуги
використовується витрачуваний катод з матеріалу, що
формує покриття та створює розряд дуги на поверхні
катода після миттєвого контакту із заземленим пусковим
пристроєм (тригером). Контрольований рух дуги призводить
до ерозії поверхні катода та виникнення
високоіонізованої плазми. Анод може бути конічним та
розташовуватися по периферії катода через ізолятор або
сама камера може грати роль анода. Для нанесення
покриття на підкладку, що розташована не на лінії,
використовується зміщення напруги;
Особлива Зазначений у підпункті 4 процес не стосується нанесення
примітка. покриття довільною катодною дугою без зміщення напруги.
5) іонне покриття - це спеціальна модифікація загального
TE-PVD процесу, у якому плазмове або іонне джерело
використовується для іонізації часток, що наносяться як
покриття, а негативне зміщення напруги прикладається до
підкладки, що сприяє осадженню складових покриття з
плазми. Введення активних реагентів, випаровування
твердих матеріалів в камері, а також використання
моніторів, які забезпечують вимірювання (у процесі
нанесення покриття) оптичних характеристик та товщини
покриття, є звичайними модифікаціями процесу.
c. Пакова цементація - це модифікація методу нанесення
покриття на поверхню або процес нанесення виключно
зовнішнього покриття, коли підкладка занурена в суміш
порошків (пак), яка складається з:
1) металевих порошків, які входять до складу покриття
(звичайно алюміній, хром, кремній або їх комбінація);
2) активатора (здебільшого галоїдна сіль); та
3) інертної пудри, найчастіше - оксиду алюмінію.
Підкладка та суміш порошків утримуються всередині реторти,
яка нагрівається до температури від 1030 K (757 град. C) до
1375 K (1102 град. C) на час, який достатній для нанесення
покриття.
d. Плазмове напилення - це процес нанесення зовнішнього
покриття, коли плазмова гармата (пальник напилення), у якій
утворюється і керується плазма, використовує порошок або
дріт з матеріалу покриття, розплавляє їх та спрямовує на
підкладки, де формується інтегрально зв'язане покриття.
Плазмове напилення може ґрунтуватися на напиленні плазмою
низького тиску або високошвидкісною плазмою.
Особливі 1. Низький тиск - це тиск нижче атмосферного.
примітки. 2. Високошвидкісна плазма визначається швидкістю газу на
зрізі сопла, понад 750 м/с, розрахованої при
температурі 293 K (20 град. C) та тиску 0,1 МПа.
e. Осадження із суспензії - це процес нанесення покриття з
модифікацією поверхні, що покривається, коли металевий або
керамічний порошок з органічною сполучною речовиною
суспензовано в рідині та наноситься на підкладку за
допомогою напилення, занурення або фарбування з наступним
повітряним або пічним сушінням та термічною обробкою для
отримання необхідних властивостей покриття.
f. Осадження розпиленням - це процес нанесення зовнішнього
покриття, який ґрунтується на феномені передачі кількості
руху, коли позитивні іони прискорюються в електричному полі
в напрямі до поверхні мішені (підкладки виробу, що
покривається). Кінетична енергія ударів іонів достатня для
визволення атомів на поверхні мішені та їх осадження на
відповідно розташовану підкладку.
Особливі 1. У таблиці наведені відомості тільки щодо тріодного,
примітки. магнетронного або реактивного осадження розпиленням,
які застосовуються для збільшення адгезії матеріалу
покриття та швидкості його нанесення, а також щодо
радіочастотного підсилення напилення, яке
використовується під час нанесення пароутворюючих
неметалевих матеріалів для покриття.
2. Низькоенергетичні іонні промені (менше ніж 5 KeB)
можуть бути використані для прискорення (активації)
процесу нанесення покриття.
g. Іонна імплантація - це процес нанесення покриття з
модифікацією поверхні виробу, у якому легуючий елемент
іонізується, прискорюється системою з градієнтом потенціалу
та імплантується на поверхню підкладки. До процесів з
іонною імплантацією належать і процеси, де іонна
імплантація здійснюється одночасно під час
електронно-променевого осадження або осадження
розпилюванням.
Технічна термінологія, що використовується в
таблиці технічних засобів осадження
покриття
Технічна інформація стосовно таблиці технічних засобів
осадження покриття використовується у разі потреби.
1. Спеціальна термінологія, яка застосовується в "технологіях"
для попереднього оброблення підкладок, зазначених у таблиці:
a) параметри хімічного зняття покриття та очищення у ванні,
наведені нижче:
1) склад розчину у ванні:
a) для усунення старого та пошкодженого покриття,
продуктів корозії або сторонніх відкладень;
b) для приготування чистих підкладок;
2) час оброблення у ванні;
3) температура у ванні;
4) кількість та послідовність циклів миття;
b) візуальні та макроскопічні критерії для визначення ступеня
очищення або повноти очисної дози;
c) параметри циклів термічного оброблення, наведені нижче:
1) атмосферні параметри:
a) склад атмосфери;
b) атмосферний тиск;
2) температура термічної обробки;
3) тривалість термічної обробки;
d) параметри підготовки підкладок, наведені нижче:
1) параметри піскоструминного очищення:
a) склад часток;
b) розмір та форма часток;
c) швидкість подачі часток;
2) час та послідовність циклів очищення після
піскоструминного очищення;
3) параметри кінцевого оброблення поверхні;
4) використання зв'язувальних для посилення адгезії;
e) технічні параметри маскування наведені нижче:
1) матеріал маски;
2) розміщення маски.
2. Спеціальна термінологія, що застосовується в "технологіях",
які забезпечують якість покриття, для засобів, зазначених у
таблиці:
a) атмосферні параметри, наведені нижче:
1) склад атмосфери;
2) атмосферний тиск;
b) часові параметри;
c) температурні параметри;
d) параметри товщини;
e) коефіцієнт параметрів заломлення;
f) контроль складу покриття.
3. Спеціальна термінологія, що застосовується в "технологіях",
які використовуються після нанесення покриття на підкладку,
зазначену в таблиці:
a) параметри дробоструминної обробки, наведені нижче:
1) склад дробу;
2) розмір дробу;
3) швидкість подавання дробу;
b) параметри очищення після обробки дробом;
c) параметри циклу термічної обробки, наведені нижче:
1) атмосферні параметри:
a) склад атмосфери;
b) атмосферний тиск;
2) температурно-часові цикли;
d) візуальні та макроскопічні критерії під час приймання
покритих підкладок.
4. Спеціальна термінологія, що застосовується в "технологіях" для
визначення технічних засобів, які гарантують якість покриття
підкладок, зазначених у таблиці:
a) критерії статистичного відбіркового контролю;
b) мікроскопічні критерії для:
1) збільшення покриття;
2) рівномірності товщини покриття;
3) цілісності покриття;
4) складу покриття;
5) зчеплення покриття та підкладки;
6) мікроструктури однорідності;
c) критерії для оцінки оптичних властивостей (вимірювані як
функція довжини хвилі):
1) відбивна властивість;
2) прозорість;
3) поглинання;
4) розсіювання.
5. Спеціальна термінологія, що застосовується в "технологіях" та
параметрах, пов'язаних із специфічним покриттям та з процесами
видозмінювання поверхні, зазначеними в таблиці:
a) для хімічного осадження з газової фази (CVD):
1) склад та формування джерела покриття;
2) склад несучого газу;
3) температура підкладки;
4) температурно-часові цикли та цикли тиску;
5) контроль газу та маніпулювання деталями;
b) для термічного випарювання - фізичного осадження з парової
фази (PVD):
1) склад зливка або джерела матеріалу покриття;
2) температура підкладки;
3) склад активного газу;
4) швидкість подавання зливків або швидкість випаровування
матеріалу;
5) температурно-часові цикли та цикли тиску;
6) маніпуляція променем та деталлю;
7) параметри "лазера", наведені нижче:
a) довжина хвилі;
b) щільність потужності;
c) тривалість імпульсу;
d) періодичність імпульсів;
e) джерело;
c) для твердофазного осадження:
1) склад обмазки та формування;
2) склад несучого газу;
3) температурно-часові цикли та цикли тиску;
d) для плазмового напилення:
1) склад порошку, підготовка та розподіл розмірів;
2) склад та параметри газу, що подається;
3) температура підкладки;
4) параметри потужності плазмової гармати;
5) дистанція напилення;
6) кут напилення;
7) склад покривного газу, тиск та швидкість потоку;
8) контроль за гарматою та маніпуляцією деталями;
e) для осадження розпиленням:
1) склад та спосіб виробництва мішені;
2) геометричне регулювання положення деталей та мішені;
3) склад хімічно активного газу;
4) високочастотне підмагнічування (електричне зміщення);
5) температурно-часові цикли та цикли тиску;
6) потужність тріода;
7) маніпулювання деталлю;
f) для іонної імплантації:
1) контроль променя та маніпулювання деталлю;
2) елементи конструкції джерела іонів;
3) техніка контролю за іонним променем та параметрами
швидкості осадження;
4) температурно-часові цикли та цикли тиску;
g) для іонного покриття:
1) контроль за променем та маніпулюванням деталлю;
2) елементи конструкції джерела іонів;
3) техніка контролю за іонним променем та параметрами
швидкості осадження;
4) температурно-часові цикли та цикли тиску;
5) швидкість подавання покривного матеріалу та швидкість
випаровування;
6) температура підкладки;
7) параметри електричного зміщення підкладки.
----------------------------------------------------------------------
Розділ 3. ЕЛЕКТРОНІКА
----------------------------------------------------------------------
Номер | Найменування | Код товару
позиції | | згідно з
| | УКТ ЗЕД
----------------------------------------------------------------------
3. ЕЛЕКТРОНІКА
3.A. СИСТЕМИ, ОБЛАДНАННЯ І КОМПОНЕНТИ
Примітки. 1. Статус контролю за обладнанням та
компонентами, зазначеними в позиції 3.A,
що відрізняються від описаних у позиціях
3.A.1.a.3 - 3.A.1.a.10 або 3.A.1.a.12,
які спеціально спроектовані або мають
такі функціональні характеристики, як і
інше обладнання, визначається статусом
контролю за іншим обладнанням.
2. Статус контролю за інтегральними схемами,
зазначеними в позиціях 3.A.1.a.3 -
3.A.1.a.9 або 3.A.1.a.12, програми яких
не можуть бути змінені, або спроектовані
для виконання конкретних функцій для
іншого обладнання, визначається статусом
контролю за іншим обладнанням.
Особлива Якщо виробник або заявник не може визначити
примітка. статус контролю за іншим обладнанням, то цей
статус визначається статусом контролю за
інтегральними схемами, зазначеними в
позиціях 3.A.1.a.3 - 3.A.1.a.9 або
3.A.1.a.12.
Якщо ця інтегральна схема є "мікросхемою
мікрокомп'ютера" на кремнієвій основі або
мікросхемою мікроконтролера, зазначеними в
позиції 3.A.1.a.3 і має довжину слова
операнда 8 біт або менше, то тоді її
статус контролю визначається відповідно
до позиції 3.A.1.a.3.
3.A.1. Електронні компоненти, наведені нижче:
[3A001]
3.A.1.a. Інтегральні мікросхеми загального
призначення, наведені нижче:
Примітки. 1. Статус контролю за готовими пластинами
або напівфабрикатами, на яких відтворена
конкретна функція, визначається за
параметрами, зазначеними у позиції
3.A.1.a.
2. Поняття "інтегральні схеми" включає такі
типи:
"монолітні інтегральні схеми";
"гібридні інтегральні схеми";
"багатокристалічні інтегральні схеми";
"плівкові інтегральні схеми", включаючи
інтегральні схеми типу кремній на
сапфірі;
"оптичні інтегральні схеми".
1) інтегральні схеми, спроектовані або з 8542
класифіковані виробником як радіаційно
стійкі для того, щоб витримати будь-що з
наведеного нижче:
a) загальну дозу - 5 х 10 (в ступ. 5) рад
(кремній) або вище;
b) одиночну дозу - 5 х 10 (в ступ. 8) рад
(кремній) або вище;
3.A.1.a. 2) "мікросхеми мікропроцесора", "мікросхеми з 8542
мікрокомп'ютера", мікросхеми
мікроконтролера, інтегральні схеми пам'яті,
виготовлені із складного напівпровідника,
перетворювачі з аналогової форми у цифрову,
перетворювачі з цифрової форми в аналогову,
електрооптичні або "оптичні інтегральні
схеми", призначені для "оброблення
сигналів", логічні пристрої з
експлуатаційним програмуванням, інтегральні
схеми нейронної мережі, інтегральні схеми на
замовлення, для яких або невідома функція,
або стан контролю обладнання, у якому буде
використана інтегральна схема, невідомий,
процесори швидкого перетворення Фур'є (FFT),
програмована постійна пам'ять з електричним
стиранням (EEPROMs), імпульсна пам'ять або
статична пам'ять з довільною вибіркою
(SRAMs), які мають будь-яку з наведених
нижче характеристик:
a) працездатні при температурі навколишнього
природного середовища понад
398 K (+125 град. C);
b) працездатні при температурі навколишнього
природного середовища нижче
218 K (-55 град. C);
c) працездатні за межами діапазону
температур навколишнього природного
середовища від 218 K (-55 град. C) до
398 K (+125 град. C);
Примітка. Згідно з позицією 3.A.1.a.2 контролю не
підлягають інтегральні схеми, що
використовуються в цивільних автомобілях або
залізничних локомотивах.
3.A.1.a. 3) "мікросхеми мікропроцесора", "мікросхеми
мікрокомп'ютера" і мікросхеми
мікроконтролерів, які мають одну з наведених
нижче характеристик:
Примітка. У позиції 3.A.1.a.3 зазначено цифрові
сигнальні процесори, цифрові матричні
процесори і цифрові співпроцесори.
a) "сукупну теоретичну продуктивність" з 8542
("CTP") 6500 мільйонів теоретичних
операцій за секунду (Мегатопсів) або
більше та арифметично-логічні пристрої з
шириною доступу 32 біта або більше;
b) виготовлені з композиційного з 8542
напівпровідника та працюють з тактовою
частотою понад 40 МГц;
c) більше, ніж з однією шиною передачі з 8542
команд або даних або послідовним
комунікаційним портом для безпосереднього
зовнішнього міжсистемного зв'язку між
паралельними "мікросхемами
мікропроцесорів" із швидкістю передачі
понад 150 Мбайт/с;
3.A.1.a. 4) інтегральні схеми пам'яті, виготовлені на
основі напівпровідникових з'єднань;
5) інтегральні схеми аналого-цифрових та з 8542
цифроаналогових перетворювачів наведені
нижче:
а) аналого-цифрові перетворювачі, які мають
одну з таких ознак:
1) роздільна здатність 8 біт або більше,
але менше ніж 12 біт з повним часом
перетворення менше ніж 5 нс;
2) роздільна здатність 12 біт та повний
час перетворення менше ніж 200 нс;
3) роздільна здатність понад 12 біт з
повним часом перетворення менше ніж
2 мкс;
b) цифро-аналогові перетворювачі з
роздільною здатністю 12 біт або більше та
"часом установлювання" менше ніж 10 нс;
Технічні 1. Роздільна здатність розміром n біт
примітки. відповідає квантуванню 2 (в ступ. n)
рівнів.
2. Сумарний час перетворення є величиною
оберненою частоті дискредитації
(виборки).
6) електронно-оптичні або "оптичні
інтегральні схеми" для "оброблення
сигналів", які мають усі наведені нижче
характеристики:
a) один внутрішній "лазерний" діод або з 85421
більше;
b) один внутрішній світлочутливий елемент
або більше;
c) оптичні хвильоводи;
7) програмовані в користувача логічні з 8542
пристрої, які мають одну з наведених нижче
характеристик:
a) еквівалентна кількість вентилів понад
30000 (в переліку на двовходові);
b) типовий "час затримки розповсюдження
базового логічного елемента" менше ніж
0,4 нс;
с) тактова частота понад 133 МГц;
Примітка. Позиція 3.A.1.a.7 включає:
прості програмовані логічні пристрої (SPLD);
складні програмовані логічні пристрої
(CPLD);
вентильні матриці з експлуатаційним
програмуванням (FPGA);
логічні матриці з експлуатаційним
програмуванням (FPLA);
схеми з'єднань з експлуатаційним
програмуванням (FPIC).
Особлива Логічні пристрої з експлуатаційним
примітка. програмуванням, відомі також як вентильні
або логічні матриці з експлуатаційним
програмуванням.
3.A.1.a. 8) позицію виключено; з 8542
9) інтегральні схеми для нейронних мереж;
10) інтегральні схеми на замовлення, функція з 8542 30
яких не відома, або контрольний статус
обладнання, у якому будуть використовуватися
зазначені інтегральні схеми, не відомі
виробнику, що мають одну з наведених нижче
характеристик:
a) кількість виводів понад 1000;
b) типовий "час затримки розповсюдження
базового логічного елемента" менше
ніж 0,1 нс; або
c) робоча частота понад 3 ГГц;
11) цифрові інтегральні схеми, що 8542 13 99 00,
відрізняються від зазначених у позиціях 8542 14 99 00,
3.A.1.a.3 - 3.A.1.a.10 та 3.A.1.a.12, які 8542 19 98 00,
створені на основі будь-якого складного 8542 12 00 00
напівпровідника і мають одну з наведених
нижче характеристик:
a) еквівалентна кількість вентилів понад
3000 (у перерахунку на двовходові);
b) частота перемикання понад 1,2 ГГц;
12) процесори швидкісного перетворення з 8542, 8543
(FFT), які мають номінальний час виконання
для N-позначкового комплексного швидкісного
перетворення Фур'є менше ніж
(N log(2))/20480 мкс, де N - кількість
позначок
Технічна Якщо N дорівнює 1024 позначкам, формула у
примітка. позиції 3.A.1.a.12 визначає час виконання
500 мкс.
3.A.1.b. Прилади мікрохвильового та міліметрового
діапазону, наведені нижче:
1) електронні вакуумні лампи та катоди,
наведені нижче:
Примітка. Згідно з позицією 3.A.1.b.1 контролю не
підлягають лампи, призначені або нормовані
для роботи у будь-якій смузі частот, яка
відповідає всім наведеним нижче
характеристикам:
a) не перевищує 31 ГГц;
b) є "виділеною Міжнародним союзом
електрозв'язку" (ITU) для надання послуг
радіозв'язку, але не для радіовизначення.
a) лампи біжучої хвилі імпульсної або 8540 79 00 00
безперервної дії, наведені нижче:
1) з робочою частотою понад 31 ГГц;
2) які мають елемент підігрівання катода
з часом від моменту включення до
виходу лампи на номінальну
радіочастотну потужність менше
ніж 3 с;
3) із сполученими резонаторами або їх
модифікаціями з "відносною шириною
смуги частот" понад 7 відсотків або з
піковою потужністю понад 2,5 кВт;
4) із спіраллю або її модифікацією, які
мають одну з наведених нижче
характеристик:
a) "смуга пропускання" становить понад
1 октаву і добуток номінальної
середньої вихідної потужності (у
кВт) на максимальну робочу частоту
(у ГГц) становить понад 0,5;
b) "смуга пропускання" дорівнює 1
октаві або менше і добуток
номінальної, середньої вихідної
потужності (у кВт) на максимальну
робочу частоту (у ГГц) становить
понад 1;
c) за технічними умовами "придатні для
використання в космосі";
b) НВЧ-прилади - підсилювачі магнетронного 8540 71 00 00
типу з коефіцієнтом підсилення
понад 17 дБ;
c) інтегровані катоди для електронних ламп, 8540 79 00 00
які виробляють густину струму при
безперервній емісії, за штатних умов
експлуатації, понад 5 A/см (в ступ. 2);
2) інтегральні схеми або модулі 8542
мікрохвильового діапазону, що мають наведені
нижче характеристики:
a) містять "монолітні інтегральні схеми", що
мають один або більше активних елементів
схеми;
b) працюють на частотах понад 3 ГГц;
Примітки. 1) Згідно з позицією 3.A.1.b.2 контролю не
підлягають схеми або модулі для
обладнання, призначеного або нормованого
для роботи у будь-якій смузі частот, що
відповідає наведеним нижче
характеристикам:
a) не перевищує 31 ГГц;
b) є "виділеною Міжнародним союзом
електрозв'язку (ITU)" для надання
послуг радіозв'язку, але не для
радіовизначення.
2) Згідно з позицією 3.A.1.b.2 контролю не
підлягає обладнання радіомовних
супутників, призначене або нормоване для
роботи в діапазоні частот від 40,5 до
42,5 ГГц.
3.A.1.b. 3) мікрохвильові транзистори, призначені для 8541
роботи на частотах понад 31 ГГц;
4) мікрохвильові твердотільні підсилювачі, 8543
які:
a) працюють на частотах понад 10,5 ГГц і
мають "смугу пропускання" понад
півоктави; або
b) працюють на частотах понад 31 ГГц;
5) смугові або загороджувальні фільтри з 8529
електронним або магнітним налагодженням, які
мають понад 5 налагоджувальних резонаторів,
що забезпечують налагодження в смузі частот,
з відношенням максимальної та мінімальної
частот 1,5:1 менше ніж за 10 мкс і мають
одну з наведених нижче характеристик:
a) смуга частот пропускання становить понад
0,5 відсотка резонансної частоти;
b) смуга заглушення становить менше ніж
0,5 відсотка резонансної частоти;
6) мікрохвильові блоки, здатні працювати на 8529
частотах понад 31 ГГц;
7) змішувачі та перетворювачі, спроектовані
для розширення діапазону частоти обладнання,
зазначеного в позиціях 3.A.2.c, 3.A.2.e або
3.A.2.f, та не відповідають характеристикам,
що наведені в них;
8) мікрохвильові підсилювачі потужності, які
містять вузли, що підлягають контролю згідно
з позицією 3.A.1.b, і мають наведені нижче
характеристики:
a) операційні частоти понад 3 ГГц;
b) середня щільність вихідної потужності
понад 80 Вт/кг; та
c) об'єм менше ніж 400 см (в ступ. 3)
Примітка. Згідно з позицією 3.A.1.b.8 контролю не
підлягає обладнання, призначене або
нормоване для роботи у будь-якій смузі
частот, що є "виділеною Міжнародним союзом
електрозв'язку (ITU)" для надання послуг
радіозв'язку, але не для радіовизначення.
3.A.1.c. Прилади на акустичних хвилях, наведені
нижче, та спеціально спроектовані для них
компоненти:
1) прилади на поверхневих акустичних хвилях 8541 60 00 00
і акустичних хвилях у тонкій підкладці
(тобто прилади для "оброблення сигналів", що
використовують пружні хвилі в матеріалі),
які мають одну з наведених нижче
характеристик:
a) несуча частота понад 2,5 ГГц;
b) несуча частота понад 1 ГГц, але не більше
2,5 ГГц, і мають одну з наведених нижче
характеристик:
1) частотне заглушення бокових пелюстків
діаграми направленості понад 55 дБ;
2) добуток максимального часу затримки (у
мкс) і "миттєвої ширини смуги частот"
(у МГц) понад 100;
3) "миттєва ширина смуги частот" понад
250 МГц;
4) затримка поширення понад 10 мкс;
c) несуча частота, яка дорівнює 1 ГГц або
менше і має одну з наведених нижче
характеристик:
1) добуток максимального часу затримки (у
мкс) і "миттєвої ширини смуги частот"
(у МГц) понад 100;
2) затримка поширення понад 10 мкс;
3) частотне заглушення бокових пелюстків
діаграми направленості понад 55 дБ та
ширина смуги частот понад 50 МГц;
2) прилади на об'ємних акустичних хвилях 8541 60 00 00
(тобто прилади для "оброблення сигналів",
які використовують пружні хвилі в
матеріалі), що забезпечують безпосереднє
"оброблення сигналів" на частотах
понад 1 ГГц;
3) акустооптичні прилади "оброблення 8541 60 00 00
сигналів", які використовують взаємодію між
акустичними хвилями (об'ємними чи
поверхневими) і світловими хвилями, що
забезпечує безпосереднє "оброблення
сигналів" або зображення, включаючи аналіз
спектра, кореляцію або згортку
3.A.l.d. Електронні прилади або схеми, які містять 8542 50 00 00
елементи, виготовлені з "надпровідних"
матеріалів, спеціально спроектовані для
роботи при температурах нижчих від
"критичної температури" хоча б для однієї з
"надпровідних" складових і мають одну з
наведених нижче характеристик:
1) наявність струмових перемикачів для
цифрових схем, які використовують
"надпровідні" вентилі, де добуток часу
затримки на вентиль (у секундах) і
розсіювання потужності на вентиль (у
ватах) нижче ніж 10 (в ступ. -14) Дж;
2) забезпечення селекції частоти на всіх
діапазонах частот з використанням
резонансних контурів з добротністю
понад 10000
3.A.1.e. Прилади високої енергії, наведені нижче:
1) батареї та фотоелектричні батареї,
наведені нижче:
Примітка. Згідно з позицією 3.A.1.e.1 контролю не
підлягають батареї об'ємом 27 см (в ступ. 3)
або менше (наприклад, стандартні вугільні
елементи або батареї R14).
a) первинні елементи і батареї із щільністю з 8506 60,
енергії понад 480 Вт х год./кг, які за 8506 80,
технічними умовами придатні для роботи в 8540 10 10 00
діапазоні температур нижчих від
243 K (-30 град. C) і вищих від
343 K (4-70 град. C);
b) підзаряджувальні елементи і батареї із з 8506 60,
щільністю енергії понад 150 Вт х год./кг 8506 80,
після 75 циклів заряду-розряду при струмі 8540 10 10 00
розряду, що дорівнює C/5 год. (де C -
номінальна ємність в а х год.), під час
роботи в діапазоні температур нижчих
від 253 K (-20 град. C) і вищих від
333 K (+60 град. C);
Технічна Щільність енергії розраховується множенням
примітка. середньої потужності у ватах (добуток
середньої напруги у вольтах і середнього
струму в амперах) на тривалість циклу
розрядження в годинах, за якого напруга на
розімкнутих клемах падає до 75 відсотків
номіналу, і діленням цього добутку на
загальну масу елемента (або батареї) в
кілограмах.
с) батареї, за технічними умовами "придатні з 8506 60,
для використання в космосі" та радіаційно 8506 80,
стійкі батареї на фотоелектричних 8540 10 10 00
елементах з питомою потужністю понад
160 Вт/м (в ступ. 2) при робочій
температурі 301 K (+28 град. C) і
вольфрамовому джерелі, яке нагріте
до 2800 K (+2527 град. C) і
створює енергетичну освітленість
1 кВт/м (в ступ. 2);
3.A.1.e. 2) накопичувачі великої енергії, наведені з 8506 60,
нижче: 8506 80,
a) накопичувачі енергії з частотою 8540 10 10 00
повторення менше ніж 10 Гц (одноразові
накопичувачі), що мають усі наведені
нижче характеристики:
1) номінальну напругу не менше ніж 5 кВ;
2) густину енергії не менше ніж
250 Дж/кг; та
3) загальну енергію не менше
ніж 25 кДж;
b) накопичувачі енергії з частотою з 8506 60,
повторення 10 Гц і більше (багаторазові 8506 80,
накопичувачі), які мають усі наведені 8540 10 10 00
нижче характеристики: з 8507 80
1) номінальну напругу не менше ніж 5 кВ,
2) щільність енергії не менше
ніж 50 Дж/кг;
3) загальну енергію не менше
ніж 100 Дж; та
4) кількість циклів заряду-розряду не
менше ніж 10000;
3) "надпровідні" електромагніти та 8505 19 90 00
соленоїди, спеціально спроектовані на повний
заряд або розряд менше ніж за 1 секунду, які
мають усі наведені нижче характеристики:
Примітка. Згідно з позицією 3.A.1.e.3 контролю не
підлягають "надпровідні" електромагніти або
соленоїди, спеціально спроектовані для
медичної апаратури магніторезонансної
томографії (MRI).
a) максимальну енергію під час розряду понад
10 кДж за першу секунду;
b) внутрішній діаметр струмопровідних
обмоток понад 250 мм; та
c) номінальну магнітну індукцію понад 8 T
або "сумарну густину струму" в обмотці
понад 300 A/мм (в ступ. 2)
3.A.1.f. Обертові перетворювачі абсолютного кутового 9031 80 31 10,
положення вала в код, які мають будь-яку з 9031 80 31 90,
наведених нижче характеристик: 8502 40
1) роздільність краще 1/265000 від повного
діапазону (18 біт);
2) точність краще ніж +(-) 2,5 кут/с
3.A.2. Електронна апаратура загального призначення,
[3A002] наведена нижче:
3.A.2.a. Записуюча апаратура, наведена нижче, і 8520 32 99 00
спеціально призначена для неї вимірювальна
стрічка:
1) накопичувачі на магнітній плівці для
аналогової апаратури, включаючи накопичувачі
з можливістю запису цифрових сигналів
(тобто, що використовують модуль цифрового
запису високої щільності (HDDR)), які мають
одну з наведених нижче характеристик:
a) смуга частот понад 4 МГц на електронний
канал або доріжку;
b) смуга частот понад 2 МГц на електронний
канал або доріжку при кількості доріжок
понад 42; або
c) помилка непогодження змінної шкали,
виміряна із застосуванням документів
Асоціації електронної промисловості
(EIA) або EIRIG, менше ніж +(-) 0,1 мкс;
Примітка. Аналогові магнітофони, спеціально створені
для цілей цивільного відео, не вважаються
накопичувачами на плівці.
2) цифрові відеомагнітофони, які мають з 8521 10,
максимальну роздільну здатність цифрового 8521 90 00 00
інтерфейсу понад 360 Мбіт/с;
Примітка. Згідно з позицією 3.A.2.a.2 контролю не
підлягають цифрові стрічкові
відеомагнітофони, спеціально спроектовані
для телевізійного запису з використанням
форми сигналу, що може включати форму
стисненого сигналу за стандартами або
рекомендаціями Міжнародного союзу
електрозв'язку (ITU), Міжнародної
електротехнічної комісії (IEC), Спілки кіно-
та телевізійних інженерів (SMPTE),
Європейського союзу радіомовлення (EBU) або
Інституту інженерів-спеціалістів в галузі
електротехніки та електроніки (IEEE), для
цивільного телебачення.
3) накопичувачі на магнітній плівці для з 8521 10
цифрової апаратури, що використовує методи
спірального сканування або фіксованих
магнітних головок, які мають одну з
наведених нижче характеристик:
a) максимальна пропускна здатність цифрового
інтерфейсу понад 175 Мбіт/с;
b) за технічними умовами "придатні для
використання в космосі";
Примітка. Згідно з позицією 3.A.2.a.3 контролю не
підлягають аналогові накопичувачі на
магнітній плівці, оснащені електронікою для
перетворення в цифровий запис високої
щільності (HDDR) та призначені для запису
тільки цифрових даних.
3.A.2.a. 4) апаратура з максимальною пропускною 8521 90 00 00
здатністю цифрового інтерфейсу понад
175 Мбіт/с, призначена для перетворення
цифрових відеомагнітофонів у пристрої запису
даних цифрової апаратури;
5) цифрові перетворювачі форми хвилі та з 8543
перехідні реєстратори, які мають усі
наведені нижче характеристики:
a) швидкість цифрового перетворення, що
дорівнює або більше ніж 200 млн. операцій
за секунду на розрядність 10 біт або
більше;
b) безперервна пропускна здатність 2 Гбіт/с
і більше
Технічна Для цих приладів з паралельною шиною
примітка. швидкість безперервної пропускної здатності
є добуток найбільшого обсягу слів на
кількість біт у слові.
Безперервна пропускна здатність - це найвища
швидкість, з якою прилад може виводити дані
в накопичувач без втрати інформації та
водночас підтримувати швидкість вимірювання
та функцію аналого-цифрового перетворення.
3.A.2.b. "Електронні збірки" "синтезаторів частоти", з 8543,
які мають "час перемикання частоти" з однієї 8570 10 90 00
на іншу менше ніж 1 мс
3.A.2.c. "Аналізатори сигналів", наведені нижче: з 8543,
1) "аналізатори сигналів", здатні 8570 10 90 00
аналізувати частоти понад 31 ГГц;
2) "динамічні аналізатори сигналів" із
"шириною смуги частот у реальному
масштабі часу" понад 500 кГц
Примітка. Згідно з позицією 3.A.2.c.2 контролю не
підлягають "динамічні аналізатори сигналів",
які використовують тільки фільтри із смугою
пропускання фіксованих частот (відомі також
під назвою октавних або фракційних октавних
фільтрів).
3.A.2.d. Генератори сигналів синтезаторів частот, які 8543 20 00 00
формують вихідні частоти з керуванням за
параметрами точності, короткочасної та
довгочасної стабільності, на основі або за
допомогою внутрішньої еталонної частоти і
мають одну з наведених нижче характеристик:
1) максимальна синтезована частота
понад 31 ГГц;
2) "час перемикання частоти" з однієї
заданої частоти на іншу менше ніж 1 мс;
3) фазовий шум однієї бокової смуги (SSB)
краще - (126 + 20 log(10) F - 20 log(10) f)
в одиницях дБ/Гц, де F - відхилення робочої
частоти в Гц, а f - робоча частота в МГц
Примітка. Згідно з позицією 3.A.2.d контролю не
підлягає обладнання, у якому вихідна частота
створюється шляхом додавання або віднімання
частот з двох або більше кварцових
генераторів чи шляхом додавання або
віднімання, з наступним множенням
результуючої частоти.
3.A.2.e. Мережеві аналізатори з максимальною робочою з 8543,
частотою понад 40 ГГц 8470 10 90 00
3.A.2.f. Приймачі-тестери мікрохвильового діапазону, 8527 90 98 00
які мають усі наведені нижче характеристики:
1) максимальну робочу частоту понад 40 ГГц;
2) здатні одночасно вимірювати амплітуду та
фазу
3.A.2.g. Атомні еталони частоти, які мають одну з 8543 20 00 00
наведених нижче характеристик:
1) довготривала стабільність (старіння)
менше (краще) 1 х 10 (в ступ. -11)/місяць;
2) за технічними умовами "придатні для
використання в космосі"
Примітка. Згідно з позицією 3.A.2.g.1 контролю не
підлягають рубідієві еталони, не "придатні
для використання в космосі".
3.B. ОБЛАДНАННЯ ДЛЯ ВИПРОБУВАННЯ, КОНТРОЛЮ
І ВИРОБНИЦТВА
3.B.1. Обладнання для виробництва
[3B001] напівпровідникових приладів або матеріалів,
наведене нижче, і спеціально створені
компоненти та оснащення для них:
3.B.1.a. Обладнання для епітаксійного вирощування,
наведене нижче, "кероване вмонтованою
програмою":
1) обладнання для епітаксійного вирощування, з 8419 89
здатне витримувати товщину епітаксійного
шару з відхиленням не більше
ніж 2,5 відсотка на відстані вздовж
пластини 75 мм або більше;
2) обладнання хімічного осадження з з 8419 89
металоорганічної парової фази (MOCVD),
спеціально розроблене для вирощування
кристалів складних напівпровідників за
допомогою хімічних реакцій між
матеріалами, зазначених у позиціях 3.C.3
або 3.C.4;
3) молекулярно-променеве обладнання 8417 80 10 00
епітаксійного вирощування, у якому
застосовані газові або твердотільні
джерела
3.B.1.b. Обладнання, "кероване вмонтованою 8456 10 10 00,
програмою", для іонної імплантації, яке має 8456 10 90 00
одну з наведених нижче характеристик:
1) енергетика пучка (прискорювальна напруга)
понад 1 МеВ;
2) спеціально спроектоване та оптимізоване
для функціонування при енергетиці пучка
(прискорювальній напрузі) менше
ніж 2 кеВ;
3) здатне до безпосереднього запису;
4) здатне до високоенергетичної імплантації
кисню в нагріту підкладку
напівпровідникового матеріалу
3.B.1.c. Обладнання, наведене нижче, для сухого з 8456 99,
травлення з використанням анізотропної 8456 91 00 00
плазми, "кероване програмою, що зберігається
в пам'яті":
1) з покасетним обробленням пластин та
завантаженням їх через завантажувальні
шлюзи, які мають одну з наведених нижче
характеристик:
a) призначене або оптимізоване для
створення критичних розмірів 0,3 мкм
або менше з точністю
+(-) 5 % (3 сигма);
b) призначене для генерації менше ніж
0,04 частки/см (в ступ. 2) з
вимірюваним розміром частки більше ніж
0,1 мм у діаметрі;
2) обладнання, спеціально спроектоване для
устаткування, яке підлягає контролю за
позицією 3.B.1.e та має одну з наведених
нижче характеристик:
a) призначене або оптимізоване для
створення критичних розмірів 0,3 мкм
або менше з точністю
+(-) 5 % (3 сигма);
b) призначене для генерації менше ніж
0,04 частки/см (в ступ. 2) з
вимірюваним розміром частки більше ніж
0,1 мм у діаметрі
3.B.l.d. Обладнання, "кероване вмонтованою з 8456 99,
програмою", для хімічного осадження з 8456 91 00 00
парової фази (CDV) та плазмової стимуляції,
наведене нижче:
1) з покасетним обробленням пластин і
подачею їх через завантажувальні шлюзи,
які мають одну з наведених нижче
характеристик:
a) призначене відповідно до технічних
умов виробника або оптимізоване для
створення критичних розмірів 0,3 мкм
або менше з точністю
+(-) 5% (3 сигма);
b) призначене для генерації менше ніж
0,04 частки/см (в ступ. 2) з
вимірюваним розміром частки більше ніж
0,1 мм у діаметрі;
2) обладнання, що спроектоване для
апаратури, яке підлягає контролю згідно з
позицією 3.B.1.e та має будь-яку з
наведених нижче характеристик:
a) призначене відповідно до технічних
умов виробника або оптимізоване для
створення критичних розмірів 0,3 мкм
або менше з точністю
+(-) 5% (3 сигма);
b) призначене для генерації менше ніж
0,04 частки/см (в ступ. 2) з
вимірюваним розміром частки більше ніж
0,1 мм у діаметрі
3.B.1.e. Багатокамерний центр оброблення 8456 10 10 00,
напівпровідникових пластин з автоматичним 8456 10 90 00,
завантаженням, "керований вмонтованою з 8456 99,
програмою", який має усі наведені нижче 8456 91 00 00
характеристики:
1) інтерфейси для завантаження та
вивантаження пластин, до яких повинно
бути приєднано понад два пристрої
технологічного оброблення
напівпровідників;
2) призначений для комплексної системи
послідовного багатопозиційного оброблення
пластин у вакуумі
Примітка. Згідно з позицією 3.B.1.e контролю не
підлягають автоматичні робототехнічні
системи завантаження пластин, не призначених
для роботи у вакуумі.
3.B.1.f. Обладнання літографії, "кероване вмонтованою 9009 22 90 00
програмою", наведене нижче:
1) обладнання багаторазового суміщення та
експонування (безпосередньо на підкладці)
або обладнання із крокового сканування
для оброблення пластин методами
фотооптичної або рентгенівської
літографії, яке має будь-яку з наведених
нижче характеристик:
a) наявність джерела освітлення з
довжиною хвилі коротшою ніж 350 нм;
b) спроможність виробляти зразки з
мінімальним визначеним типовим
розміром 0,35 мкм або менше;
Технічна Мінімальний визначений типовий розмір можна
примітка. розрахувати за формулою:
(довжина хвилі випромінювання світла в мк) х (K фактор)
MRF= ---------------------------------------------------------
цифрова апертура
де K фактор = 0,7, a MRF - мінімальний
визначений типовий розмір.
3.B.l.f. 2) обладнання, спеціально призначене для
виробництва шаблонів або оброблення
напівпровідникових приладів з
використанням сфокусованого електронного
пучка, що відхиляється, іонного пучка або
"лазерного" пучка, які мають будь-яку з
наведених нижче характеристик:
a) розмір плями менше ніж 0,2 мкм;
b) здатність виробляти малюнок з
мінімальними дозволеними проектними
нормами менше ніж 1 мкм;
c) точність суміщення краще +(-) 0,2 мкм
(3 сигма)
3.B.l.g. Шаблони (маски) або фотошаблони для 9010 90 10 00,
інтегральних схем, що підлягають контролю 9010 90 90 00
згідно з позицією 3.A.1
3.B.l.h. Багатошарові шаблони (маски) з фазозсувним 9010 90 10 00,
шаром. 9010 90 90 00
3.B.2. Обладнання для випробувань, "кероване 9031 80 39 10,
[3B002] вмонтованою програмою", спеціально 9031 80 39 90
призначене для випробувань готових
(оброблених) або напівфабрикатних
(необроблених) напівпровідникових приладів,
наведене нижче, і спеціально створені
компоненти та аксесуари до нього:
3.B.2.a. Для вимірювання S-параметрів транзисторних
приладів на частотах понад 31 ГГц
3.B.2.b. Для випробувань інтегральних мікросхем та їх
збірок, здатне виконувати функціональне
тестування (за таблицями істинності) з
частотою тестування рядків понад 333 МГц
Примітка. Згідно з позицією 3.B.2.b контролю не
підлягає апаратура, спеціально призначена
для випробувань:
1) "електронних збірок" або класу
"електронних збірок" для побутової або
ігрової електронної апаратури;
2) електронних компонентів, "електронних
збірок" або інтегральних схем, які не
підлягають експортному контролю;
3) запам'ятовуючі пристрої.
Технічна Для цілей цієї позиції частота тестування
примітка. рядків дорівнює максимальній частоті
цифрового режиму випробувального стенду.
Тому вона є еквівалентом найвищої швидкості
передачі даних, яку може забезпечити стенд у
немультиплексному режимі. Її також називають
швидкістю тестування, максимальною цифровою
частотою або максимальною цифровою
швидкістю.
3.B.2.c. Для випробувань мікрохвильових інтегральних
схем, що контролюються згідно з позицією
3.A.1.b.2.
3.C. МАТЕРІАЛИ
3.C.1 Гетероепітаксійні матеріали, які складаються 3818 00 90 00
[3C001] з підкладки та кількох послідовно нанесених
епітаксійних шарів, які мають будь-яку з
наведених нижче складових:
а) кремній;
b) германій;
c) карбід кремнію;
d) сполуки III/V на основі галію або індію.
Технічна Сполуки III/V - це полікристалічні, подвійні
примітка. або складні монокристалічні продукти,
складені з елементів ПIA (A3) та VA (B5)
груп періодичної системи елементів
Менделєєва (наприклад, арсенід галію,
арсенід галію-алюмінію, фосфід індію тощо).
3.C.2. Матеріали резистів і підкладки, наведені
[3C002] нижче, покриті резистами, що підлягають
контролю:
3.C.2.a. Позитивні резисти, призначені для 8541 40 99 00
напівпровідникової літографії, спеціально
пристосовані для використання з довжиною
хвилі менше ніж 350 нм
3.C.2.b. Усі резисти, призначені для використання під 8541 40 99 00
час експонування електронними та
іонними пучками, з чутливістю
0,01 мкКл/мм (в ступ. 2) або краще
3.C.2.c. Усі резисти, призначені для використання під 8541 40 99 00
час експонування рентгенівськими променями,
з чутливістю 2,5 мДж/мм (в ступ. 2) або
краще
3.C.2.d. Усі резисти, оптимізовані під технології 8541 40 99 00
формування малюнка, уключаючи силіційовані
резисти
Технічна Методи силіціювання - це процеси, які
примітка. включають оксидування поверхні резисту для
підвищення якості мокрого та сухого
проявлення.
3.C.3. Органо-неорганічні сполуки, наведені нижче:
[3C003]
3.C.3.a. Металоорганічні сполуки на основі алюмінію, з 2931 00 95,
галію або індію, які мають чистоту металевої 2931 00 95 00
основи понад 99,999 відсотка
3.C.3.b. Органо-миш'яковисті, органо-сурм'янисті та з 2931 00 95
органо-фосфорні сполуки, які мають чистоту
основи неорганічного елемента понад 99,999
відсотка
Примітка. Згідно з позицією 3.C.3 підлягають контролю
тільки ті сполуки, металеві, частково
металеві або неметалеві елементи яких
безпосередньо пов'язані з вуглецем
органічної частки молекули.
3.C.4. Гідриди фосфору, миш'яку або сурми, які 2848 00 00 00,
[3C004] мають чистоту понад 99,999 відсотка навіть 2850 00 10 00
після розведення інертними газами або воднем
Примітка. Згідно з позицією 3.C.4 контролю не
підлягають гідриди, що містять 20 відсотків
або більше молей інертних газів чи водню.
3.D. ПРОГРАМНЕ ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ
3.D.1. "Програмне забезпечення", спеціально з 8524
[3D001] створене для "розроблення" або "виробництва"
обладнання, що підлягає контролю згідно з
позиціями 3.A.1.b - 3.A.1.g або 3.B
3.D.2. "Програмне забезпечення", спеціально з 8524
[3D002] створене для "використання" в обладнанні,
"керованому вмонтованою програмою", що
підлягає контролю згідно з позицією 3.B
3.D.3. "Програмне забезпечення" для систем з 8524
[3D003] автоматизованого проектування (CAD), що має
усі наведені нижче характеристики:
3.D.3.a. Призначене для "розроблення"
напівпровідникових пристроїв або
інтегральних схем
3.D.3.b. Призначене для виконання або використання
будь-чого з наведеного нижче:
1) правил проектування або правил перевірки
(верифікації) схем;
2) моделювання схем за їх фізичною
топологією;
3) імітаторів літографічних процесів для
проектування
Технічна Імітатор літографічних процесів - це пакет
примітка. "програмного забезпечення", який
використовується на етапі проектування для
визначення послідовності операцій
літографії, травлення та осадження з метою
втілення маскувальних шаблонів у конкретні
топологічні малюнки провідників,
діелектриків або напівпровідникового
матеріалу.
Примітки.
1. Згідно з позицією 3.D.3 контролю не
підлягає "програмне забезпечення",
спеціально створене для опису принципових
схем, логічного моделювання, розкладення
або маршрутизації, перевірки топології
або розмноження шаблонів.
2. Бібліотеки, проектні атрибути або супутні
дані для проектування напівпровідникових
приладів або інтегральних схем
розглядаються як "технологія".
3.E. ТЕХНОЛОГІЯ
3.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 з 3705,
[3E001] загальних приміток для "розроблення" або 3706, 8524,
"виробництва" обладнання чи матеріалів, що 4901 99 00 00,
підлягають контролю згідно з позиціями 3.A, 4906 00 00 00
3.B або 3.C
3.E.2. "Технологія" відповідно до пункту 3
[3E002] загальних приміток інша, ніж та, що
контролюється згідно з позицією 3.E.1 для
"розроблення" або "виробництва" "мікросхем
мікропроцесорів", "мікросхем
мікрокомп'ютерів" та мікросхем
мікроконтролерів, що мають "сукупну
теоретичну продуктивність" ("CTP"), яка
дорівнює 530 мільйонам теоретичних операцій
за секунду (мегатопсів) або більше, а також
арифметично-логічний пристрій з шириною
доступу 32 біта або більше
Примітка. Згідно з позиціями 3.E.1 та 3.E.2 контролю
не підлягає "технологія" для "розроблення"
або "виробництва":
a) мікрохвильових транзисторів, що працюють
на частотах нижче ніж 31 ГГц;
b) інтегральних схем, що підлягають контролю
згідно з позиціями 3.A.1.a.3 - 3.A.1.a.12
і мають усі наведені нижче
характеристики:
1) використовують "технології" 0,5 мкм
або вище;
2) не містять багатошарових структур.
Технічна Термін "багатошарові структури" у підпункті
примітка. b.2 примітки не включає прилади, які містять
максимум два шари металу та два шари
полікремнію.
3.E.3. Інші "технології" для "розроблення" або з 3705,
[3E003] "виробництва": 3706, 8524,
4901 99 00 00,
4906 00 00 00
3.E.3.a. Вакуумних мікроелектронних приладів
3.E.3.b. Напівпровідникових приладів на
гетероструктурах таких, як транзистори з
високою рухомістю електронів (HEMT),
біполярні транзистори на гетероструктурі
(HBT), приладів з квантовими ямами або
приладів на надрешітках
3.E.3.c. "Надпровідних" електронних приладів
3.E.3.d. Підкладки плівок алмазу для електронних
компонентів
3.E.3.e. Підкладки, що мають структуру типу
"кремній-на-діелектрику" (SOI) для
інтегральних схем, у яких ізолятором є
двоокис кремнію
3.E.3.f. Кремній-вуглецеві підкладки для компонентів
електронних схем.
----------------------------------------------------------------------
Розділ 4. КОМП'ЮТЕРИ
----------------------------------------------------------------------
Номер | Найменування | Код товару
позиції | | згідно з
| | УКТ ЗЕД
----------------------------------------------------------------------
4. КОМП'ЮТЕРИ
Примітки. 1. Комп'ютери, супутнє обладнання та
"програмне забезпечення", що
використовуються в мережах зв'язку або в
"локальних мережах", підлягають контролю
з урахуванням критеріїв, зазначених у
частині 1 розділу 5 (Зв'язок).
2. Блоки управління, які безпосередньо через
магістралі або канали з'єднуються з
блоками центральних процесорів,
"оперативна пам'ять" або контролери
дисків не розглядаються як
телекомунікаційне обладнання, зазначене в
частині 1 розділу 5 (Зв'язок).
Особлива Статус контролю "програмного забезпечення",
примітка. спеціально призначеного для комутації
пакетів, визначається з урахуванням
критеріїв, зазначених у позиції 5.D.1
частини 1 розділу 5 (Зв'язок).
3. Комп'ютери, супутнє обладнання та
"програмне забезпечення", що виконують
функції криптографії, криптоаналізу або
інших видів захисту інформації у мережах
зв'язку або в обчислювальних мережах, або
такі, що обмежують електромагнітну
сумісність (EMC), підлягають контролю з
урахуванням критеріїв, зазначених у
частині 2 розділу 5 (Захист інформації).
4.A. СИСТЕМИ, ОБЛАДНАННЯ ТА КОМПОНЕНТИ
4.A.1. Електронні комп'ютери і супутнє обладнання, з 8471
[4A001] наведені нижче, та "електронні збірки" і
спеціально призначені для них компоненти:
4.A.1.a. Спеціально призначені і мають будь-яку з
наведених нижче характеристик:
1) розраховані для функціонування при
температурі навколишнього середовища
нижче 228 K (-45 град. C) або понад 358 K
(85 град. C);
Примітка. Згідно з позицією 4.A.1.a.1 контролю не
підлягають комп'ютери, спеціально призначені
для використання в цивільних автомобілях або
поїздах.
2) стійкі до радіації з параметрами, вищими
ніж будь-який з наведених нижче:
a) загальна доза - 5 х 10 (в ступ. 5) рад
(Si);
b) доза випромінювання, що викликає
збій - 5 х 10 (в ступ. 8) рад (Si)/c;
c) одиничний збій - 1 х 10 (в ступ. -7)
похибка/біт/день
4.A.1.b. Мають характеристики або виконують функції,
які перевищують межі, зазначені у частині 2
розділу 5 (Захист інформації)
Примітка. Згідно з позицією 4.A.1.b не підлягають
контролю електронні комп'ютери та пов'язане
з ними обладнання, коли вони супроводжують
їх користувача для персонального
використання користувачем.
4.A.2. "Гібридні комп'ютери", наведені нижче, 8471 10 10 00
[4A002] "електронні збірки" та спеціально призначені
для них компоненти:
4.A.2.a. Що містять "цифрові комп'ютери", які
підлягають контролю згідно з позицією 4.A.3
4.A.2.b. Що містять аналого-цифрові перетворювачі,
які мають усі наведені нижче характеристики:
1) 32 канали або більше;
2) роздільна здатність 14 біт (плюс знаковий
біт) або більше із швидкістю 200000
перетворень за секунду або більше
4.A.3. "Цифрові комп'ютери", "електронні збірки" і
[4A003] супутнє обладнання до них, наведене нижче,
та спеціально призначені для них компоненти:
Примітки. 1. Позиція 4.A.3 включає наведене нижче:
a) векторні процесори;
b) матричні процесори;
c) процесори цифрових сигналів;
d) логічні процесори;
e) обладнання для "поліпшення якості
зображення";
f) обладнання для "оброблення сигналу".
2. Статус контролю "цифрових комп'ютерів" та
супутнього обладнання до них, описаного у
позиції 4.A.3, визначається на підставі
статусу контролю згідно з іншими
системами або обладнанням, якщо:
a) "цифрові комп'ютери" або супутнє
обладнання до них мають істотне
значення для роботи іншого обладнання
або систем;
b) "цифрові комп'ютери" або супутнє
обладнання до них, яке не є "основним
елементом" інших систем або
обладнання;
та
Особливі 1) Статус контролю за обладнанням,
примітки. спеціально призначеним для "оброблення
сигналу" або "поліпшення якості
зображення" або спеціально призначеним
для іншого обладнання з функціями,
обмеженими функціональним призначенням
іншого обладнання, визначається статусом
контролю іншого обладнання, навіть якщо
воно перевищує критерій "основного
елемента".
2) Статус контролю "цифрових комп'ютерів"
або супутнього обладнання для
телекомунікаційних систем визначається з
урахуванням критеріїв, зазначених у
частині 1 розділу 5 (Зв'язок).
c) "технологія" для "цифрових
комп'ютерів" та супутнього обладнання,
що належить до них, регулюється
позицією 4.E.
4.A.3.a. Призначені або модифіковані для забезпечення з 8471 30,
"відмовостійкості" 8471 41 10 00
Примітка. Стосовно позиції 4.A.3.a "цифрові
комп'ютери" та супутнє обладнання не
вважаються призначеними або модифікованими
для забезпечення "відмовостійкості", якщо в
них використовується будь-що з наведеного
нижче:
1) алгоритми виявлення або виправлення
помилок, які зберігаються в "оперативній
пам'яті";
2) взаємозв'язок двох "цифрових комп'ютерів"
такий, що у разі відмови активного
центрального процесора очікувальний
процесор (який одночасно стежить за діями
центрального процесора) може забезпечити
продовження функціонування системи;
3) взаємозв'язок двох центральних процесорів
через канали передачі даних або з
використанням пам'яті загального
призначення такий, що забезпечує
можливість одному з них виконувати іншу
роботу, поки другий не відмовить, тоді
перший центральний процесор бере його
роботу на себе, щоб продовжити
функціонування системи;
4) синхронізація двох центральних
процесорів, виконана через "програмне
забезпечення" таким чином, що перший
центральний процесор розпізнає, коли
відмовляє другий центральний процесор, і
бере на себе виконання його завдання.
4.A.3.b. "Цифрові комп'ютери", які мають "сукупну з 8471 30,
теоретичну продуктивність" ("CTP") понад 8471 41 10 00
28000 Мегатопсів
4.A.3.c. "Електронні збірки", спеціально призначені з 8471 30
або модифіковані для підвищення
продуктивності "обчислювальних елементів"
шляхом об'єднання "обчислювальних елементів"
таким чином, що "сукупна теоретична
продуктивність" перевищує межу, зазначену в
позиції 4.A.3.b
Примітки. 1. Згідно з позицією 4.A.3.c підлягають
контролю лише "електронні збірки" та
запрограмовані взаємозв'язки, які не
перевищують меж, зазначених у позиції
4.A.3.b, у разі постачання їх у вигляді
необ'єднаних "електронних збірок".
Контролю не підлягають "електронні
збірки", які за своєю конструкцією
придатні тільки для використання як
супутнє обладнання, яке підлягає контролю
згідно з позицією 4.A.3.d або 4.A.3.e.
2. Згідно з позицією 4.A.3.c контролю не
підлягають "електронні збірки",
спеціально призначені для виробу або
цілого ряду виробів, які у своїй
максимальній конфігурації не перевищують
межу, зазначену в позиції 4.A.3.b.
4.A.3.d. Графічні акселератори або графічні з 8471 30,
співпроцесори, у яких швидкість обчислення 8543 85 95 00
"інтенсивності тривимірних векторів" понад
200 000 000
4.A.3.e. Обладнання, що здійснює аналого-цифрові з 8542
перетворення, які перевищують межі,
зазначені в позиції 3.A.1.a.5
4.A.3.f. Позицію виключено
4.A.3.g. Обладнання, спеціально призначене для 8525 20 91 00,
забезпечення зовнішнього міжсистемного 8525 20 99 00,
зв'язку "цифрових комп'ютерів" або 8543 85 95 00
супутнього обладнання, що дає змогу
здійснити зв'язок із швидкістю передачі
даних понад 1,25 Гбайт/с.
Примітка. Згідно з позицією 4.A.3.g контролю не
підлягає обладнання внутрішнього з'єднання
(наприклад, плати, шини тощо), обладнання
пасивного з'єднання, "контролери доступу до
мережі" або "контролери каналів зв'язку ".
4.A.4. Комп'ютери, наведені нижче, і спеціально з 8471
[4A004] призначене супутнє обладнання до них,
"електронні збірки" та компоненти для них:
4.A.4.a. "Комп'ютери із систолічною матрицею"
4.A.4.b. "Нейронні комп'ютери"
4.A.4.c. "Оптичні комп'ютери"
4.B. ОБЛАДНАННЯ ДЛЯ ВИПРОБУВАННЯ, КОНТРОЛЮ
І ВИРОБНИЦТВА - відсутнє
4.C. МАТЕРІАЛИ - відсутні
4.D. ПРОГРАМНЕ ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ
Примітка. Статус контролю за "програмним
забезпеченням" для "розроблення",
"виробництва" або "використання" обладнання,
описаного в інших розділах, визначається
відповідним розділом.
Статус контролю "програмного забезпечення"
для обладнання, описаного в цьому розділі,
пов'язаний з наведеним нижче.
4.D.1. "Програмне забезпечення", спеціально з 8524
[4D001] призначене або модифіковане для
"розроблення", "виробництва" або
"використання" обладнання або "програмного
забезпечення", зазначеного в позиціях 4.A
або 4.D
4.D.2. "Програмне забезпечення", спеціально з 8524
[4D002] призначене або модифіковане для підтримки
"технології", зазначеної в позиції 4.E
4.D.3. Спеціальне "програмне забезпечення", з 8524
[4D003] наведене нижче:
4.D.3.a. "Програмне забезпечення" операційної
системи, інструментарій для розроблення
"програмного забезпечення", а також
компілятори, спеціально призначені для
обладнання "багатопотокового оброблення
даних" у "початкових кодах"
4.D.3.b. Позицію виключено
4.D.3.c. "Програмне забезпечення", яке має
характеристики або виконує функції, які
перевищують межі, установлені в частині 2
розділу 5 (Захист інформації)
Примітка. Згідно з позицією 4.D.3.c контролю не
підлягає "програмне забезпечення", коли воно
супроводжує свого користувача для
персонального використання користувачем.
4.D.3.d. Операційні системи, спеціально призначені
для обладнання оброблення "в реальному
масштабі часу", які гарантують "час
латентності глобального переривання" менше
ніж 20 мкс
4.E. ТЕХНОЛОГІЯ
4.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 з 3705, 3706,
[4E001] загальних приміток для "розроблення", з 8524,
"виробництва" або "використання" обладнання 4901 99 00 00,
або "програмного забезпечення", що 4906 00 00 00
підлягають контролю згідно з позиціями 4.A
або 4.D
Примітка. Код технології згідно з УКТ ЗЕД визначається
кодом носія, на якому вона передається.
Технічна примітка
щодо обчислення "сукупної теоретичної продуктивності"
Скорочення, що вживаються в цій технічній примітці
"ОЕ" - "обчислювальний елемент" (типовий арифметично-логічний
пристрій);
ПК - плаваюча кома;
ФК - фіксована кома;
t - час виконання операції;
XOR - операція заперечення еквівалентності;
ЦП - центральний процесор;
ТП - теоретична продуктивність (одного "ОЕ");
"СТП" - "сукупна теоретична продуктивність" (усіх
"обчислювальних елементів");
R - ефективна швидкість обчислень;
ДС - довжина слова (кількість бітів);
L - коригування довжини слова (біта);
АЛП - арифметично-логічний пристрій;
х - знак множення.
Час вирішення "t" вимірюється в мікросекундах, ТП і "СТП" - у
мільйонах теоретичних операцій за секунду (мегатопсах), ДС - у
бітах.
Основний метод обчислення "СТП"
"СТП" - це вимір обчислювальної продуктивності в мегатопсах.
Для обчислення "СТП" конфігурації "обчислювальних елементів"
необхідно:
1) визначити ефективну швидкість обчислень (R)
"обчислювальних елементів";
2) виконати коригування на довжину слова (L) для цієї
швидкості (R) і в результаті отримати теоретичну продуктивність
(ТП) для кожного "ОЕ";
3) об'єднати ТП і одержати сумарну "СТП" для даної
конфігурації, що має понад один "ОЕ".
Докладний опис цих процедур наведено нижче.
Примітки. 1. Для об'єднання в підсистеми "обчислювальних
елементів", що мають загальну пам'ять та пам'ять
кожної підсистеми, обчислення "СТП" проводиться в два
етапи: спочатку "обчислювальні елементи" із загальною
пам'яттю об'єднуються в групи, а потім,
використовуючи запропонований метод, обчислюється
"СТП" груп для всіх "обчислювальних елементів", що не
мають загальної пам'яті.
2. "Обчислювальні елементи", швидкість дії яких обмежена
швидкістю роботи пристрою введення та виведення даних
і периферійних функціональних блоків (наприклад,
дисковода, контролерів системи передачі та дисплея),
не об'єднуються під час обчислення "СТП".
У таблиці демонструється метод обчислення R для кожного "ОЕ":
Етап 1: Ефективна швидкість обчислень
Для "обчислювальних елементів", Ефективна швидкість обчислень, R
що реалізують:
Примітка. Кожний "ОЕ" повинен
оцінюватися
самостійно.
Лише ФК 1
----------------------,
3 х t (ФК додавання)
якщо операції додавання немає,
то через множення:
1
---------------------,
t (ФК множення)
(R (ФК) якщо немає ні операції
додавання, ні операції множення,
R(ФК) обчислюється через
найшвидшу арифметичну операцію,
якою є:
1
------------------
3 х t (ФК)
(див. примітки X та Z)
Лише ПК 1
max -----------------,
t (ПК додавання)
1
---------------
t (ПК множення)
(R (ПК) (див. примітки X та Y)
ФК та ПК обчислюється як R(ФК),
так і R(ПК)
(R)
1
-----------,
3 х t(log)
Для простих логічних процесорів, де t(log) - це час виконання
що не виконують зазначені "операції заперечення
арифметичні операції еквівалентності", а якщо її
немає, враховується найшвидша
проста логічна операція.
(див. примітки X та Z)
Для спеціалізованих логічних R = R" х ДС/64,
процесорів, що не виконують де R" - кількість результатів за
зазначені арифметичні та логічні секунду, ДС - число бітів, над
операції якими виконується логічна
операція, а 64 - коефіцієнт, що
нормалізує під 64-розрядну
операцію
Примітка W. Після повного виконання конвеєрного оброблення даних у
кожному машинному циклі може бути визначена швидкість
оброблення "ОЕ", здатного виконувати одну арифметичну
або логічну операцію. Для таких "обчислювальних
елементів" у разі використання конвеєрного оброблення
даних ефективна швидкість обчислень (R) вища, ніж без
її використання.
Примітка X. Для "ОЕ", який виконує багаторазові арифметичні
операції за один цикл (наприклад, два додавання за
цикл або дві ідентичні логічні операції за цикл), час
обчислення t визначається за формулою:
час циклу
t = -------------------------------------------------.
кількість арифметичних операцій у циклі
"Обчислювальні елементи", що виконують різні типи
арифметично-логічних операцій в одному машинному
циклі, повинні розглядатися, як множина роздільних
"обчислювальних елементів", що працюють одночасно
(наприклад, "ОЕ", що виконує в одному циклі операції
додавання та множення, повинен розглядатися як два
"обчислювальних елементи", один з яких виконує
додавання за один цикл, а другий - множення за один
цикл).
Якщо в одному "ОЕ" реалізуються як скалярні, так і
векторні функції, то використовують значення
найкоротшого часу виконання.
Примітка Y. Якщо в "ОЕ" не реалізується ні додавання ПК, ні
множення ПК, а виконується ділення ПК, то
1
R(ПК) = -----------------------------.
t (ПК ділення)
Якщо в "ОЕ" реалізується обернена величина "ОЕ", але
не додавання ПК, не множення ПК або не ділення ПК,
тоді
1
R(ПК) = -----------------------------.
t (ПК оберненої величини)
Якщо немає і ділення, то виконується еквівалентна
операція. Якщо жодна із зазначених команд не
використовується, то R(ПК) = 0
Примітка Z. Проста логічна операція - операція, у якій в одній
команді виконується одна логічна дія не більше ніж над
двома операндами заданої довжини.
Складна логічна операція - операція, у якій в одній
команді виконуються багаторазові логічні дії над двома
або більше операндами та видається один або кілька
результатів.
Швидкість обчислень розраховується для всіх
апаратно-підтримуваних довжин операндів, при цьому
розглядаються обидві послідовні операції (якщо
підтримуються) та непослідовні операції, що
використовують найкоротші операції для кожної довжини
операнда, з урахуванням:
1) послідовних операцій або операції регістр-регістр.
Виключаються надзвичайно короткі операції, що
генеруються для операції на заздалегідь визначеному
операнді або операндах (наприклад, множення на 0
або 1). Якщо операцій типу регістр-регістр немає,
то слід керуватися пунктом 2;
2) найшвидшої операції регістр-пам'ять або
пам'ять - регістр. Якщо немає і таких, то слід
керуватися пунктом 3;
3) операції пам'ять - пам'ять.
У будь-якому випадку використовуйте найкоротші операції,
зазначені виробником у паспортних даних.
Етап 2: ТП для кожної довжини операнда ДС, що підтримується
Перерахуйте ефективну швидкість обчислень R (або R") з
урахуванням коригування довжини слова L, як наведено нижче:
ТП = R х L,
де L = (1/3 + ДС/96)
Примітка. Довжина слова (ДС), що використовується в цих
розрахунках, - це довжина операнда в бітах. (Якщо в
операції задіяні операнди різної довжини, то
користуйтеся максимальною ДС).
Комбінація мантиси АЛП та експоненти АЛП у процесорі з
плаваючою крапкою або функціональному пристрої
вважається одним "ОЕ" з ДС, що дорівнює кількості бітів
у представленні даних (32 або 64 розряди) під час
обчислення "СТП".
Це перелічення не застосовується до спеціалізованих логічних
процесорів, у яких "операція заперечення еквівалентності" не
використовується. У цьому випадку ТП = R.
Вибір максимального результуючого значення ТП для кожного:
"ОЕ", що використовує лише ФК (R(ФК);
"ОЕ", що використовує лише ПК (R(ПК);
"ОЕ", що використовує комбінацію ПК та ФК ОЕ (R);
простого логічного процесора, що не виконує жодної із
зазначених арифметичних операцій, та
спеціального логічного процесора, що не виконує жодної із
зазначених арифметичних або логічних операцій.
Етап 3: Розрахунок "СТП" для конфігурацій "обчислювальних
елементів", включаючи ЦП
Для ЦП з одним "ОЕ" - "СТП" = ТП (для "обчислювальних
елементів", що виконують операції як з ФК, так і з ПК, ТП = max
(ТП(ФК), ТП(ПК).
Для конфігурацій усіх "обчислювальних елементів", що працюють
одночасно, "СТП" обчислюється так:
Примітки. 1. Для конфігурацій, у яких усі "обчислювальні елементи"
одночасно не працюють, з можливих конфігурацій
"обчислювальних елементів" обирається конфігурація з
найбільшою "СТП". Значення ТП для кожного "ОЕ"
можливої конфігурації, що використовується для
підрахунку "СТП", обирається як максимально можливе
теоретичне значення.
Особлива Можливі конфігурації, у яких "обчислювальні елементи"
примітка. працюють одночасно, визначаються за результатами
роботи всіх "обчислювальних елементів", починаючи із
самого повільного "ОЕ" (він потребує більшої
кількості циклів для завершення операцій) та
закінчуючи найшвидшим "ОЕ". Конфігурація
"обчислювальних елементів", яка встановлюється
протягом обчислювального циклу, є можливою
конфігурацією.
Під час визначення результату повинні братися до
уваги всі технічні засоби та (або) схема обмеження
цілісності операцій, що перекриваються.
2. Один кристал інтегральної схеми або одна друкована
плата може вміщувати множину "обчислювальних
елементів".
3. Виробник обчислювальної системи в інструкції або
брошурі з експлуатації цієї системи оголошує про
наявність суміщених, паралельних або одночасних
операцій або дій.
4. Значення "СТП" не додається для конфігурацій "ОЕ",
взаємно пов'язаних у "локальні мережі", обчислювальні
мережі, об'єднані пристроями та контролерами
введення-виведення та будь-якими іншими
взаємопов'язаними системами передачі, реалізованими
програмними засобами.
5. Значення "СТП" повинні додаватися для множин
"обчислювальних елементів", спеціально призначених
для підвищення їх характеристик за рахунок об'єднання
"обчислювальних елементів", їх одночасної роботи із
загальною або колективною пам'яттю, у разі об'єднання
"обчислювальних елементів" в єдину конфігурацію
шляхом використання спеціально призначених технічних
засобів.
Це не стосується "електронних збірок", описаних у
позиції 4.A.3.d
"СТП" = ТП(1) + С(2) х ТП(2) + ... + С(n) х ТП(n),
де ТП(i) - теоретична продуктивність "обчислювальних
елементів, упорядкована відповідно до їх значень,
починаючи з ТП(1), що має найбільше значення, далі
ТП(2) і, нарешті, ТП(n), що має найменше
значення; i = 1, ..., n.
С(i) - коефіцієнт, що визначається силою
взаємозв'язків між "обчислювальними елементами";
i = 2, ..., n.
У разі множини "обчислювальних елементів", що працюють
одночасно та мають загальну пам'ять:
С(2) = С(3) = С(4) = ... = С(n) = 0,75.
Примітки. 1. Якщо "СТП" обчислена зазначеним методом і значення її
не перевищує 194 Мегатопсів, то С(i) може бути визначено
так:
0,75
С(i) = -------, (i = 22, ..., n),
Кк m
де Кк - корінь квадратний;
m - кількість "обчислювальних елементів" або груп
"обчислювальних елементів" загального доступу.
Умови:
1) ТП(i) кожного "ОЕ" або групи "обчислювальних
елементів" не перевищує 30 Мегатопсів;
2) загальний доступ "обчислювальних елементів" або групи
"обчислювальних елементів" до основної пам'яті
(виключаючи кеш-пам'ять) здійснюється загальним
каналом;
та
3) лише один "ОЕ" або група "обчислювальних елементів"
може використовувати канал у будь-який заданий час.
Особлива Зазначене вище не стосується товарів, що підлягають
примітка. контролю згідно з розділом 3.
2. Вважається, що "обчислювальні елементи" мають
загальну пам'ять, якщо вони адресуються до загального
блока твердотільної пам'яті. Ця пам'ять може включати
кеш-пам'ять, оперативну пам'ять або іншу внутрішню
пам'ять. Зовнішня пам'ять типу дисководів,
стрічкопротягувачів або дисків з довільним доступом
сюди не входить.
Для складних "обчислювальних елементів" або груп
"обчислювальних елементів", що не мають загальної пам'яті і
пов'язані одним або більше каналами передачі даних:
С(i) = 0,75 х k(i), якщо i = 2, ..., 32 (див. примітку нижче)
С(i) = 0,60 х k(i), якщо i = 33, ..., 64
С(i) = 0,45 х k(i), якщо i = 65, ..., 256
С(i) = 0,30 х k(i), якщо i більше 256),
де k(i) - min (S(i)/K(r), 1);
К(r) - нормалізуючий фактор, що дорівнює 20 Мбайт/с;
S(i) - сума максимальних швидкостей передавання даних (у
Мбайт/с) для всіх інформаційних каналів, які пов'язують i-й "ОЕ"
або групу "обчислювальних елементів", що мають загальну пам'ять.
Рівень С(i) базується на номері "ОЕ", але не на номері вузла.
Якщо обчислюється С(i) для групи "обчислювальних елементів",
то номер першого "ОЕ" в групі визначає власну межу для С(i).
Наприклад, у конфігурації груп, що складаються з трьох
"обчислювальних елементів", кожна 22-а група буде містити
"ОЕ"(64), "ОЕ"(65), "ОЕ"(66). Власна межа для С(i) для цих груп
дорівнює 0,60.
Конфігурація "обчислювальних елементів" або груп
"обчислювальних елементів" може бути визначена від найшвидшого до
найповільнішого, тобто:
ТП(1) (> або =) ТП(2) (> або =)...(> або =) ТП(n) та коли
ТП(i) = ТП(i+1), то від найбільшого до найменшого, тобто:
С(i) (> або =) С(i+1).
Примітка. k(i) - фактор не стосується "обчислювальних елементів"
від 2 до 12, якщо ТП(i), СЕ або групи "обчислювальних
елементів" понад 50 Мегатопсів, тобто С(i) для
"обчислювальних елементів" від 2 до 12 дорівнює 0,75.
----------------------------------------------------------------------
Розділ 5. Частина 1. ЗВ'ЯЗОК
----------------------------------------------------------------------
Номер | Найменування | Код товару
позиції | | згідно з
| | УКТ ЗЕД
----------------------------------------------------------------------
5. Частина 1. ЗВ'ЯЗОК
Примітки. 1. У цьому розділі визначається статус
контролю за компонентами, "лазерами",
випробувальним та "виробничим"
обладнанням, "програмним забезпеченням",
спеціально призначеними для використання
в системах та обладнанні зв'язку.
2. "Цифрові комп'ютери", супутнє обладнання
або "програмне забезпечення", яке є
суттєвим для використання і підтримки
засобів зв'язку, зазначених у цьому
розділі, розглядаються як спеціально
призначені компоненти за умови, що вони є
стандартними моделями, які звичайно
постачаються виробником. Це включає
розроблення, управління, використання або
рекламу комп'ютерних засобів або систем.
5.A.1. СИСТЕМИ, ОБЛАДНАННЯ І КОМПОНЕНТИ
5.A.1.a. Обладнання зв'язку будь-якого типу, що має з 8517
[5A001] будь-яку з наведених нижче характеристик, з 8525
властивостей або функцій: з 8527
1) спеціально призначене для захисту від з 8543
тимчасового електронного ефекту або
електромагнітного імпульсу, що виникають
під час ядерного вибуху;
2) спеціально розроблене з підвищеною
стійкістю до гамма-, нейтронного або
іонного випромінювання;
3) спеціально призначені для функціонування
за межами інтервалу температур від 218 K
(-55 град. C) до 397 K (124 град. C)
Примітки. 1. Згідно з позицією 5.A.1.a.3 підлягає
контролю лише електронне обладнання.
2. Згідно з позиціями 5.A.1.a.2 та 5.A.1.a.3
контролю не підлягає обладнання,
призначене або модифіковане для
використання на супутниках зв'язку.
5.A.1.b. Системи та обладнання зв'язку і спеціально з 8517
призначені компоненти та супутнє обладнання, з 8525
що мають будь-яку з наведених нижче з 8527
характеристик, функцій або особливостей: з 8543
1) системи підводного зв'язку, які мають
будь-яку з наведених нижче характеристик:
a) акустична несуча частота знаходиться 8518 50 90 00
за межами діапазону від 20 кГц
до 60 кГц;
b) з використанням електромагнітної 8525 20 91 00,
несучої частоти менше ніж 30 кГц; 8525 20 99 00
c) з використанням пристроїв керування 8525 20 91 00,
електронним випромінюванням; 8525 20 99 00
5.A.1.b. 2) радіоапаратура, яка функціонує в 8525 20 91 00,
діапазоні частот від 1,5 МГц до 87,5 МГц 8525 20 99 00,
і має будь-яку з наведених нижче з 8543 89,
характеристик:
а) наявність адаптивних пристроїв, що 8470 10 90 00
забезпечують приглушення сигналу
перешкод більше ніж на 15 дБ;
b) має все, наведене нижче:
1) автоматичне прогнозування та вибір
значень частот для оптимізації
"загальної швидкості цифрової
передачі";
2) наявність лінійного підсилювача 8525 10 90 00,
потужності, здатного одночасно 8525 20 91 00,
підтримувати множину сигналів з 8525 20 99 00
вихідною потужністю 1 кВт або
більше в частотному діапазоні від
1,5 МГц до 30 МГц або 250 Вт або
більше в частотному діапазоні від
30 МГц до 87,5 МГц, при "смузі
пропускання" одна октава або більше
і з вмістом гармонік та
спотворювань на виході краще ніж -
80 дБ;
3) радіоапаратура, яка використовує методи
"розширення спектра" (шумоподібні
сигнали) або методи "стрибкоподібного
переналагодження частоти"
(стрибкоподібної перебудови частоти) і
має будь-що з наведеного нижче:
a) наявність кодів розширення, що мають 8525 20 91 00,
можливість програмування користувачем; 8525 20 99 00
b) загальна ширина смуги частот передачі, 8525 20 91 00,
яка в 100 і більше разів перевищує 8525 20 99 00
смугу частот одного інформаційного
каналу і становить понад 50 кГц;
Примітка. Згідно з позицією 5.A.1.b.3.b контролю не
підлягає радіообладнання, спеціально
призначене для стільникових систем
радіозв'язку.
Примітка. Згідно з позицією 5.A.1.b.3 контролю не
підлягає обладнання, призначене для
експлуатації при вихідній потужності 1,0 Вт
або менше.
5.A.1.b. 4) радіоприймачі з цифровим керуванням, які з 8527
мають усі наведені нижче характеристики:
a) кількість каналів понад 1000;
b) мають "час перемикання частоти" менше
ніж 1 мс;
c) здійснюють автоматичний пошук або
сканують частину електромагнітного
спектра;
d) ідентифікують прийнятий сигнал або тип
передавача; або
Примітка. Згідно з позицією 5.A.1.b.4 контролю не
підлягає радіообладнання, спеціально
призначене для використання спільно із
стільниковими системами радіозв'язку.
5.A.1.b. 5) виконують функції цифрового "оброблення 8525 20 91 00,
сигналів", які забезпечують цифрове 8525 20 99 00,
кодування мови із швидкістю менше ніж з 8543 89
2400 біт/с
5.A.1.c. Волоконно-оптичні кабелі зв'язку, оптичні 8544 70 00 10,
волокна і спеціально призначені для них 8544 70 00 90,
компоненти та допоміжне обладнання, наведене 9001 10 10 00,
нижче: 9001 10 90 00,
9001 90 90 00
1) оптичні волокна завдовжки понад 500 м, що
мають міцність на розрив
2 х 10(9) H/м (в ступ. 2) або більше, яка
гарантована виробником;
Технічна Контрольні випробування: перевірка на
примітка. стадіях виготовлення або після виготовлення
полягає у прикладанні заданої напруги до
волокна завдовжки від 0,5 до 3 м на
швидкості ходу від 2 до 5 м/с під час
проходження волокон між провідними валами
приблизно 150 мм у діаметрі. При цьому
зовнішня навколишня температура становить
293 K (20 град. C), відносна вологість -
40 відсотків.
Для виконання контрольних випробувань можуть
застосовуватися інші національні стандарти.
2) волоконно-оптичні кабелі та допоміжне
обладнання, призначені для використання
під водою
Примітка. Згідно з позицією 5.A.1.c.2 контролю не
підлягають стандартні телекомунікаційні
кабелі та аксесуари для громадського
зв'язку.
Особливі 1. Для підводних складених кабелів, а також
примітки. з'єднувачів до них, дивися позицію
8.A.2.a.3.
2. Для волоконно-оптичних приладів
корпусного проникнення і з'єднувачів
дивися позицію 8.A.2.c.
5.A.l.d. "Фазовані антенні ґратки з електронним з 8529 10
керуванням діаграми направленості", які
працюють у діапазоні частот понад 31 ГГц
Примітка. Згідно з позицією 5.A.1.d контролю не
підлягають "фазовані антенні ґратки з
електронним скануванням променя" для систем
посадки, оснащених обладнанням та приладами,
що відповідають вимогам стандартів
Міжнародної організації цивільної авіації
(ICAO) для мікрохвильових систем посадки
(MLS).
5.B.1. ОБЛАДНАННЯ ДЛЯ ВИПРОБУВАННЯ, КОНТРОЛЮ
І ВИРОБНИЦТВА
5.B.1.a. Обладнання і спеціально призначені з 8543 89
[5B001] компоненти або аксесуари до нього, з 9026 80
спеціально призначені для "розроблення", з 9030 39
"виробництва" або "використання" обладнання, з 9030 89
функцій або ознак, що підлягають контролю з 9031 80
згідно з частиною 1 розділу 5 (Зв'язок)
Примітка. Згідно з позицією 5.B.1.a контролю не
підлягає обладнання для визначення
параметрів оптичних волокон, у якому не
використовуються напівпровідникові "лазери".
5.B.1.b. Обладнання і спеціально призначені
компоненти та аксесуари для нього,
спеціально призначені для "розроблення"
будь-якого з наведеного нижче обладнання
телекомунікаційної передачі або "керованого
програмою, що зберігається в пам'яті"
комутаційного обладнання:
1) обладнання, яке використовує цифрову
техніку, уключаючи "Режим асинхронної
передачі" ("ATM"), призначене для роботи
із "загальною швидкістю цифрової
передачі" понад 1,5 Гбіт/с;
2) обладнання, яке використовує "лазер" і
має будь-яку з наведених нижче
характеристик:
a) довжину хвилі передачі понад 1750 нм;
b) здійснює "оптичне підсилення";
c) використовує когерентну оптичну
передачу або когерентну оптичну
детекторну техніку (так звані оптичні
гетеродини або гомодинну техніку);
d) використовує аналогову техніку і має
смугу пропускання понад 2,5 ГГц;
Примітка. Згідно з позицією 5.B.1.b.2.d контролю не
підлягає обладнання, спеціально призначене
для "розроблення" систем комерційного
телебачення.
3) обладнання, у якому використовується
"оптична комутація";
4) радіообладнання, яке застосовує техніку
квадратурно-амплітудної модуляції (QAM) з
рівнем вище 128;
5) обладнання з використанням "загальних
сигнальних каналів", які працюють як в
непов'язаному, так і в квазіпов'язаному
режимах
5.C.1. МАТЕРІАЛИ - відсутні
5.D.1. ПРОГРАМНЕ ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ
5.D.1.a. "Програмне забезпечення", спеціально з 8524
[5D001] призначене або модифіковане для
"розроблення", "виробництва" або
"використання" обладнання, функцій або
ознак, зазначених у частині 1 розділу 5
(Зв'язок)
5.D.1.b. "Програмне забезпечення", спеціально з 8524
розроблене або модифіковане для підтримки
"технологій", зазначених у позиції 5.E.1
5.D.1.c. Спеціальне "програмне забезпечення",
наведене нижче:
1) "програмне забезпечення", спеціально
призначене або модифіковане для
забезпечення характеристик, функцій або
ознак обладнання, яке підлягає контролю
згідно з позиціями 5.A.1 або 5.B.1;
2) виключено;
3) "програмне забезпечення" інше, ніж в з 8524
машинних кодах, спеціально призначене для
"динамічної адаптивної маршрутизації"
5.D.1.d. "Програмне забезпечення", спеціально
призначене або модифіковане для
"розроблення" будь-якого з наведеного нижче
обладнання телекомунікаційної передачі або
"керованого програмою, що зберігається в
пам'яті" комутаційного обладнання:
1) обладнання, яке використовує цифрову
техніку, уключаючи "Режим асинхронної
передачі" ("ATM"), призначене для роботи
із "загальною швидкістю цифрової
передачі" понад 1,5 Гбіт/с;
2) обладнання, яке використовує "лазер" і
має такі характеристики:
a) довжину хвилі передачі понад 1750 нм;
або
b) використовує аналогову техніку і має
смугу пропускання понад 2,5 ГГц;
Примітка. Згідно з позицією 5.D.1.d.2.b не
контролюється "програмне забезпечення",
спеціально призначене або модифіковане для
"розроблення" систем комерційного
телебачення.
3) обладнання, у якому використовується
"оптична комутація";
4) радіообладнання, яке застосовує техніку
квадратурно-амплітудної модуляції (QAM) з
рівнем вище 128
5.E.1. ТЕХНОЛОГІЯ
5.E.1.a. "Технологія" відповідно до загальних з 3705,
[5E001] приміток для "розроблення", "виробництва" з 3706,
або "використання" (за винятком з 8524,
експлуатації) обладнання, функцій, ознак або 4901 99 00 00,
"програмного забезпечення", зазначеного у 4906 00 00 00
частині 1 розділу 5
5.E.1.b. Спеціальні "технології", наведені нижче: з 3705,
1) "технологія", "необхідна" для з 3706,
"розроблення" або "виробництва" з 8524,
обладнання зв'язку, спеціально 4901 99 00 00
призначеного для використання на борту
супутників;
2) "технологія" для "розроблення" або 4906 00 00 00
"використання" комплектів апаратури
"лазерного" зв'язку з можливістю
автоматичного захвату і супроводження
сигналу та підтримки зв'язку через
екзосферу або заглиблене (водне)
середовище;
3) "технологія" "розроблення" цифрових
стільникових систем радіозв'язку;
4) "технологія" для "розроблення" апаратури,
яка використовує методи "розширення
спектра", уключаючи методи
"стрибкоподібної перебудови частоти"
5.E.1.c. "Технологія", відповідно до загальних
приміток, для "розроблення" або
"виробництва" будь-якого з наведеного нижче
обладнання телекомунікаційної передачі або
"керованого програмою, що зберігається в
пам'яті" комутаційного обладнання:
1) обладнання, яке використовує цифрову
техніку, уключаючи "Режим асинхронної
передачі" ("ATM"), із "загальною
швидкістю цифрової передачі"
понад 1,5 Гбіт/с;
2) обладнання, яке використовує "лазер" і
має одну з наведених нижче характеристик:
a) довжину хвилі передачі понад 1750 нм;
b) здійснює "оптичне підсилення" з
використанням фторолегованих
волоконно-оптичних підсилювачів
(PDFFA);
c) використовує когерентну оптичну
передачу або когерентну оптичну
детекторну техніку (так звані оптичні
геретодини або гомодинну техніку);
d) використовує техніку мультиплексного
розподілу спектрального діапазону
(довжини хвилі) не менше ніж на 8
оптичних несучих частот в одному
оптичному вікні;
e) використовує аналогову техніку і має
смугу пропускання понад 2,5 ГГц;
Примітка. Згідно з позицією 5.E.1.c.2.e не
контролюється "технологія" для "розроблення"
або "виробництва" систем комерційного
телебачення.
3) обладнання, у якому використовується
"оптична комутація";
4) радіообладнання, яке має такі
характеристики:
a) застосовує техніку
квадратурно-амплітудної модуляції
(QAM) з рівнем вище 128;
або
b) працює з вхідними або вихідними
частотами понад 31 ГГц;
або
Примітка. Згідно з позицією 5.E.1.c.4.b не
контролюється "технологія" для "розроблення"
або "виробництва" обладнання, призначеного
або модифікованого для роботи в будь-якому
діапазоні частот, "виділеному ITU" для
надання послуг радіозв'язку, але не для
радіовизначення.
5) обладнання з використанням "загальних
сигнальних каналів", які працюють як в
непов'язаному, так і в квазіпов'язаному
режимах.
----------------------------------------------------------------------
Розділ 5. Частина 2. ЗАХИСТ ІНФОРМАЦІЇ
----------------------------------------------------------------------
Номер | Найменування | Код товару
позиції | | згідно з
| | УКТ ЗЕД
----------------------------------------------------------------------
5. Частина 2. ЗАХИСТ ІНФОРМАЦІЇ
Примітки. 1. У цьому розділі визначається статус
контролю за засобами "захисту
інформації", "програмним забезпеченням",
системами, "електронними збірками"
спеціального призначення, модулями,
інтегральними схемами, компонентами або
функціями, навіть якщо вони є
компонентами або "електронними збірками"
іншого обладнання.
2. Згідно з частиною 2 розділу 5 не
підлягають контролю вироби, коли вони
використовуються для індивідуальних
потреб.
3. Криптографічна примітка
Згідно з позиціями 5.A.2 і 5.D.2 контролю не
підлягають предмети, які відповідають всім
наведеним нижче параметрам:
a) предмети, які є загальнодоступними для
громадян і призначені для необмеженого
продажу в асортименті в пунктах
роздрібної торгівлі будь-яким з
наведених видів продажу:
1) безпосередній продаж;
2) продаж за поштовими замовленнями;
3) продаж з використанням електронних
засобів зв'язку;
4) продаж за телефонними замовленнями;
b) користувачі не можуть легко змінити
криптографічну функціональність;
c) предмети, призначені для встановлення
користувачем без потреби значної
допомоги з боку постачальника;
d) предмети, які не містять "симетричного
алгоритму", з довжиною ключа
понад 64 біт;
e) детальна інформація щодо предметів є в
наявності і за вимогою, у разі
необхідності, її може бути надано до
відповідного повноважного органу в
країні експортера з метою перевірки на
відповідність до умов, які згадані в
пунктах "a" - "d".
Технічна Згідно з частиною 2 розділу 5 контрольні
примітка. біти не враховуються при визначенні довжини
ключа.
5.A.2.*,**. СИСТЕМИ, ОБЛАДНАННЯ І КОМПОНЕНТИ
5.A.2.a. Системи, обладнання, "електронні збірки" з 8471,
[5A002] спеціального призначення, модулі та з 8542,
інтегральні схеми, призначені для "захисту 8543 89 95 00,
інформації", наведені нижче, та інші з 8543 90
спеціально призначені для цього компоненти:
Особлива Статус контролю приймального обладнання
примітка. глобальних навігаційних супутникових систем,
що містять або використовують пристрої
дешифрування, а саме, глобальної системи
місцевизначення (GPS) або глобальної
навігаційної супутникової системи (GLONASS),
визначається згідно з вимогами позиції
7.A.5.
5.A.2.a. 1) розроблені або модифіковані для
застосування "криптографії" з
використанням цифрових методів, які
виконують будь-які криптографічні
функції, відмінні від аутентифікації або
цифрової сигнатури і які мають одну з
наведених нижче характеристик:
Технічні 1. Аутентифікація та цифрова сигнатура
примітки. поєднується з ключем обслуговування.
2. Аутентифікація включає всі аспекти
контролю доступу, де незакодовані файли
або текст, за винятком тих, що
безпосередньо відносяться до пароля,
персональних ідентифікаційних номерів
(PINs) або звичайних даних для
запобігання від несанкціонованого
доступу.
3. До "криптографії" не відносяться
"фіксоване" ущільнення даних (при
архівації) або кодувальна техніка.
Примітка. Позиція 5.A.2.a.1 включає обладнання,
розроблене або модифіковане для
"криптографії" із застосуванням аналогових
принципів, реалізованих на цифровій техніці.
a) "симетричний алгоритм" з довжиною ключа
більше 56 біт;
b) "асиметричний алгоритм", де алгоритм
засекречування базується на будь-якому з
наведеного нижче:
1) факторизація (розкладання) цілих чисел
розрядністю більше 512 біт (наприклад,
RSA);
2) обчислення дискретних логарифмів в
мультиплікативній групі кінцевого поля
розрядністю більше 512 біт (наприклад,
Diffie-Hellman по Z/pZ);
3) дискретні логарифми з розрядністю
групи більше 112 біт (наприклад,
Diffie-Hellman по еліптичній кривій),
крім тих, що згадані в позиції
5.A.2.a.1.b.2;
5.A.2.a. 2) призначені або модифіковані для виконання
криптоаналітичних функцій;
3) виключено;
4) спеціально розроблені або модифіковані з
метою зменшення витоку інформації, у
формі сигналів-носіїв інформації, до
рівнів, які не шкідливі для здоров'я і
достатні для надійної безпеки або
задовольняють вимогам стандартів на
електромагнітні перешкоди;
5.A.2.a. 5) призначені або модифіковані з метою
використання "криптографічних" методів
генерації коду для "розширення спектра",
уключаючи стрибкоподібний код для систем
"стрибкоподібного переналагодження
частоти";
6) призначені або модифіковані для
проведення сертифікації або
сертифікованого "багаторівневого захисту"
або ізолювання користувача на рівні, який
перевищує клас B2 за критеріями оцінки
надійності комп'ютерних систем (TCSEC)
або на еквівалентному йому рівні;
7) кабельні системи зв'язку, призначені або з 8544
модифіковані з використанням механічних,
електричних або електронних пристроїв для
виявлення спроб та фактів
несанкціонованого доступу до них
Примітка. Згідно з позицією 5.A.2 контролю не
підлягають:
a) "персональні інтелектуальні картки", у
яких криптографічні можливості обмежені
для використання в обладнанні та
системах, за виключенням тих, які
контролюються пунктами від "b" до "f"
цієї примітки. Коли "Персональні
інтелектуальні картки"
багатофункціональні, тоді статус контролю
кожної функції оцінюється окремо;
b) приймальне обладнання для радіомовлення,
комерційного телебачення або подібних
видів радіомовлення та телебачення для
обмеженої аудиторії без цифрового
шифрування крім випадків, коли воно
використовується виключно для зворотньої
передачі телевізійним компаніям рекламної
інформації або інформації, що стосується
телепрограм;
c) обладнання, у якому функції дешифрування
не доступні користувачеві і яке було
спеціально розроблене і обмежене для
надання дозволу на будь-що з наведеного
нижче:
1) користування "програмним
забезпеченням" із захистом від
копіювання;
2) надання доступу до:
a) "програмного забезпечення" із
захистом від запису і копіювання;
або
b) інформації, що зберігається в
зашифрованій формі на носії
(наприклад, у зв'язку із захистом
прав інтелектуальної власності),
коли зазначений носій пропонується
для вільного продажу в ідентичних
комплектах;
3) одноразове копіювання аудіо-, відео
інформації, захищеної авторським
правом;
d) криптографічне обладнання,
спеціально призначене і обмежене
використанням в банківській справі
або для грошових операцій;
Технічна Термін "грошові операції" в примітці d
примітка. позиції 5.A.2 означає розрахункові та
кредитні операції.
e) портативні або мобільні радіотелефони для
цивільного використання (наприклад, для
використання у цивільних стільникових
системах радіозв'язку), які не можуть
здійснювати абонентське шифрування;
f) обладнання для бездротових телефонів, які
не можуть здійснювати абонентське
шифрування і мають, згідно з інструкцією
виробника, максимальний радіус дії без
додаткового посилення (тобто одноразовий
сигнальний імпульс, що надсилається між
терміналом і домашнім базовим блоком)
менше ніж 400 метрів.
5.A.3.*,**. ТЕХНІЧНІ ЗАСОБИ ТА ПРИСТРОЇ ДЛЯ ЗНЯТТЯ
ІНФОРМАЦІЇ З КАНАЛІВ ЗВ'ЯЗКУ ТА ІНШІ
ТЕХНІЧНІ ЗАСОБИ НЕГЛАСНОГО ОТРИМАННЯ
ІНФОРМАЦІЇ
5.A.3.a. Оптико-електронна техніка:
1) мініатюрні фотокамери, замасковані під з 9006
різні предмети;
2) об'єктиви, обладнані винесеною вхідною з 9002
зіницею типу "Pinhole";
3) мініатюрні теле-, відеокамери: з 8521, 8525
a) обладнані об'єктивом з винесеною
вхідною зіницею типу "Pinhole";
b) замасковані під різні предмети;
c) з чутливістю 0,01 лк і вище;
4) прилади нічного бачення з можливістю з 9005
реєстрації зображення;
5) технічні жорсткі та гнучкі ендоскопи з з 9013
каналом освітлення і діаметром меншим
ніж 10 мм
5.A.3.b. Переносні лазерні системи для вимірювання з 9013
малих переміщень та вібрації твердих
поверхонь
5.A.3.c. Мікрофони направленої дії, у тому числі з 8518
такі, що замасковані під різні предмети
5.A.3.d. Малогабаритні технічні засоби або пристрої: з 8525
1) радіомікрофони, замасковані під різні
предмети;
2) засоби зняття інформації з мереж та з 8518, 8520,
систем телекомунікацій, обладнані 8525, 8527,
спеціальними пристроями фіксації, 8543
збереження чи передачі отриманої
інформації, у тому числі з пристроями
дистанційного керування;
3) вібродатчики з пристроями підсилення та з 9031
передачі інформації по радіоканалу
5.A.3.e. Спеціальні засоби відмикання замикаючих 8301 70 00 00
пристроїв для негласного проникнення у
приміщення, сховища, транспортні засоби
тощо:
1) механічні;
2) електронні, у тому числі типу "Linklock" з 8471
5.A.3.f. Переносні рентгенівські системи з 9022
5.A.3.g. Оповіщувачі охоронної сигналізації, оснащені з 8531
вбудованою телекамерою та/або мікрофоном
5.B.2.*, **. ОБЛАДНАННЯ ДЛЯ ВИПРОБУВАННЯ, КОНТРОЛЮ
І ВИРОБНИЦТВА
5.B.2.а. Обладнання, спеціально призначене для: з 8471 8543
[5B002] 1) "розроблення" обладнання або функцій, що
підлягають контролю відповідно до частини
2 розділу 5, уключаючи вимірювальне або
випробувальне обладнання;
2) "виробництва" обладнання або функцій, що
підлягають контролю відповідно до частини
2 розділу 5, уключаючи вимірювальне,
випробувальне, ремонтне або виробниче
обладнання
5.B.2.b. Вимірювальне обладнання, спеціально з 8471
призначене для оцінки або підтвердження з 8543
функцій "захисту інформації", що підлягають
контролю згідно з позиціями 5.A.2, 5.A.3 або
5.D.2
5.C.2. МАТЕРІАЛИ - відсутні
5.D.2.*, **. ПРОГРАМНЕ ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ
5.D.2.a. "Програмне забезпечення", спеціально з 8524
[5D002] призначене або модифіковане для
"розроблення", "виробництва" або
"використання" обладнання або "програмного
забезпечення", що підлягають контролю згідно
з частиною 2 розділу 5
5.D.2.b. "Програмне забезпечення", спеціально з 8524
призначене або модифіковане для підтримки
"технологій", що підлягають контролю згідно
з позицією 5.E.2
5.D.2.c. Спеціальне "програмне забезпечення", з 8524
наведене нижче:
1) "програмне забезпечення", яке має
характеристики або може виконувати або
відтворювати функції обладнання, що
підлягає контролю відповідно до позицій
5.A.2, 5.A.3 або 5.B.2;
2) "програмне забезпечення" для сертифікації
"програмного забезпечення", що підлягає
контролю згідно з позицією 5.D.2.c.1
Примітка. Згідно з позицією 5.D.2 контролю не
підлягає:
a) "програмне забезпечення", що необхідне
для "використання" в обладнанні, яке не
підлягає контролю згідно з приміткою до
позиції 5.A.2;
b) "програмне забезпечення", що виконує
будь-які функції обладнання, яке не
підлягає контролю згідно з приміткою до
позиції 5.A.2.
5.E.2.*, **. ТЕХНОЛОГІЯ
5.E.2.a. "Технологія" відповідно до пункту 3 з 3705,
[5E002] загальних приміток для "розроблення", з 3708,
"виробництва" або "використання" обладнання з 8524,
або "програмного забезпечення", яке підлягає 4901 99 00 00,
контролю згідно з частиною 2 розділу 5 4906 00 00 00
(Захист інформації).
----------------------------------------------------------------------
Розділ 6. ОПТИКА І "ЛАЗЕРИ"
----------------------------------------------------------------------
Номер | Найменування | Код товару
позиції | | згідно з
| | УКТ ЗЕД
----------------------------------------------------------------------
6. ОПТИКА І "ЛАЗЕРИ"
6.A. СИСТЕМИ, ОБЛАДНАННЯ І КОМПОНЕНТИ
6.A.1. АКУСТИКА
[6A001]
6.A.1.a. Морські акустичні системи, наведені нижче,
обладнання і спеціально призначені для них
компоненти:
1) активні (що передають або передають та
приймають) системи, обладнання і
спеціально призначені для цього
компоненти, наведені нижче:
Примітка. Згідно з позицією 6.A.1.a.1 контролю не
підлягають:
a) гідролокатори глибини вертикальної дії
без функції сканування променя понад
+(-) 20 (град.) і які мають обмежене
використання для вимірювання глибини,
відстані до занурених або заглиблених
об'єктів або косяків риби;
b) акустичні буї, наведені нижче:
1) аварійні акустичні буї;
2) випромінювачі ультразвукових
імпульсів, спеціально призначені для
переміщення або повернення їх у
підводне положення.
а) широкооглядові системи вимірювання 9015 80 91 00,
глибини, призначені для картографування 9015 90 00 00
морського дна, які мають усі наведені
нижче характеристики:
1) призначені для вимірювання при кутах
відхилення променя від вертикалі понад
20 (град.);
2) призначені для вимірювання глибин
понад 600 м від поверхні води;
3) призначені для забезпечення будь-якої
з наведених нижче характеристик:
a) об'єднання кількох променів, вужчих
ніж 1,9 (град.);
b) точності вимірів глибини, отримані
шляхом усереднення окремих вимірів
в циклі вимірювання, кращі ніж 0,3
відсотка;
b) системи виявлення або визначення 9015 80 91 00,
місцезнаходження об'єкта, які мають 9015 90 00 00
будь-яку з наведених нижче характеристик:
1) частоту передачі нижче 10 кГц;
2) рівень звукового тиску понад 224 дБ
(1 мкПа на 1 м) для обладнання з
робочою частотою у діапазоні
від 10 кГц до 24 кГц включно;
6.A.1.a.1.b. 3) рівень звукового тиску понад 235 дБ
(1 мкПа на 1 м) для обладнання з
робочою частотою у діапазоні між
24 кГц та 30 кГц;
4) формування променів, вужчих ніж
1 (град.) на будь-якій осі та з
робочою частотою нижчою ніж 100 кГц;
5) призначені для функціонування на
відстані розпізнавання цілі
понад 5120 м;
6) призначені для нормального
функціонування на глибинах
понад 1000 м та мають датчики з
будь-якою наведеною нижче
характеристикою:
a) динамічно налагоджуються під тиск;
b) мають інший перетворювальний
елемент, відмінний від
цирконату-титанату свинцю;
6.A.1.a.1. c) акустичні прожектори, що мають 9015 80 91 00,
випромінювачі з 9015 90 00 00
п'єзоелектричними, магнітострикційними,
електрострикційними, електродинамічними
або гідравлічними елементами, які
функціонують незалежно або в певній
сукупності і мають одну з наведених
нижче характеристик:
Примітки. 1. Статус контролю за акустичними
прожекторами, які включають
випромінювачі, спеціально призначені для
іншої апаратури, визначається статусом
контролю за іншим обладнанням.
2. Згідно з позицією 6.A.1.a.1.c контролю не
підлягають електронні джерела, які
здійснюють тільки вертикальне зондування
або механічні (наприклад, пневмогармата
або пароударна гармата) або хімічні
(наприклад, вибухові) джерела.
6.A.1.a.1.c. 1) щільність миттєвої випромінюваної
акустичної потужності понад
0,01 мВт/мм (в ступ. 2)/Гц для
приладів, які працюють на частотах
нижче 10 кГц;
2) щільність безперервної випромінюваної
акустичної потужності, що понад
0,001 мВт/мм (в ступ. 2)/Гц для
приладів, які працюють на частотах
нижче 10 кГц;
Технічна Щільність акустичної потужності визначається
примітка. діленням вихідної акустичної потужності на
добуток площі випромінювальної поверхні та
робочої частоти.
3) здатність заглушення бокових пелюсток
понад 22 дБ;
6.A.1.a.1. d) акустичні системи, обладнання і 9015 80 11 00,
спеціально призначені компоненти для 9015 90 00 00
визначення положення надводних суден і
підводних апаратів, призначені для
функціонування на дистанції понад 1000 м
з точністю позиціонування менше ніж 10 м
(середньоквадратичне відхилення) під час
вимірювання на відстані 1000 м;
Примітка. Позиція 6.A.1.a.1.d включає:
a) обладнання, яке використовує когерентне
"оброблення сигналів" між двома або
більше буями і гідрофонні і пристрої
надводних суден або підводних апаратів;
b) обладнання, здатне здійснювати
автоматичну корекцію помилок швидкості
розповсюдження звуку для обчислення
місцезнаходження.
6.A.1.a. 2) пасивні (приймають у штатному режимі
незалежно від зв'язку з активною
апаратурою) акустичні системи, апаратура
і спеціально призначені для них
компоненти, наведені нижче:
a) гідрофони, які мають будь-яку з 9015 80 93 00
наведених нижче характеристик: 9015 90 00 00
Примітка. Контрольний статус гідрофонів, спеціально
призначених для іншого обладнання,
визначається контрольним статусом
зазначеного іншого обладнання.
1) містять гнучкі датчики безперервної дії
або збірки датчиків дискретної дії з
діаметром або завдовжки менше ніж 20 мм
та відстанню між елементами менше
ніж 20 мм;
2) мають будь-який з наведених нижче
чутливих елементів:
a) оптоволоконний;
b) п'єзоелектричний полімерний;
c) п'єзоелектричний з гнучкої кераміки;
3) гідрофони, що мають гідрозвукову
чутливість краще ніж - 180 дБ на
будь-якій глибині без компенсації
прискорення;
4) гідрофони, призначені для глибини понад
35 м, з гідрозвуковою чутливістю краще
ніж -186 дБ та компенсацією прискорення;
5) гідрофони, призначені для роботи на
глибинах понад 1000 м;
Технічна Гідрозвукова чутливість визначається як
примітка. двадцятикратний десятковий логарифм
відношення середньоквадратичної вихідної
напруги до опорної напруги 1 В, коли
гідрофонний датчик без попереднього
підсилювача розміщений в акустичному полі
плоскої хвилі із середньоквадратичним тиском
1 мкПа. Наприклад, гідрофон -160 дБ (опорна
напруга 1 В/мкПа) дасть вихідну напругу
10 (в ступ. -8) В у такому полі, у той же
час чутливість -180 дБ дасть вихідну
напругу 10 (в ступ. -9) В. Таким чином,
-160 дБ краще ніж -180 дБ.
6.A.1.a.2. b) акустичні гідрофонні ґратки, які 9015 80 93 00,
буксируються і мають будь-яку з 9015 80 99 00,
наведених нижче характеристик:
1) розміщення гідрофонної групи на 9015 90 00 00
відстані менше ніж 12,5 м ґратці;
2) призначені або здатні до модифікації 9015 80 93 00
для функціонування на глибині понад
35 м;
Технічна Здатність до модифікації, зазначена в
примітка. позиції 6.A.1.a.2.b.2, означає наявність
можливостей перемотування обмотки або
внутрішніх з'єднань для переміни розміщень
гідрофонної групи або меж робочих глибин.
Такими можливостями є: наявність запасних
витків обмотки понад 10 відсотків кількості
робочих витків або блоків налагодження
конфігурації гідрофонної групи або
внутрішніх пристроїв регулювання граничної
робочої глибини із здатністю
переналагодження та керування більше ніж
однією гідрофонною групою.
3) головні датчики, що підлягають контролю
згідно з позицією 6.A.1.a.2.d;
4) повздовжньо зміцнені кабельні ґратки;
5) зібрана ґратка діаметром менше ніж 40 мм;
6) мультиплексна гідрофонна група, що
призначена для функціонування на глибинах
понад 35 м або має регульований або
змінний датчик глибини для роботи на
глибинах понад 35 м;
7) гідрофонні характеристики, визначені у
позиції 6.A.1.a.2.a;
6.A.1.a.2. с) апаратура оброблення даних, спеціально 9015 80 93 00,
призначена для використання в акустичних 9015 80 99 00,
гідрофонних ґратках, які буксируються і 9015 90 00 00
мають "можливість програмування
користувачем" та часовий або частотний
метод оброблення і кореляції, уключаючи
спектральний аналіз, цифрову фільтрацію
і формування діаграми направленості
променя із застосуванням швидкого
перетворення Фур'є або інших перетворень
чи процесів;
6.A.1.a.2. d) датчики напряму, які мають усі, наведені 9015 80 93 00,
нижче характеристики: 9015 90 00 00
1) точність краще ніж +(-) 0,5(град.);
2) призначені для функціонування на
глибинах понад 35 м або мають
регульований або змінний датчик
глибини для функціонування на
глибинах понад 35 м;
e) донні або занурені кабельні мережі, які з 8544
мають будь-яку з наведених нижче 9015 80 93 00,
характеристик: 9015 80 99 00,
1) об'єднують гідрофони, визначені у 9015 90 00 00
позиції 6.A.1.a.2.a;
2) об'єднують сигнальні модулі
мультиплексних гідрофонних груп, які
мають усі наведені нижче
характеристики:
a) призначені для роботи на глибинах
понад 35 м або мають регульований
або змінний датчик глибини для
роботи на глибині понад 35 м;
b) здатні оперативно замінюватися
буксованими модулями акустичних
гідрофонних ґраток;
f) апаратура оброблення, спеціально 9015 80 93 00,
призначена для донних або занурених 9015 80 99 00,
кабельних систем, яка має "можливість 9015 90 00 00
програмування користувачем" та часовий
або частотний метод оброблення і
кореляції, уключаючи спектральний
аналіз, цифрову фільтрацію і формування
діаграми направленості променя із
застосуванням швидкого перетворення
Фур'є або інших перетворень або процесів
6.A.1.b. Апаратура акустичних лагів, призначена для 9015 80 93 00,
кореляційного вимірювання горизонтальної 9015 80 99 00,
складової швидкості носія апаратури відносно 9015 90 00 00
морського дна при відстані між носієм та
дном понад 500 м.
6.A.2. ОПТИЧНІ ДАТЧИКИ
[6A002]
6.A.2.a. Оптичні детектори, наведені нижче:
Примітка. Згідно з позицією 6.A.2.a контролю не
підлягають германієві або кремнієві
фотопристрої.
6.A.2.a. 1) твердотільні детектори, "придатні для 8541 40 99 00,
використання в космосі", наведені нижче: 8541 90 00 00
a) твердотільні детектори, "придатні для
використання в космосі", які мають усі
наведені нижче характеристики:
1) максимальний відгук на довжині хвилі
понад 10 нм, але не більше
ніж 300 нм;
2) відгук менше ніж 0,1 відсотка
відносно максимального відгуку на
довжині хвилі понад 400 нм;
b) твердотільні детектори, "придатні для
використання в космосі", які мають усі
наведені нижче характеристики:
1) максимальний відгук у діапазоні
довжини хвиль понад 900 нм, але не
більше ніж 1200 нм;
2) "сталу часу" відгуку 95 нс або
менше;
c) твердотільні детектори, "придатні для
використання в космосі", які мають
максимальний відгук у діапазоні довжини
хвиль понад 1200 нм, але не більше
30000 нм;
6.A.2.a. 2) електронно-оптичні підсилювачі яскравості 8541 40 99 00,
та спеціально призначені для них 8541 90 00 00
компоненти, наведені нижче: з 9013 80
a) електронно-оптичні підсилювачі 9013 90 10 00
яскравості, які мають усі наведені 9013 90 90 00
нижче характеристики:
1) максимальний відгук у діапазоні
хвиль понад 400 нм, але не більше
ніж 1050 нм;
2) мікроканальний анод для
електронного підсилення зображення
з кроком отворів (відстанню між
центрами) 15 мкм або менше;
3) фотокатоди, наведені нижче:
a) S-20, S-25 або багатолужні
фотокатоди із світловою
чутливістю понад 240 мкА/лм;
b) фотокатоди з GaAs або GaInAs;
c) інші напівпровідникові
фотокатоди на сполученнях
груп III - IV;
Примітка. Згідно з позицією 6.A.2.a.2.a.3.c контролю
не підлягають компаундні напівпровідникові
фотокатоди з максимальною інтегральною
чутливістю до світлового потоку 10 мА/Вт або
менше.
6.A.2.a.2. b) спеціально призначені компоненти,
наведені нижче:
1) мікроканальні плати з кроком отворів
(відстанню між центрами) 15 мкм або
менше;
2) фотокатоди з GaAs або GaInAs;
3) інші напівпровідникові фотокатоди на
сполученнях груп III - V;
Примітка. Згідно з позицією 6.A.2.a.2.b.3 контролю не
підлягають компаундні напівпровідникові
фотокатоди з максимальною інтегральною
чутливістю до світлового потоку 10 мА/Вт або
менше.
6.A.2.a. 3) "ґратки фокальної площини", не "придатні
для використання в космосі", наведені
нижче:
Технічна Лінійні або двомірні багатоелементні
примітка. детекторні ґратки далі називаються - "гратки
фокальної площини".
Примітки. 1. Позиція 6.A.2.a.3 містить
фотопровідникові ґратки та панель
сонячної батареї.
2. Згідно з позицією 6.A.2.a.3 контролю не
підлягають:
a) кремнієві "ґратки фокальної площини";
b) багатоелементні (не більше ніж 16
елементів) фотопровідні елементи в
оболонці або піроелектричні детектори
із застосуванням сульфіду свинцю або
селеніду свинцю;
c) піроелектричні детектори із
застосуванням будь-яких з наведених
нижче матеріалів:
1) сульфат тригліцерину та його
різновиди;
2) титанат цирконію-лантану-свинцю та
його різновиди;
3) танталат літію;
4) фторид полівінілідену та його
різновиди;
5) ніобат барію-стронцію та його
різновиди.
6.A.2.a.3. a) "ґратки фокальної площини", не "придатні
для використання в космосі", які мають
усі наведені нижче характеристики:
1) окремі елементи з максимальним
відгуком у межах діапазону хвиль
понад 900 нм, але не більше
ніж 1050 нм;
2) "сталу часу" відгуку менше
ніж 0,5 нс;
b) "ґратки фокальної площини", не "придатні
для використання в космосі", які мають
усі наведені нижче характеристики:
1) окремі елементи з максимальним
відгуком у межах діапазону хвиль
понад 1050 нм, але не більше ніж
1200 нм,
2) "сталу часу" відгуку 95 нс або
менше;
c) "гратки фокальної площини", не "придатні
для використання в космосі", які мають
окремі елементи з максимальним відгуком у
межах діапазону хвиль понад 1200 нм, але
не більше ніж 30000 нм
6.A.2.b. "Багатоспектральні датчики зображення" та 8540 89 90 00,
"моноспектральні датчики зображення", 8540 99 00 00
призначені для дистанційного зондування, які
мають одну з наведених нижче характеристик:
1) миттєве поле огляду (IFOV) менше ніж
200 мкрад; або
2) спеціально призначені для роботи у
діапазоні довжини хвиль понад 400 нм, але
не більше ніж 30000 нм і мають усі
наведені нижче характеристики:
a) забезпечують дані зображення на виході
в цифровому форматі;
b) мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
1) "придатні для використання в космосі";
2) призначені для повітряного базування з
використанням детекторів, що
відрізняються від кремнієвих, та з
миттєвим полем огляду менше
ніж 2,5 мрад
6.A.2.c. Апаратура формування зображень 8540 20 30 00,
"безпосереднього спостереження" у видимому 8540 99 00 00
або інфрачервоному діапазоні, яка містить
будь-який з наведених нижче пристроїв:
1) електронно-оптичні перетворювачі для
підсилення яскравості зображення,
зазначені у позиції 6.A.2.a.2.a;
2) "ґратки фокальної площини", які мають
характеристики, зазначені у позиції
6.A.2.a.3
Технічна Термін "безпосереднє спостереження"
примітка. стосується апаратури одержання зображень у
видимій та інфрачервоній частині спектра,
яка дає спостерігачу видиме зображення без
перетворення в електронний сигнал для
телевізійного дисплея і не забезпечує запису
або зберігання зображення фотографічним,
електронним або будь-яким іншим способом.
Примітка. Згідно з позицією 6.A.2.c контролю не
підлягає наведена нижче апаратура з
фотокатодами, що відрізняються від
фотокатодів на GaAs або GaInAs:
a) промислові або цивільні датчики охорони;
системи обліку або системи контролю за
дорожнім рухом чи рухом на підприємствах;
b) медична апаратура;
c) промислова апаратура для контролю,
аналізу або сортування матеріалів;
d) детектори полум'я для промислових печей;
e) апаратура, спеціально призначена для
лабораторного застосування.
6.A.2.d. Спеціальні опорні компоненти для оптичних
датчиків, наведені нижче: з 9013 80,
1) кріогенні охолоджувачі, "придатні для 9013 90 10 00,
використання в космосі"; 9013 90 90 00
2) кріогенні охолоджувачі, не "придатні для з 9013 80,
використання в космосі", які мають 9013 90 10 00,
температуру джерела охолодження, нижче 9013 90 90 00
ніж 218 K (-55 град. C), наведені нижче:
a) замкненого циклу із середнім часом
напрацювання на відмову (MTTF) або
середнім часом напрацювання між
відмовами (MTBF) понад 2500 год.;
b) мініохолоджувачі Джоуля-Томсона із
саморегулюванням та зовнішніми
діаметрами каналів менше ніж 8 мм;
3) оптичні чутливі волокна, спеціально 9001 90 90 00,
виготовлені композиційно або структурно з 9013 80,
або модифіковані за допомогою покриття 9013 90 10 00,
для чутливості до акустичних, термічних, 9013 90 90 00,
інерційних, електромагнітних або ядерних 9033 00 00 00
випромінювань
6.A.2.e. "Ґратки фокальної площини", "придатні для з 9013 80,
використання в космосі" з більш як 2048 9013 90 10 00,
елементами на ґратку, які мають максимальний 9013 90 90 00
відгук у діапазоні хвиль понад 300 нм, але
не більше ніж 900 нм.
6.A.3. КАМЕРИ
[6A003]
Особлива Камери, спеціально призначені або
примітка. модифіковані для підводного використання,
розглянуто у позиціях 8.A.2.d та 8.A.2.e.
6.A.3.a. Реєстраційні камери та спеціально призначені 9007 11 00 00,
для них компоненти, наведені нижче: 9007 19 00 00,
9007 91 90 00,
9007 92 00 00
Примітка. Реєстраційні камери, що контролюються згідно
з позиціями 6.A.3.a.3 - 6.A.3.a.5 і мають
модульну конструкцію, треба оцінювати за їх
максимальною продуктивністю, використовуючи
змінні блоки, які можуть бути використаними
відповідно до технічних умов виробника
камери.
1) високошвидкісні реєстраційні кінокамери з
форматом плівки від 8 до 16 мм включно, у
яких плівка безперервно рухається вперед
у процесі запису та в яких запис може
здійснюватися із швидкістю понад
13150 кадр/с;
Примітка. Згідно з позицією 6.A.3.a.1 контролю не
підлягають кінокамери, призначені для
цивільних цілей.
6.A.3.a. 2) механічні високошвидкісні камери, у яких
плівка не рухається, здатні вести запис
із швидкістю понад 1000000 кадр/с для
плівки завширшки 35 мм, для пропорційно
вищих швидкостей вужчої плівки або для
пропорційно менших швидкостей ширшої
плівки;
3) механічні або електронні
камери-фотохронографи із швидкістю запису
понад 10 мм/мкс;
4) електронні камери з кадровою
синхронізацією із швидкістю запису понад
1000000 кадр/с;
5) електронні камери, які мають усі наведені
нижче характеристики:
a) швидкість електронного затвору
(здатність стробування) менше
ніж 1 мкс на повний кадр;
b) час зчитування, який забезпечує
швидкість кадрування понад 125 повних
кадрів за секунду;
6) змінні блоки, які мають усі наведені
нижче характеристики:
a) спеціально призначені для
реєстраційних кінокамер, що мають
модульну конструкцію і підлягають
контролю згідно з позицією 6.A.3.a;
b) забезпечують відповідність цих
кінокамер характеристикам, зазначеним
у позиціях 6.A.3.a.3, 6.A.3.a.4 або
6.A.3.a.5 згідно із специфікаціями
виробника
6.A.3.b. Камери формування зображень, наведені нижче: 8521 90 00 00,
8522 90 93 00,
8522 90 98 00
Примітка. Згідно з позицією 6.A.3.b контролю не
підлягають телевізійні та відеокамери,
спеціально призначені для телебачення.
1) відеокамери, які містять твердотільні
датчики, що мають будь-яку з наведених
нижче характеристик:
a) понад 4 х 10 (в ступ. 6) "активних
пікселів" на твердотільній матриці
для монохромних (чорно-білих) камер;
b) понад 4 х 10 (в ступ. 6) "активних
пікселів" на твердотільній матриці для
кольорових камер з трьома
твердотільними матрицями;
c) понад 12 х 10 (в ступ. 6) "активних
пікселів" на твердотільній матриці для
кольорових камер з однією
твердотільною матрицею;
Технічна Для цілей цієї позиції цифрові відеокамери
примітка. слід оцінювати за максимальною кількістю
"активних пікселів", що використовуються для
фіксації рухомих зображень.
2) скануючі камери та системи скануючих
камер, які мають усі наведені нижче
характеристики:
a) лінійні детекторні матриці з більш як
8192 елементами на матрицю;
b) механічне сканування в одному напрямку;
3) камери формування зображень, які містять
підсилювачі яскравості зображення і мають
характеристики, зазначені у позиції
6.A.2.a.2.a;
4) камери формування зображень, які
включають "ґратки фокальної площини" і
мають характеристики, зазначені в позиції
6.A.2.a.3
Примітка. Згідно з позицією 6.A.3.b.4 контролю не
підлягають камери формування зображень, що
містять лінійні "ґратки фокальної площини" з
дванадцятьма або менше елементами, що не
використовують нагромаджування із затримкою
в межах елементу, призначені для будь-чого з
наведеного нижче:
а) промислові або цивільні сигнальні
пристрої оповіщення про проникнення
сторонніх, системи управління дорожнім
рухом чи рухом на підприємствах або
рахункові системи;
b) промислове обладнання, що
використовується для перевірки або
моніторингу теплових потоків у спорудах,
обладнанні чи технологічних процесах;
c) промислове обладнання, що
використовується для перевірки,
сортування або аналізу властивостей
матеріалів;
d) обладнання, спеціально призначене для
використання в лабораторіях;
e) медичне обладнання.
6.A.4. ОПТИКА
[6A004]
6.A.4.a. Оптичні дзеркала (рефлектори), наведені з 9002 90
нижче:
1) "деформовані дзеркала" (адаптивні
дзеркала), які мають суцільні або
багатоелементні поверхні та спеціальні
компоненти, здатні динамічно змінювати
розміщення елементів поверхні дзеркала з
частотою понад 100 Гц;
2) легкі монолітні дзеркала, які мають
середню "еквівалентну густину" менше ніж
30 кг/м (в ступ. 2) та загальну масу
понад 10 кг;
3) дзеркала або дзеркальні структури,
виготовлені з легких "композиційних" чи
піноподібних матеріалів, які мають
середню "еквівалентну густину" менше ніж
30 кг/м (в ступ. 2 та загальну масу понад
2 кг;
4) дзеркала для керування променем з
діаметром або довжиною більшої осі понад
100 мм, які мають неплощинність, що
дорівнює 1/2 довжини хвилі або краще
(довжина хвилі становить 633 нм), ширину
смуги керування понад 100 Гц
6.A.4.b. Оптичні компоненти, виготовлені із селеніду 9001 90 90 00
цинку (ZnSe) або сульфіду цинку (ZnS), із
спектром пропускання від 3000 до 25000 нм,
які мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
1) об'єм понад 100 см (в ступ. 3);
2) діаметр або довжину більшої осі
понад 80 мм і товщину (глибину) 20 мм
6.A.4.c. Компоненти для оптичних систем, "придатні
для використання в космосі", наведені нижче:
1) легкі оптичні елементи з "еквівалентною 9001 90 90 00
густиною" менше 20 відсотків, порівняно з
твердотільними пластинами тієї ж апертури
та товщини;
2) необроблені підкладки, оброблені 9001 90 90 00
підкладки, які мають захисні покриття
(одношарові чи багатошарові, металеві або
діелектричні, провідні, напівпровідні чи
ізолюючі) або мають захисні плівки;
3) сегменти або вузли дзеркал, призначені 9002 90 90 00
для встановлення у космосі в оптичній
системі із загальною апертурою,
еквівалентною або більшою 1 м у діаметрі;
4) виготовлені з "композиційних" матеріалів,
які мають коефіцієнт лінійного теплового
розширення, що дорівнює або менше ніж 5 х
10 (в ступ.-6) у будь-якому напрямку
координат
6.A.4.d. Апаратура оптичного контролю, наведена
нижче:
1) спеціально призначена для підтримання 9032 89 90 00,
профілю поверхні або орієнтації оптичних 9031 41 00 00,
компонентів, які "придатні для 9031 49 00 00,
використання в космосі" і підлягають 9031 49 90 00
контролю згідно з позицією 6.A.4.c.1 або
6.A.4.c.3;
2) має керування, стеження, стабілізацію або 9032 89 90 00,
юстирування резонатора у смузі частот, 9031 41 00 00,
яка дорівнює або більше ніж 100 Гц, та 9031 49 00 00
похибку 10 мкрад або менше;
3) карданові підвіси, які мають усі наведені 9032 89 90 00
нижче характеристики:
a) максимальний кут повороту
понад 5 (град.);
b) ширина смуги частот 100 Гц або більше;
c) похибки кутового наведення
200 мкрад або менше;
d) мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
1) діаметр або довжина більшої осі понад
0,15 м, але не більше ніж 1 м,
чутливість до кутових прискорень понад
2 рад/с (в ступ. 2); або
2) діаметр або довжина більшої осі понад
1 м та кутове прискорення
понад 0,5 рад/с (в ступ. 2);
4) спеціально призначені для підтримання 9032 89 90 00
юстирування фазованої антенної ґратки або
систем дзеркал з фазованими сегментами,
які складаються з дзеркал з діаметром
сегмента чи довжиною більшої осі 1 м або
більше
6.A.4.e. Асферичні оптичні елементи, які мають усі 9002 90 90 00
наведені нижче характеристики:
1) найбільший розмір оптичної апертури
більше ніж 400 мм;
2) шорсткість поверхні менше ніж 1 нм
(середньоквадратична) для довжин зняття
вимірів, що дорівнюють або
перевищують 1 мм;
3) абсолютну величину коефіцієнта лінійного
теплового розширення менше ніж
3 х 10 (в ступ. -6)/K при 25 град. C.
Технічні 1. "Асферичний оптичний елемент" - це
примітки. будь-який елемент, що використовується в
оптичній системі та поверхня або поверхні
зображення якого спроектовані таким
чином, щоб відрізнятися від форми
ідеальної сфери.
2. Від виробників вимагається вимірювати
шорсткість поверхні, зазначену в позиції
6.A.4.e.2, тільки в тих випадках, коли
цей оптичний елемент було спеціально
призначено або виготовлено таким, що має
чи перевищує контрольний параметр.
Примітка. Згідно з позицією 6.A.4.e контролю не
підлягають асферичні оптичні елементи, які
мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
a) найбільший розмір оптичної апертури менше
ніж 1 м, а відношення фокусної відстані
до апертури дорівнює або більше 4,5:1;
b) найбільший розмір оптичної апертури
дорівнює або більше ніж 1 м, а відношення
фокусної відстані до апертури дорівнює
або більше 7:1;
c) спроектовані як оптичні елементи Френеля,
флайай, смугові, призматичні або
дифракційні оптичні елементи;
d) виготовлені з боросилікатного скла та
мають коефіцієнт лінійного теплового
розширення більше ніж
2,5 х 10 (в ступ. -6)/K при 25 град. C;
або
e) є рентгенівським оптичним елементом, який
може функціонувати як внутрішнє дзеркало
(наприклад, трубчасті дзеркала).
Особлива Для асферичних оптичних елементів,
примітка. спеціально призначених для літографічного
обладнання, дивися позицію 3.B.1.
6. ЛАЗЕРИ
6.A.5. "Лазери", компоненти та оптичне обладнання,
[6A005] наведені нижче:
Примітки. 1. Імпульсні "лазери", наведені нижче,
включають "лазери", які працюють у
безперервному режимі (CW) з імпульсним
випромінюванням.
2. "Лазери" імпульсного збудження включають
"лазери", які працюють у режимі
безперервного збудження з додатковою
імпульсною накачкою.
3. Статус експортного контролю раманівських
"лазерів" визначається параметрами
"лазерного" джерела накачування.
"Лазерами" з джерелом накачування можуть
бути будь-які з наведених нижче
"лазерів".
6.A.5.a. Газові "лазери", наведені нижче: 9013 20 00 00,
1) ексимерні "лазери", які мають будь-яку з 9013 90 10 00,
наведених нижче характеристик: 9013 90 90 00
a) довжину хвилі вихідного
випромінювання, що не перевищує
150 нм, та будь-яку з наведених нижче
характеристик:
1) вихідну енергію в імпульсі понад
50 мДж;
2) середню вихідну потужність понад
1 Вт;
b) довжину хвилі вихідного випромінювання
понад 150 нм, але не більше
ніж 190 нм, та будь-яку з наведених
нижче характеристик:
1) вихідну енергію в імпульсі понад
1,5 Дж;
2) середню вихідну потужність понад
120 Вт;
c) довжину хвилі вихідного випромінювання
понад 190 нм, але не більше
ніж 360 нм, та будь-яку з наведених
нижче характеристик:
1) вихідну енергію в імпульсі понад
10 Дж;
2) середню вихідну потужність понад
500 Вт;
d) довжину хвилі вихідного випромінювання
понад 360 нм та будь-яку з наведених
нижче характеристик:
1) вихідну енергію в імпульсі понад
1,5 Дж;
2) середню вихідну потужність понад
30 Вт;
Особлива Для ексимерних "лазерів", спеціально
примітка. призначених для літографічного обладнання,
дивися позицію 3.B.1.
6.A.5.a. 2) "лазери" на парах металів, наведені 9013 20 00 00
нижче:
a) мідні (Cu) "лазери", які мають середню
вихідну потужність понад 20 Вт;
b) золоті (Au) "лазери", які мають
середню вихідну потужність понад 5 Вт;
c) натрієві (Na) "лазери", які мають
вихідну потужність понад 5 Вт;
d) барієві (Ba) "лазери", які мають
середню вихідну потужність понад 2 Вт;
6.A.5.a. 3) "лазери" на моноокису вуглецю (CO), які 9013 20 00 00
мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
a) вихідну енергію в імпульсі понад 2 Дж
та імпульсну "пікову потужність" понад
5 кВт;
b) середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 5 кВт;
4) "лазери" на двоокису вуглецю (CO(2), які 9013 20 00 00
мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
a) вихідну потужність у безперервному
режимі понад 15 кВт;
b) імпульсне випромінювання з "тривалістю
імпульсу" понад 10 мкс та будь-яку з
наведених нижче характеристик:
1) середню вихідну потужність понад
10 кВт;
2) імпульсну "пікову потужність" понад
100 кВт;
c) імпульсне випромінювання з "тривалістю
імпульсу", що дорівнює або менше ніж
10 мкс та будь-яку з наведених нижче
характеристик:
1) енергію в імпульсі понад 5 Дж;
2) середню вихідну потужність понад
2,5 кВт;
5) "хімічні лазери", наведені нижче: 9013 20 00 00
a) воднево-фторові (HF) "лазери";
b) дейтерій-фторові (DF) "лазери";
c) "перехідні лазери", наведені нижче:
1) киснево-йодові (O(2)-I) "лазери";
2) дейтерій-фторові-двоокисвуглецеві
(DF-CO(2) "лазери";
6) криптонові іонні або аргонові іонні 9013 20 00 00
"лазери", які мають будь-яку з наведених
нижче характеристик:
a) вихідну енергію в імпульсі понад
1,5 Дж та імпульсну "пікову
потужність" понад 50 Вт;
b) середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 50 Вт;
7) інші газові "лазери", які мають будь-яку 9013 20 00 00
з наведених нижче характеристик:
Примітка. Згідно з позицією 6.A.5.a.7 контролю не
підлягають азотні "лазери".
6.A.5.a.7. а) довжину хвилі вихідного випромінювання
не більше ніж 150 нм та будь-яку з
наведених нижче характеристик:
1) вихідну енергію в імпульсі понад
50 мДж, імпульсну "пікову потужність"
понад 1 Вт;
2) середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 1 Вт;
b) довжину хвилі вихідного випромінювання
понад 150 нм, але не більше ніж 800 нм,
та будь-яку з наведених нижче
характеристик:
1) вихідну енергію в імпульсі понад
1,5 Дж, імпульсну "пікову потужність"
понад 30 Вт;
2) середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 30 Вт;
c) довжину хвилі вихідного випромінювання
понад 800 нм, але не більше ніж 1400 нм,
та будь-яку з наведених нижче
характеристик:
1) вихідну енергію в імпульсі понад
0,25 Дж, імпульсну "пікову
потужність" понад 10 Вт;
2) середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 10 Вт;
d) довжину хвилі вихідного випромінювання
понад 1400 нм та середню або вихідну
потужність у безперервному режимі
понад 1 Вт
6.A.5.b. Напівпровідникові "лазери", наведені нижче:
1) індивідуальні одномодові
напівпроводникові "лазери", які мають усі
наведені нижче характеристики:
a) довжину хвилі менше ніж 950 нм або
більше ніж 2000 нм;
b) середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 100 мВт;
2) індивідуальні, багатомодові 8541 40 11 00,
напівпровідникові "лазери", які мають усі 8541 40 19 00,
наведені нижче характеристики: 8541 90 00 00
a) довжину хвилі менше ніж 950 нм або
більше ніж 2000 нм;
b) середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 10 Вт;
3) індивідуальні матриці індивідуальних
напівпроводникових "лазерів", які мають
будь-яку з наведених нижче характеристик:
a) довжину хвилі менше ніж 950 нм і
середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 60 Вт;
b) довжину хвилі 2000 нм і більше та
середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 10 Вт
Технічна Напівпровідникові "лазери", відомі також як
примітка. "лазерні" діоди.
Примітки. 1. Позиція 6.A.5.b включає напівпровідникові
"лазери", що мають вихідні оптичні
з'єднувачі (наприклад, оптоволоконні
гнучкі виводи).
2. Статус експортного контролю
напівпровідникових "лазерів", спеціально
призначених для іншої апаратури,
визначається статусом державного контролю
цієї апаратури.
6.A.5.c. Твердотільні "лазери", наведені нижче: 9013 20 00 00,
1) "перестроювані" "лазери", які мають 9013 90 10 00,
будь-яку з наведених нижче характеристик: 9013 90 90 00
Примітка. Позиція 6.A.5.c.1 включає "лазери":
титано-сапфірові (Ti:Al(2)O(3); тулій-YAG
(Tm:YAG); тулій-YSGG (Tm:YSGG); на
олександриті (Cr:BeAl(2)O(4); та "лазери" на
центрах забарвлення.
a) довжину хвилі вихідного випромінювання
менше ніж 600 нм та будь-яку з наведених
нижче характеристик:
1) вихідну енергію в імпульсі понад
50 мДж, імпульсну "пікову потужність"
понад 1 Вт;
2) середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 1 Вт;
b) довжину хвилі вихідного випромінювання
600 нм або більше, але таку, що не
перевищує 1400 нм, та будь-яку з
наведених нижче характеристик:
1) вихідну енергію в імпульсі понад 1 Дж,
імпульсну "пікову потужність" понад
20 Вт;
2) середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 20 Вт;
c) довжину хвилі вихідного випромінювання
понад 1400 нм та будь-яку з наведених
нижче характеристик:
1) вихідну енергію в імпульсі понад
50 мДж, імпульсну "пікову потужність"
понад 1 Вт;
2) середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 1 Вт;
2) "неперестроювані" "лазери", наведені 9013 20 00 00
нижче:
Примітка. Позиція 6.A.5.c.2 включає твердотільні
"лазери" на атомних переходах.
6.A.5.c.2. a) "лазери" на неодимовому склі, наведені
нижче:
1) "лазери з модуляцією добротності",
які мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
a) вихідну енергію в імпульсі понад
20 Дж, але не більше ніж 50 Дж,
середню вихідну потужність понад
10 Вт;
b) вихідну енергію в імпульсі понад
50 Дж;
2) "лазери" без "модуляції добротності",
які мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
a) вихідну енергію в імпульсі понад
50 Дж, але не більше ніж 100 Дж,
середню вихідну потужність понад
20 Вт;
b) вихідну енергію в імпульсі понад
100 Дж;
b) "лазери" на середовищах (інших, ніж
скло), активованих неодимом, які мають
довжину хвилі вихідного випромінювання
понад 1000 нм, але не більше ніж 1100
нм, наведені нижче:
Примітка. "Лазери" на середовищах (інших, ніж скло),
активованих неодимом, які мають довжину
хвилі вихідного випромінювання не більше ніж
1000 нм або понад 1100 нм, включені до
позиції 6.A.5.c.2.c.
1) "лазери" з імпульсним збудженням і
"лазери з модуляцією добротності",
синхронізацією мод з "тривалістю
імпульсу" менше ніж 1 нс, які мають
будь-яку з наведених нижче характеристик:
a) "пікову потужність" понад 5 ГВт;
b) середню вихідну потужність понад
10 Вт; або
c) імпульсну енергію понад 0,1 Дж;
2) "лазери" з імпульсним збудженням і
"лазери з модуляцією добротності" з
"тривалістю імпульсу", що дорівнює або
більше ніж 1 нс, які мають будь-яку з
наведених нижче характеристик:
a) одномодове за поперечною модою вихідне
випромінювання, яке має:
1) "пікову потужність" понад 100 МВт;
2) середню вихідну потужність понад
20 Вт; або
3) імпульсну енергію понад 2 Дж;
b) багатомодове за поперечною модою
вихідне випромінювання, яке має:
1) "пікову потужність" понад 400 МВт;
2) середню вихідну потужність понад
2 кВт; або
3) імпульсну енергію понад 2 Дж;
6.A.5.c.2.b. 3) "лазери" з імпульсним збудженням без
"модуляції добротності", які мають:
a) одномодове за поперечною модою
вихідне випромінювання, яке має:
1) "пікову потужність" понад
500 кВт; або
2) середню вихідну потужність понад
150 Вт; або
b) багатомодове за поперечною модою
вихідне випромінювання, яке має:
1) "пікову потужність" понад
1 МВт; або
2) середню або вихідну потужність
понад 2 кВт;
4) "лазери" безперервного збудження, які
мають:
a) одномодове за поперечною модою
вихідне випромінювання, яке має:
1) "пікову потужність" понад
500 кВт; або
2) середню або безперервну
потужність понад 150 Вт;
b) багатомодове за поперечною модою
вихідне випромінювання, яке має:
1) "пікову потужність" понад 1 мВт;
або
2) середню або безперервну
потужність понад 2 кВт;
c) інші "неперестроювані" "лазери",
які мають будь-яку з наведених
нижче характеристик:
1) довжину хвилі менше ніж 150 нм
та:
a) вихідну енергію в імпульсі
понад 50 мДж та імпульсну
"пікову потужність" понад
1 Вт; або
b) середню або вихідну
потужність у безперервному
режимі понад 1 Вт;
2) довжину хвилі 150 нм або більше,
але не більше ніж 800 нм та:
a) вихідну енергію в імпульсі
понад 1,5 Дж та імпульсну
"пікову потужність" понад
30 Вт; або
b) середню або вихідну
потужність у безперервному
режимі понад 30 Вт;
3) довжину хвилі понад 800 нм, але
не більше ніж 1400 нм, наведені
нижче:
a) "лазери з модуляцією
добротності", які мають:
1) вихідну енергію в імпульсі
понад 0,5 Дж та імпульсну
"пікову потужність" понад
50 Вт; або
2) середню вихідну
потужність:
a) понад 10 Вт для
одномодових "лазерів"
за поперечною модою
випромінювання; та
b) 30 Вт для багатомодових
"лазерів" за поперечною
модою випромінювання;
6.A.5.c.2.c.3. b) "лазери" без "модуляції
добротності", які мають:
1) вихідну енергію в імпульсі понад
2 Дж та імпульсну "пікову
потужність" понад 50 Вт; або
2) середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 50 Вт;
або
6.A.5.c.2.c. 4) довжину хвилі понад 1400 нм та
будь-яку з наведених нижче
характеристик:
a) вихідну енергію в імпульсі понад
100 мДж та імпульсну "пікову
потужність" понад 1 Вт; або
b) середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 1 Вт
6.A.5.d. "Лазери" на барвниках та інших рідинах, які 9013 20 00 00
мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
1) довжину хвилі менше ніж 150 нм та:
a) вихідну енергію в імпульсі понад
50 мДж та імпульсну "пікову
потужність" понад 1 Вт; або
b) середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 1 Вт;
2) довжину хвилі 150 нм або більше, але не
більше ніж 800 нм та будь-яку з наведених
нижче характеристик:
а) вихідну енергію в імпульсі понад
1,5 Дж та імпульсну "пікову
потужність" понад 20 Вт;
b) середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 20 Вт; або
c) одномодовий за повздовжньою модою
генератор, який має середню вихідну
потужність понад 1 Вт та частоту
повторення імпульсів понад 1 кГц, якщо
"тривалість імпульсу" менша ніж
100 нc;
3) довжину хвилі понад 800 нм, але не більше
ніж 1400 нм, та будь-яку з наведених
нижче характеристик:
a) вихідну енергію в імпульсі понад
0,5 Дж, імпульсну "пікову потужність"
понад 10 Вт;
b) середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 10 Вт; або
4) довжину хвилі понад 1400 нм та будь-яку з
наведених нижче характеристик:
a) вихідну енергію в імпульсі понад
100 мДж, імпульсну "пікову потужність"
понад 1 Вт;
b) середню або вихідну потужність у
безперервному режимі понад 1 Вт
6.A.5.e. Компоненти, наведені нижче: 9002 90 90 00,
1) дзеркала, охолоджені або активним 9013 90 10 00,
охолодженням, або охолоджувальною 9013 90 90 00
системою на теплових трубах;
Технічна Активним охолодженням є метод охолодження
примітка. оптичних компонентів, в якому
використовується течія рідини по субповерхні
(як правило розташованої ближче ніж 1 мм від
оптичної поверхні) оптичного компонента для
відведення тепла від оптики.
2) оптичні дзеркала або прозорі, або 9002 90 90 00,
частково прозорі, оптичні або 9013 90 10 00,
електрооптичні компоненти, спеціально 9013 90 90 00
призначені для використання в "лазерах",
які підлягають контролю
6.A.5.f. Оптичне обладнання, наведене нижче: 9013 90 10 00,
9013 90 90 00,
9031 41 00 00,
9031 49 10 00,
9031 49 90 00
Особлива Оптичні елементи з розділеною апертурою,
примітка. здатні функціонувати у разі застосування
"надпотужного лазера" ("SHPL"), дивися
примітку 2.d до позиції 19 Списку товарів
військового призначення, міжнародні передачі
яких підлягають державному контролю,
затвердженого постановою Кабінету Міністрів
України від 8 грудня 1997 р. N 1358
( 1358-97-п ) (1358-97-п) .
1) обладнання для динамічного вимірювання
фази хвильового фронту принаймні 50
позицій на хвильовому фронті променя з
будь-якою з наведених нижче
характеристик:
a) частотою кадру, що дорівнює або більше
ніж 100 Гц, і фазовою дискримінацією
принаймні 5 відсотків та більше, ніж
довжина хвилі променя; або
b) частотою кадру, що дорівнює або більше
ніж 1000 Гц, і фазовою дискримінацією
принаймні 20 відсотків та більше, ніж
довжина хвилі променя;
2) обладнання "лазерної" діагностики із
здатністю системи вимірювання похибок
кутового керування променя "надпотужного
лазера" з точністю, що дорівнює або менше
ніж 10 мкрад;
6.A.5.f. 3) оптична апаратура і компоненти, спеціально
призначені для "надпотужного лазера" з
когерентним складанням променів з
точністю складання (лямбда)/10 на
призначеній довжині хвилі, або 0,1 мкм,
чи будь-яке менше значення;
4) захищені об'єктиви, спеціально призначені
для використання із системами
"надпотужних лазерів"
МАГНІТОМЕТРИ
6.A.6. "Магнітометри", "магнітні градієнтометри", 9015 80 93 00,
[6A006] "внутрішні магнітні градієнтометри" та 9015 90 00 00
компенсаційні системи і спеціально
призначені для них компоненти, наведені
нижче:
Примітка. Згідно з позицією 6.A.6 контролю не
підлягають прилади спеціального призначення
для біомагнітних вимірювань медичної
діагностики.
6.A.6.a. "Магнітометри" із застосуванням "технології" 9015 80 93 00
"надпровідності" з оптичною накачкою або
ядерною прецесією (протонною/Оверхаузера),
які мають середньоквадратичне значення
"рівня шуму" (чутливість) менше (краще) ніж
0,05 нТ, поділене на корінь квадратний з
частоти в Гц
6.A.6.b. "Магнітометри" з котушкою індуктивності, які 9015 80 93 00
мають середньоквадратичне значення "рівня
шуму" (чутливість) менше (краще) ніж
будь-яке з наведених нижче:
1) 0,05 нТ, середньоквадратичне значення,
поділене на корінь квадратний з частоти в
Гц - на частоті менше ніж 1 Гц;
2) 1 х 10 (в ступ.-3) нТ,
середньоквадратичне значення, поділене на
корінь квадратний з частоти в Гц - на
частоті 1 Гц і більше, але не більше ніж
10 Гц;
3) 1 х 10 (в ступ. -4) нТ,
середньоквадратичне значення, поділене на
корінь квадратний з частоти в Гц - на
частоті понад 10 Гц
6.A.6.c. Волоконно-оптичні "магнітометри" з 9015 80 93 00
середньоквадратичним значенням "рівня шуму"
(чутливістю) менше (краще) ніж 1 нТ,
поділеним на корінь квадратний з
частоти в Гц
6.A.6.d. "Магнітні градієнтометри", із застосуванням 9015 80 93 00
наборів "магнітометрів", наведених у
позиціях 6.A.6.a - 6.A.6.c
6.A.6.e. Волоконно-оптичні "внутрішні магнітні 9015 80 93 00
градієнтометри" із середньоквадратичним
значенням "рівня шуму" (чутливістю)
градієнта магнітного поля нижче (краще) ніж
0,3 нТ/м, поділеним на корінь квадратний з
частоти в Гц
6.A.6.f. "Внутрішні магнітні градієнтометри" з 9015 80 93 00
використанням "технології", відмінної від
волоконно-оптичної, із середньоквадратичним
значенням "рівня шуму" (чутливістю)
градієнта магнітного поля нижче (краще) ніж
0,015 нТ/м, поділеним на корінь квадратний з
частоти в Гц
6.A.6.g. Магнітокомпенсаційні системи для магнітних 9015 80 93 00
датчиків, призначених для функціонування на
пересувних платформах
6.A.6.h. "Надпровідні" електромагнітні датчики, що 9015 80 93 00
містять компоненти, виготовлені з
"надпровідних" матеріалів, і мають усі
наведені нижче характеристики:
1) призначені для функціонування при
температурі нижче "критичної температури"
і мають компоненти, принаймні один з яких
є "надпровідником" (включаючи пристрої на
ефекті Джозефсона або "надпровідні"
пристрої квантової інтерференції
(SQUIDS));
2) призначені для вимірювання змін
електромагнітного поля на частотах 1 кГц
або менше; та
3) мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
a) містять тонкоплівкові SQUIDS з
мінімальним характерним розміром менше
ніж 2 мкм та відповідними схемами
з'єднання входу та виходу;
b) призначені для функціонування при
максимальній швидкості нарощення
магнітного поля понад
1 х 10 (в ступ. 6) квантів магнітного
потоку за секунду;
c) призначені для функціонування без
магнітного екрана в навколишньому
земному магнітному полі; або
d) мають температурний коефіцієнт менше
ніж 0,1 кванта магнітного потоку на
Кельвін
ГРАВІМЕТРИ
6.A.7. Гравіметри та гравітаційні градієнтометри, 9015 80 93 00
[6A007] наведені нижче: 9015 90 00 00
6.A.7.a. Гравіметри, призначені або модифіковані для 9015 80 93 00
наземного використання із статичною точністю
менше (краще) ніж 10 мкгал
Примітка. Згідно з позицією 6.A.7.a контролю не
підлягають наземні гравіметри типу кварцових
елементів Вордена.
6.A.7.b. Гравіметри, призначені для мобільних 9015 80 93 00
платформ для наземного, морського,
підводного, космічного або авіаційного
застосування, які мають усі наведені нижче
характеристики:
1) статичну точність менше (краще)
ніж 0,7 мгал;
2) робочу експлуатаційну точність менше
(краще) ніж 0,7 мгал з часом реєстрації
стану готовності менше ніж 2 хв. у
будь-якій комбінації коригуючих
компенсацій та впливу руху
6.A.7.c. Гравітаційні градієнтометри
РАДІОЛОКАЦІЙНІ СИСТЕМИ
6.A.8. Радіолокаційні станції (РЛС), їх збірки, 8526 10 90 00,
[6A008] обладнання, що мають будь-яку з наведених з 8529 90,
нижче характеристик та спеціально призначені з 9013 80,
для них компоненти: з 9013 90,
Примітка. Згідно з позицією 6.A.8 контролю не
підлягають:
a) оглядова РЛС з активним відгуком (SSR);
b) автомобільні РЛС для запобігання
зіткненням;
c) дисплеї та монітори, що використовуються
для керування повітряним рухом (АТС) і
мають розподільну здатність 12 елементів
на 1 мм або менше;
d) метеорологічні (погодні) РЛС.
6.A.8.a. РЛС, що працюють на частотах від 40 ГГц до 8526 10 90 00
230 ГГц і мають середню вихідну потужність
понад 100 мВт
6.A.8.b. РЛС, ширина смуги пропускання 8526 10 90 00
перенастроювання яких понад +(-) 6,25
відсотка центральної робочої частоти
Технічна Центральна робоча частота дорівнює половині
примітка. суми найбільшої та найменшої точно
визначених робочих частот.
6.A.8.c. РЛС, здатні одночасно працювати більше ніж 8526 10 90 00
на двох несучих частотах
6.A.8.d. РЛС із синтезованою апертурою (SAR), РЛС з 8526 10 90 00
інверсійною синтезованою апертурою (ISAR)
або бортові РЛС бокового огляду (SLAR)
6.A.8.e. РЛС, що містять у своєму складі "фазовані 8526 10 90 00
антенні ґратки з електронним скануванням
променя"
6.A.8.f. РЛС, здатні виявляти висотні одиничні цілі 8526 10 90 00
Примітка. Згідно з позицією 6.A.8.f контролю не
підлягають РЛС точної посадки (PAR), що
відповідають вимогам ICAO.
6.A.8.g. РЛС, які спеціально призначені для 8526 10 90 00
повітряного базування (розміщені на
аеростаті або літальному апараті) і
здійснюють доплеровське "оброблення сигналу"
для розпізнавання рухомих цілей
6.A.8.h. РЛС, які використовують "оброблення сигналу" 8526 10 90 00
із застосуванням будь-якого з наведених
нижче методів:
1) "РЛС з розширеним спектром";
2) "РЛС із швидким переналагодженням
частоти"
6.A.8.i. Наземні РЛС, що мають максимальну "дальність 8526 10 90 00
визначення цілі" понад 185 км
Примітка. Згідно з позицією 6.A.8.i контролю не
підлягають:
a) РЛС для розвідки та спостереження косяків
риб;
b) наземне обладнання РЛС, спеціально
призначене для керування повітряним рухом
у польоті, якщо задовольняються усі
наведені нижче умови:
1) максимальна дальність визначення цілі
становить 500 км або менше;
2) спроектоване так, що радіолокаційні
дані стосовно цілі можуть передаватися
тільки по одному каналу від місця
знаходження РЛС до одного або більше
диспетчерських центрів керування
повітряним рухом (ATC);
3) не містить засобів для дистанційного
керування швидкістю сканування РЛС з
диспетчерського центру керування
повітряним рухом (ATC);
4) має бути стаціонарно встановленим;
c) РЛС супроводження метеорологічних
аеростатів.
6.A.8.j. "Лазерні" РЛС або метеорологічні "лазерні" 9013 80
локатори IЧ-діапазону (LIDAR), що мають
будь-яку з наведених нижче характеристик:
1) є "придатними для використання в
космосі";
2) використовують методи когерентного
гетеродинного або гомодинного
детектування і мають кутову розподільну
здатність менше (краще) ніж 20 мкрад
Примітка. Згідно з позицією 6.A.8.j контролю не
підлягають "лазерні" локатори IЧ-діапазону,
спеціально призначені для огляду та
метеорологічних спостережень.
6.A.8.k. РЛС, які мають підсистеми "оброблення 8521 10 80 00
сигналу", що використовують "стискання
імпульсу" і мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
1) коефіцієнт "стискання імпульсу"
понад 150;
2) тривалість імпульсу менше ніж 200 нс;
або
6.A.8.l. РЛС, які мають підсистеми "оброблення 8521 10 80 00
сигналу" та будьяку з наведених нижче
характеристик:
1) "автоматичне супроводження цілей", яке
забезпечує при будь-якому обертанні
антени передбачуване положення цілі поза
часом проходження наступного променя
антени;
Примітка. Згідно з позицією 6.A.8.l.1 контролю не
підлягають засоби видачі сигналу для
запобігання зіткненням у системах керування
повітряного руху (ATC), морських або
прибережних РЛС.
2) розрахунок швидкості цілі стосовно РЛС,
яка має неперіодичне сканування;
3) оброблення для автоматичного
розпізнавання образів (виділенням ознак)
та порівняння з базами даних
характеристик цілей (сигналів або
образів) для ідентифікації або
класифікації цілей; або
4) накладення, кореляція або злиття даних
про цілі від двох або більше "географічно
рознесених" і "взаємозв'язаних чутливих
елементів РЛС" для поліпшення
розпізнавання цілей
Примітка. Згідно з позицією 6.A.8.l.4 контролю не
підлягають системи, обладнання та вузли,
призначені для здійснення контролю за
морським рухом.
6.B. ОБЛАДНАННЯ ДЛЯ ВИПРОБУВАННЯ, КОНТРОЛЮ
І ВИРОБНИЦТВА
6.B.1. АКУСТИКА - відсутня
6.В.2. ОПТИЧНІ ДАТЧИКИ - відсутні
6.B.3. КАМЕРИ - відсутні
ОПТИКА
6.B.4. Оптичне обладнання, наведене нижче: з 9031 4,
[6B004] 9031 90 90 00
6.B.4.a. Обладнання для вимірювання абсолютної 9031 41 00 00,
здатності відображення з точністю +(-) 0,1 9031 49 90 00
відсотка значення здатності відображення
6.B.4.b. Обладнання, інше ніж обладнання для 9031 41 00 00,
вимірювання розсіювання оптичної поверхні, 9031 49 90 00
яке має незатемнену апертуру понад 10 см,
спеціально призначену для безконтактного
оптичного вимірювання неплоскої фігури
(профілю) оптичної поверхні з "точністю"
2 нм або менше (краще) проти потрібного
профілю
Примітка. Згідно з позицією 6.B.4 контролю не
підлягають мікроскопи.
6.B.5. ЛАЗЕРИ - відсутні
6.B.6. МАГНІТОМЕТРИ - відсутні
ГРАВІМЕТРИ
6.B.7. Обладнання для виробництва, юстирування та 9031 80 39 10,
[6B007] калібрування гравіметрів наземного базування 9031 80 39 90,
з точністю у статичному режимі краще 9031 90 90 00
ніж 0,1 мгал
РАДІОЛОКАЦІЙНІ СИСТЕМИ
6.B.8. Імпульсні радіолокаційні системи для 8526 10 90 00
[6B008] вимірювання поперечного перерізу, які мають
тривалість імпульсів, що передаються, 100 нс
або менше і спеціально призначені для них
компоненти
6.C. МАТЕРІАЛИ
6.C.1. АКУСТИКА - відсутня
ОПТИЧНІ ДАТЧИКИ
6.C.2. Матеріали для оптичних датчиків, наведені
[6C002] нижче:
6.C.2.a. Хімічно чистий первинний телур (Te) з 2804 50 90 00
рівнями чистоти 99,9995 відсотка або більше
6.C.2.b. Монокристали (включаючи епітаксиальні 3818 00 90 00,
підкладки), виготовлені з: 8107 90 00 00
1) цинкового телурида кадмію із вмістом
цинку менше ніж 6 відсотків за мольною
фракцією;
2) телурида кадмію (CdTe) будь-якого рівня
чистоти; або
3) ртутного телурида кадмію (HgCdTe)
будь-якого рівня чистоти
Технічна Мольна фракція визначається як відношення
примітка. молей ZnTe до суми молей CdTe та ZnTe, що
містяться в кристалі.
6.C.3. КАМЕРИ - відсутні
ОПТИКА
6.С.4. Оптичні матеріали, наведені нижче:
[6C004]
6.C.4.a. Селенід цинку (ZnSe) та сульфід цинку (ZnS) 2842 90 10 00,
у вигляді "пластинчастих підкладок", 2830 20 00 00
виготовлених хімічним осадженням парів, які
мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
1) об'єм понад 100 см (в ступ. 3);
2) діаметр понад 80 мм, товщину 20 мм або
більше
6.C.4.b. Зливки електрооптичних матеріалів, наведені 2842 90 90 00
нижче: 2842 90 10 00
1) арсенід (сіль миш'якової кислоти) 2842 90 10 00
титанату калію (KTA);
2) срібний селенід галію (AgGaSe(2);
3) талієвий селенід миш'яку (Tl(3)AsSe(3),
відомий також як TAS)
6.C.4.c. Нелінійні оптичні матеріали, які мають усі 7020 00 05 00,
наведені нижче характеристики: 7020 00 80 00
1) сприятливість третього порядку (chi3)
1 х 10 (в ступ.-6) м (в ступ. 2)/B (в
ступ. 2) або більше;
2) час відгуку менше ніж 1 мс
6.C.4.d. "Пластинчасті підкладки" карбіду кремнію або 2849 20 00 10,
осаджених матеріалів берилію/берилію (Be/Be) 2849 20 00 90,
діаметром або довжиною головної осі понад 8112 19 00 00
300 мм
6.C.4.e. Скло, яке містить розплави кремнію, фосфатне 7001 00 99 00,
скло, фторфосфатне скло, фторид цирконію 7020 00 05 00,
(ZrF(4) і фторид гафнію (HfF(4) та має усі 7020 00 80 00
наведені нижче характеристики:
1) концентрацію гідроксильних іонів (OH-)
менше ніж 5 частин на мільйон;
2) інтегральні рівні чистоти металів менше
ніж 1 частина на мільйон;
3) високу однорідність (варіацію показника
коефіцієнта заломлення) менше
ніж 5 х 10 (в ступ. -6)
6.C.4.f. Синтетичний алмазний матеріал з поглинанням 7104 90 00 00,
менше ніж 10 (в ступ. -5) см (в ступ. -1) на 7105 10 00 10,
довжині хвилі понад 200 нм, але не більше 7105 10 00 90
ніж 14000 нм
ЛАЗЕРИ
6.C.5. Кристалічні основи "лазерів" у необробленому 7103 10 00 00
[6C005] вигляді, наведені нижче:
a) сапфір з імплантованим титаном;
b) олександрит
6.C.6. МАГНІТОМЕТРИ - відсутні
6.C.7. ГРАВІМЕТРИ - відсутні
6.C.8. РАДІОЛОКАЦІЙНІ СИСТЕМИ - відсутні
6.D. ПРОГРАМНЕ ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ
6.D.1. "Програмне забезпечення", спеціально з 8524
[6D001] призначене для "розроблення" або
"виробництва" обладнання, що підлягає
контролю згідно з позиціями 6.A.4, 6.A.5,
6.A.8 або 6.B.8
6.D.2. "Програмне забезпечення", спеціально з 8524
[6D002] призначене для "використання" обладнання, що
підлягає контролю згідно з позиціями
6.A.2.b., 6.A.8. або 6.B.8
6.D.3. Інше "програмне забезпечення", наведене з 8524
[6D003] нижче:
АКУСТИКА
6.D.3.a. "Програмне забезпечення", наведене нижче:
1) "програмне забезпечення", спеціально
призначене для формування акустичного
променя для оброблення "в реальному
масштабі часу" акустичних даних для
пасивного приймання з використанням
гідрофонних ґраток, що буксируються;
2) "текст програми" для оброблення "в
реальному масштабі часу" акустичних
даних для пасивного приймання з
використанням гідрофонних ґраток, що
буксируються;
3) "програмне забезпечення", спеціально
призначене для формування акустичного
променя для оброблення "в реальному
масштабі часу" акустичних даних для
пасивного приймання з використанням
занурених кабельних мереж, установлених
на дні або у відсіках;
4) "вихідний код" для оброблення "в
реальному масштабі часу" акустичних
даних для пасивного приймання з
використанням кабельних мереж,
установлених на дні
6.D.3.b. ОПТИЧНІ ДАТЧИКИ - відсутні
6.D.3.c. КАМЕРИ - відсутні
6.D.3.d. ОПТИКА - відсутня
6.D.3.e. ЛАЗЕРИ - відсутні
МАГНІТОМЕТРИ
6.D.3.f. "Програмне забезпечення", наведене нижче:
1) "програмне забезпечення", спеціально
призначене для магнітокомпенсаційних
систем магнітних датчиків, призначених
для функціонування на рухомих платформах;
2) "програмне забезпечення", спеціально
призначене для виявлення магнітних
аномалій на рухомих платформах
ГРАВІМЕТРИ
6.D.3.g. "Програмне забезпечення", спеціально
призначене для корекції впливу руху
гравіметрів або гравітаційних градіометрів
РАДІОЛОКАЦІЙНІ СИСТЕМИ
6.D.3.h. "Програмне забезпечення", наведене нижче:
1) "програмне забезпечення", придатне для
"програм" керування повітряним рухом на
комп'ютерах загального призначення, що
розташовані у диспетчерських центрах
керування повітряним рухом, і має
будь-яку з наведених нижче характеристик:
a) оброблення та відображення понад 150
одночасних "системних траєкторій";
b) приймання РЛС інформації стосовно
цілей від чотирьох первинних РЛС або
більше;
2) "програмне забезпечення" для
"розроблення" або "виробництва"
обтічників, які:
a) спеціально призначені для захисту
"фазованих антенних ґраток з
електронним скануванням променя",
наведених у позиції 6.A.8.e;
та
b) обмежують збільшення середнього
рівня бокових пелюсток більше ніж
на 40 дБ нижче максимального рівня
головного променя
Технічна Середній рівень бокових пелюсток, зазначений
примітка. у позиції 6.D.3.h.2.b, вимірюється для усієї
гратки цілком, за винятком діапазону кутів,
у які входять головний промінь і перші дві
бокові пелюстки з обох боків головного
променя.
6.E. ТЕХНОЛОГІЯ
6.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 з 3705, 3706,
загальних приміток для "розроблення" з 8524,
обладнання, матеріалів або "програмного 4901 99 00 00,
забезпечення", що підлягають контролю згідно 4906 00 00 00
з позиціями 6.A, 6.B, 6.C або 6.D
6.E.2. "Технологія" відповідно до пункту 3 з 3705, 3706,
[6E002] загальних приміток для "виробництва" з 8524,
обладнання і матеріалів, що підлягають 4901 99 00 00,
контролю згідно з позиціями 6.A, 6.B або 6.C 4906 00 00 00
6.E.3. Інші "технології", наведені нижче: з 3705, 3706,
[6E003] з 8524,
4901 99 00 00,
4906 00 00 00
6.E.3.a. АКУСТИКА - відсутня
6.E.3.b. ОПТИЧНІ ДАТЧИКИ - відсутні
6.E.3.c. КАМЕРИ - відсутні
ОПТИКА
6.E.3.d. "Технологія", наведена нижче:
1) "технологія", "необхідна" для оброблення
та покриття оптичної поверхні
із загальними втратами
(поглинання і розсіювання) менше
ніж 5 х 10 (в ступ. -3) і діаметром або
довжиною головної осі 500 мм або більше,
яка необхідна для досягнення однорідності
оптичних покриттів 99,5 відсотка або
краще;
Особлива Дивися також позицію 2.E.3.f.
примітка.
2) "технологія" оптичного виготовлення із
застосуванням методів одноточкового
обертання алмазів з одержанням кінцевої
середньоквадратичної точності оброблення
поверхні краще ніж 10 нм на неплоских
поверхнях площею понад 0,5 м (в ступ. 2)
ЛАЗЕРИ
6.E.3.e. "Технологія", "необхідна" для "розроблення",
"виробництва" або "використання" спеціально
призначених діагностичних приладів або
мішеней у дослідних приладах для
випробування "надпотужних лазерів" або
випробувань чи оцінки стійкості матеріалів,
опромінюваних променями таких "лазерів"
МАГНІТОМЕТРИ
6.E.3.f. "Технологія", "необхідна" для "розроблення"
або "виробництва" ферозондових
"магнітометрів" чи систем ферозондових
"магнітометрів", які мають будь-яку з
наведених нижче характеристик:
1) середньоквадратичне значення "рівня шуму"
менше ніж 0,05 нТ, поділене на корінь
квадратний з частоти в Гц - на частоті
менше ніж 1 Гц;
2) середньоквадратичне значення "рівня шуму"
менше ніж 0,001 нТ, поділене на корінь
квадратний з частоти в Гц - на частоті
1 Гц або більше
6.E.3.g. ГРАВІМЕТРИ - відсутні
6.E.3.h. РАДІОЛОКАЦІЙНІ СИСТЕМИ - відсутні
----------------------------------------------------------------------
Розділ 7. НАВІГАЦІЙНІ СИСТЕМИ ТА АВІАЦІЙНА РАДІОЕЛЕКТРОНІКА
----------------------------------------------------------------------
Номер | Найменування | Код товару
позиції | | згідно з
| | УКТ ЗЕД
----------------------------------------------------------------------
7. НАВІГАЦІЙНІ СИСТЕМИ ТА АВІАЦІЙНА
РАДІОЕЛЕКТРОНІКА
7.A. СИСТЕМИ, ОБЛАДНАННЯ І КОМПОНЕНТИ
Особливі 1. Автопілоти для підводних апаратів
примітки. розглядаються у розділі 8, радари - у
розділі 6.
2. Інерційна навігаційна апаратура для
кораблів або підводних апаратів
розглядається у позиції ML9.e Списку
товарів військового призначення,
міжнародні передачі яких підлягають
державному контролю, затвердженого
постановою Кабінету Міністрів України від
8 грудня 1997 р. N 1358 (1358-97-п) .
7.A.1. Лінійні акселерометри, розроблені для 9014 20 13 00,
[7A001] використання в інерційних навігаційних 9014 20 90 00,
системах або системах наведення, які мають 9014 90 10 00,
будь-яку з наведених нижче характеристик, і з 9032 89
спеціально призначені для них компоненти:
a) "стабільність" "відхилення" відносно
фіксованого каліброваного значення
протягом одного року менше (краще) ніж
130 mkg;
b) "стабільність" "масштабного коефіцієнта"
щодо фіксованого каліброваного значення
протягом одного року менше (краще) ніж
130 частин на мільйон;
c) призначені для функціонування при рівнях
лінійного прискорення понад 100 g
Особлива Кутові або обертові акселерометри
примітка. розглядаються в позиції 7.A.2.
7.A.2. Гіроскопи та кутові або обертові 9032 89 90 00,
[7A002] акселерометри, які мають будь-яку з 9032 90 90 00,
наведених нижче характеристик, і спеціально 9014 20 90 00
призначені для них компоненти:
7.A.2.a. Які мають під впливом 1 g протягом трьох
місяців не"стабільність" "швидкості дрейфу":
1) менше (краще) ніж 0,1 (град.) на годину,
коли паспортні (номінальні) дані наведені
для функціонування при рівнях лінійного
прискорення нижче ніж 10 g;
або
2) менше (краще) ніж 0,5 (град.) на годину,
коли паспортні (номінальні) дані наведені
для функціонування при рівнях лінійного
прискорення від 10 до 100 g включно;
або
7.A.2.b. Специфіковані для функціонування при рівнях
лінійного прискорення понад 100 g
7.A.3. Інерційні навігаційні системи (платформні 9014 10 90 00,
[7A003] карданні та безплатформні безкарданні) та 9014 20 13 00,
інерційне обладнання для визначення 9014 20 90 00
місцезнаходження, керування та наведення
"літального апарата", наземного
транспортного засобу або "космічного
апарата", які мають будь-яку з наведених
нижче характеристик, і спеціально призначені
для них компоненти:
7.A.3.a. Навігаційну помилку (суто інерційну) після
нормального виставлення від 0,8 морської
милі на годину (50 відсотків кругової
ймовірної помилки (CEP)) або менше
7.A.3.b. Специфіковані для функціонування при рівнях
лінійного прискорення понад 10 g
Примітки. 1. Параметри позиції 7.A.3.a застосовуються
в будь-яких з наведених нижче умовах:
1) загальна величина випадкової вібрації
на вході становить 7,7 g
(середньоквадратичного) у перші
півгодини і загальна тривалість
випробування - півтори години на вісь,
у кожній з трьох перпендикулярних
площин, коли випадкова вібрація має
наведені нижче характеристики:
a) постійне значення спектральної
щільності потужності (PSD)
0,04 g (в ступ. 2)/Гц у межах
інтервалу частот від 15 до 1000 Гц;
та
b) спектральна щільність потужності
зменшується з частотою від 0,04 до
0,01 g (в ступ. 2)/Гц у межах
інтервалу частот від 1000 до
2000 Гц;
або
2) кутова швидкість бортового хитання і
відхилення дорівнює або більше
ніж +2,62 рад/с (150 град/с);
або
3) згідно з національними стандартами,
еквівалентними умовам, зазначеним у
пунктах 1 або 2 цієї примітки.
2. Згідно з позицією 7.A.3 контролю не
підлягають інерційні навігаційні системи,
сертифіковані для застосування на
"цивільних літальних апаратах" цивільними
адміністративними органами
держави-учасниці.
7.A.4. Гіроастрокомпаси та інші пристрої, які 9014 20 90 00,
[7A004] розраховують місцезнаходження або орієнтацію 9014 80 00 00
шляхом автоматичного спостереження небесних
тіл або супутників з точністю азимута, що
дорівнює або менше (краще) ніж 5 секунд
дуги.
7.A.5. Глобальні супутникові навігаційні системи 9014 20 90 00,
[7A005] (GPS або GLONASS), приймальне обладнання 9014 80 00 00
яких має одну з наведених нижче
характеристик, і спеціально призначені для
них компоненти:
7.A.5.a. Використання шифрування (дешифрування)
7.A.5.b. Антена з керуванням положення нуля діаграми
направленості
7.A.6. Бортові альтиметри, які працюють на 8526 10 10 00,
[7A006] частотах, що не входять в діапазон від 4,2 8526 91 90 00
до 4,4 ГГц включно, і мають будь-яку з
наведених нижче характеристик:
7.A.6.a. "Керування потужністю"
7.A.6.b. Використовують фазову модуляцію
7.A.7. Радіопеленгаторне обладнання, яке працює на 8527 90 98 00
[7A007] частотах понад 30 МГц, має будь-яку з з 8529 90
наведених нижче характеристик, і спеціально 8470 10 90 00
призначені для нього компоненти: 8543 40 00 00
a) "смуга пропускання", що дорівнює 1 МГц з 8543 89
або більше;
b) паралельне оброблення понад 100 частотних з 8543 90
каналів;
c) швидкість оброблення понад 1000
результатів пеленгації за секунду на
частотний канал
7.B. ОБЛАДНАННЯ ДЛЯ ВИПРОБУВАННЯ, КОНТРОЛЮ
І ВИРОБНИЦТВА
7.B.1. Обладнання для випробування, калібрування та 9031 10 00 00,
[7B001] виставлення, спеціально призначене для 9031 20 00 00,
обладнання, що підлягає контролю згідно з з 9031 80,
позицією 7.A з 9031 90
Примітка. Згідно з позицією 7.B.1 контролю не підлягає
обладнання для випробування, калібрування,
виставлення для I або II рівня технічного
обслуговування.
Технічні 1. Перший рівень технічного обслуговування
примітки. Дефект інерціального навігаційного
пристрою виявляється на літаку за
допомогою індикації блока керування та
індикації (CDU) чи повідомлення
відповідної підсистеми про стан пристрою.
Користуючись посібником виробника,
причина виникнення дефекту може бути
локалізована на рівні несправного
швидкознімного блока (LRU). Потім
оператор знімає швидкознімний блок та
замінює його запасним.
2. Другий рівень технічного обслуговування
Дефектний швидкознімний блок надсилається
до цеху технічного обслуговування
(виробника або оператора, який несе
відповідальність за технічне
обслуговування другого рівня). У
ремонтному цеху дефектний швидкознімний
блок випробовується різноманітними
відповідними засобами для того, щоб
перевірити та встановити зіпсований
вузол. Цей вузол (SRA) у ремонтному цеху
знімається і замінюється запасним.
Дефектний вузол (SRA), замінений у
ремонтному цеху (або можливо весь
швидкознімний блок LRU), надсилається
потім виробнику.
Примітка. Другий рівень технічного обслуговування не
включає демонтаж контрольних акселерометрів
або гіродатчиків з вузла, який замінюється у
ремонтному цеху (SRA).
7.B.2. Обладнання, наведене нижче, спеціально з 9031 80
[7B002] призначене для визначення характеристик 9031 90 10 00
дзеркал кільцевих "лазерних" гіроскопів:
a) рефлектометри, які мають точність
вимірювань 10 частин на мільйон або менше
(краще);
b) профілометри, які мають точність
вимірювань 0,5 нм (5 ангстрем) або менше
(краще)
7.B.3. Обладнання, спеціально призначене для з 8413,
[7B003] "виробництва" виробів та обладнання, що 8421 19 91 00,
підлягають контролю згідно з позицією 7.A 8421 19 93 00,
8421 19 99 00,
9031 10 00 00,
9031 20 00 00,
з 9031 80
Примітка. Позиція 7.B.3 включає:
a) стенди для випробування і налагодження
гіроскопів;
b) стенди для динамічного балансування
гіроскопів;
c) стенди для випробування пускових двигунів
гіроскопів;
d) стенди для відкачування та заповнення
гіроскопів;
e) відцентрові затискачі для опор
(підшипників) гіроскопів;
f) стенди для центрування осей
акселерометрів.
7.C. МАТЕРІАЛИ - відсутні
7.D. ПРОГРАМНЕ ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ
7.D.1. "Програмне забезпечення", спеціально з 8524
[7D001] призначене або модифіковане для
"розроблення" або "виробництва" обладнання,
що підлягає контролю згідно з позицією 7.A
або 7.B
7.D.2. "Текст програми" для "використання" з 8524
[7D002] будь-якого інерційного навігаційного
обладнання, включаючи інерційне обладнання,
що не підлягає контролю згідно з позицією
7.A.3 або 7.A.4, або системи орієнтування та
визначення курсу польоту (AHRS)
Примітка. Згідно з позицією 7.D.2 контролю не підлягає
"текст програми" призначений для
"використання" в платформних системах
орієнтування та визначення курсу польоту.
Технічна Система орієнтування та визначення курсу
примітка. польоту відрізняється від інерційних
навігаційних систем (INS) тим, що система
орієнтування та визначення курсу польоту
забезпечує інформацією про напрямок і не
забезпечує інформацією про прискорення,
швидкість та положення (координату), яка
знімається з інерційних навігаційних систем
(INS).
7.D.3. Інше "програмне забезпечення", наведене з 8524
[7D003] нижче:
7.D.3.a. "Програмне забезпечення", спеціально
призначене або модифіковане для поліпшення
діючих характеристик або зменшення
навігаційної помилки систем до рівнів,
наведених у позиції 7.А.3 або 7.А.4
7.D.3.b. "Текст програми" для гібридних інтегрованих
систем, які поліпшують діючі характеристики
або зменшують навігаційну помилку систем до
рівнів, наведених у позиції 7.A.3, при
безперервному комбінуванні інерціальних
даних з будь-якими з наведених нижче
навігаційних даних:
1) визначенням швидкості (радара Доплера);
2) відомостями про глобальну навігаційну
супутникову систему визначення
місцезнаходження (GPS або GLONASS);
3) відомостями (базами даних) про рельєф
місцевості
7.D.3.c. "Текст програми" для комплексних авіаційних
радіоелектронних або польотних систем, які
комбінують інформацію вимірювальних приладів
та використовують "експертні системи"
7.D.3.d. "Текст програми" для "розроблення" будь-яких
з наведених нижче систем:
1) цифрові системи керування польотом для
"загального керування польотом";
2) інтегровані системи руху та керування
польотом;
3) системи дистанційного керування рулями за
допомогою електроприводів або світлових
сигналів;
4) відмовостійкі або самореконфігуруючі
"активні системи керування польотом";
5) бортова автоматична апаратура
радіопеленгації;
6) системи збору аеродинамічних сигналів,
робота яких базується на статичних даних
щодо поверхні;
7) індикатори растрового типу на лобовому
склі або тривимірні індикатори
7.D.3.e. "Програмне забезпечення" автоматизованого
проектування (CAD), спеціально призначене
для "розроблення" "активних систем керування
польотом", вертолітних багатокоординатних
контролерів керування за допомогою
електроприводів або контролерів світлових
сигналів чи вертолітних із "системою
контролю напрямку або протиобертання з
контрольованою циркуляцією", "технологія"
яких підлягає контролю згідно з позиціями
7.E.4.b, 7.E.4.c.1 або 7.E.4.c.2
7.E. ТЕХНОЛОГІЯ
7.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 з 3705, 3706,
[7E001] загальних приміток для "розроблення" з 8524,
обладнання або "програмного забезпечення", 4901 99 00 00,
що підлягає контролю згідно з позиціями 7.A, 4906 00 00 00
7.B або 7.D
Примітка. Код технології згідно з УКТ ЗЕД визначається
кодом носія, на якому вона передається.
7.E.2. "Технологія" відповідно до пункту 3 з 3705, 3706,
[7E002] загальних приміток для "виробництва" з 8524,
обладнання, що підлягає контролю згідно з 4901 99 00 00,
позиціями 7.A або 7.B 4906 00 00 00
7.E.3. "Технологія" відповідно до пункту 3 з 3705, 3706,
[7E003] загальних приміток для ремонту, відновлення з 8524,
чистоти поверхні або капітального ремонту 4901 99 00 00,
обладнання, що підлягає контролю згідно з 4906 00 00 00
позиціями від 7.A.1 до 7.A.4
Примітка. Згідно з позицією 7.E.3 контролю не підлягає
"технологія" технічного обслуговування,
безпосередньо пов'язаного з калібруванням,
зняттям або заміною ушкоджених або таких, що
не підлягають обслуговуванню, швидкозйомних
блоків (LRU) і вузлів, які замінюються у
ремонтному цеху (SRA), "цивільних літальних
апаратів", як описано у I або II рівні
технічного обслуговування.
Особлива Визначення рівнів технічного обслуговування
примітка. наведено в технічній примітці до
позиції 7.B.1.
7.E.4. Інша "технологія", наведена нижче: з 3705, 3706,
[7E004] з 8524,
7.E.4.a. "Технологія" для "розроблення" або 4901 99 00 00,
"виробництва": 4906 00 00 00
1) бортової автоматичної апаратури
радіопеленгації, яка працює на частотах
понад 5 МГц;
2) систем збору аеродинамічних сигналів,
робота яких базується тільки на основі
статичних даних щодо поверхні, тобто
таких, які розподіляються із
застосуванням звичайних датчиків
аеродинамічних сигналів;
3) індикаторів растрового типу на лобовому
склі або тривимірних індикаторів для
"літальних апаратів";
7.E.4.a. 4) інерційних навігаційних систем або
гіроастрокомпасів, які містять
акселерометри або гірокомпаси, що
підлягають контролю згідно з позиціями
7.A.1 або 7.A.2;
5) електричних приводів (тобто,
електромеханічних, електрогідростатичних
та пакетів інтегрованих приводів),
спеціально призначених для "основного
(диспетчерського) керування польотами";
6) "групи оптичних датчиків керування
польотом", спеціально призначених для
функціонування "активних систем керування
польотами"
7.E.4.b. "Технології" "розроблення" "активних систем
керування польотами" (уключаючи керування
рулями за допомогою електроприводів або
світлових сигналів), наведені нижче:
1) конструкція конфігурації для
взаємоз'єднання множинних
мікроелектронних елементів оброблення
(бортові обчислювачі) для досягнення
оброблення "в реальному масштабі часу"
для імплементації закону керування;
2) компенсація закону керування відносно
місцезнаходження датчика або динамічних
навантажень на планер, тобто компенсація
вібраційного середовища датчика або
відхилення місцезнаходження датчика від
центру тяжіння;
3) електронне керування резервуванням даних
або системи резервування для виявлення
несправності, стійкості до несправності,
локалізації несправності або
реконфігурації;
Примітка. Згідно з позицією 7.E.4.b.3 контролю не
підлягає "технологія" розроблення фізичного
резервування.
4) керування польотом, яке дає змогу
здійснювати польотну реконфігурацію сили,
і миттєве керування для управління
автономним літальним апаратом у реальному
масштабі часу;
5) інтеграція цифрового диспетчерського
керування польотами, даних керування
навігацією та руховими системами у
систему цифрового керування польотом для
"загального керування польотом";
Примітки. Згідно з позицією 7.E.4.b.5 контролю не
підлягають:
1. "Технології" "розроблення" загальних
цифрових систем диспетчерського керування
польотами, даних керування навігацією та
руховими системами у систему цифрового
керування польотами для "оптимізації
траєкторії польоту".
2. "Технології" "розроблення" приладів
польотних систем для "літальних
апаратів", інтегрованих до
всеспрямованого курсового радіомаяка
УКХ-діапазону (VOR), далекомірного
обладнання (DME), систем посадки за
приладами (ILS) або мікрохвильової
системи забезпечення посадки (MLS),
систем навігації або забезпечення заходу
на посадку.
7.E.4.b. 6) система автономного електронно-цифрового
контролера для ГТД комбінованого циклу
або системи керування польотним завданням
з багатьма датчиками з використанням
"експертних систем"
Особлива Порядок контролю "технології" для "повністю
примітка. автономного цифрового керування двигуном"
("FADEC") визначено у позиції 9.E.3.a.9.
7.E.4.c. "Технологія" для "розроблення" вертолітних
систем, наведених нижче:
1) багатоосьові контролери дистанційного
керування рулями за допомогою
електроприводів або світлових сигналів,
які комбінують функції принаймні двох з
наведених нижче в один контрольний
елемент:
а) колективні системи керування;
b) циклічні системи керування;
c) системи керування відхилення від
курсу;
2) керовані "системою контролю напрямку або
протиобертання з контрольованою
циркуляцією";
3) лопатки ротора двигуна, що об'єднують
"аеродинамічні профілі із змінюваною
геометрією" для використання у системах
індивідуального керування лопатками.
----------------------------------------------------------------------
Розділ 8. МОРСЬКІ ТРАНСПОРТНІ ЗАСОБИ
----------------------------------------------------------------------
Номер | Найменування | Код товару
позиції | | згідно з
| | УКТ ЗЕД
----------------------------------------------------------------------
8. МОРСЬКІ ТРАНСПОРТНІ ЗАСОБИ
8.A. СИСТЕМИ, ОБЛАДНАННЯ І КОМПОНЕНТИ
8.A.1. Підводні апарати та надводні судна, наведені
[8A001] нижче:
Особлива Статус контролю обладнання для підводних
примітка. апаратів визначено: для апаратури
засекречування та шифрування - розділ 5,
частина 2 "Захист інформації"; для
датчиків - розділ 6; для навігаційного
обладнання - розділи 7 і 8; для підводного
обладнання - розділ 8.A.
8.A.1.a. Підводні апарати, пілотовані людиною, що 8906 00 91 00,
з'єднані з носієм і призначені для роботи на 8906 00 99 00
глибинах понад 1000 м
8.A.1.b. Підводні апарати, пілотовані людиною, що не 8906 00 91 00,
з'єднані з носієм і мають будь-яку з 8906 00 99 00
наведених нижче характеристик:
1) призначені для автономного плавання і
мають усі наведені нижче характеристики
за силою підйому:
a) 10 відсотків або більше їх власної
маси (вага у повітрі);
b) 15 кН або більше;
2) призначені для роботи на глибинах понад
1000 м; або
3) мають усі наведені нижче характеристики:
a) призначені для екіпажу з чотирьох або
більше чоловік;
b) призначені для автономного плавання
протягом 10 годин або більше;
c) радіус дії 25 морських миль або
більше;
d) довжина 21 м або менше
Технічні 1. Для цілей позиції 8.A.1.b під час
примітки. автономного плавання апарат цілком
занурюється без шнорклю, усі системи
функціонують і забезпечують плавання з
мінімальною швидкістю, за якої занурення
може безпечно керуватися (з урахуванням
необхідної динаміки за глибиною
занурення) з використанням тільки стерен
глибини, без участі надводних суден
підтримки або бази (берегової або
корабля-матки); апарат має рушійну
систему для пересування в зануреному та
надводному стані.
2. Для цілей позиції 8.A.1.b радіус дії
дорівнює половині максимальної відстані,
яку апарат може подолати в зануреному
стані.
8.A.1.c. Підводні апарати, не пілотовані людиною, що 8906 00 91 00,
з'єднані з носієм і призначені для плавання 8906 00 99 00
на глибинах понад 1000 м та мають будь-яку з
наведених нижче характеристик:
1) призначені для самохідного маневру,
використовують двигуни та прискорювачі,
зазначені у позиції 8.A.2.a.2;
2) мають волоконно-оптичну лінію обміну
даними
8.A.l.d. Підводні апарати, не пілотовані людиною, що 8906 00 91 00,
не з'єднані з носієм і мають будь-яку з 8906 00 99 00
наведених нижче характеристик:
1) призначені для вирішення завдань
досягнення (прокладання курсу) будь-якого
географічного орієнтира без участі людини
"в реальному масштабі часу";
2) мають канал передачі акустичних даних або
команд;
3) мають волоконно-оптичну лінію передачі
даних або лінію передачі команд
понад 1000 м
8.A.1.e. Океанські системи рятування з підйомною 8905 90 10 00,
силою понад 5 МН для рятування об'єктів з 8906 00 91 00
глибини понад 250 м, які мають будь-яку з
наведених нижче характеристик:
1) системи динамічного керування положенням,
здатні стабілізуватися у межах
(усередині) 20 м стосовно заданої точки,
яка фіксується навігаційною системою;
2) системи придонної навігації та
навігаційної інтеграції для глибин понад
1000 м з точністю забезпечення положення
у межах (усередині) 10 м стосовно заданої
точки
8.A.1.f. Судна на повітряній подушці (з повністю 8906 00 91 00,
змінюваною юбкою), які мають усі наведені 8906 00 99 00
нижче характеристики:
1) максимальну проектну швидкість понад
30 вузлів при повному завантаженні та
висоті хвилі 1,25 м і більше;
2) тиск повітряної подушки понад 3830 Па;
3) відношення водотоннажності
незавантаженого і повністю завантаженого
судна менше ніж 0,7
8.A.1.g. Судна на повітряній подушці (з жорстким 8906 00 91 00,
бортовим скегом) з максимальною проектною 8906 00 99 00
швидкістю понад 40 вузлів при повному
завантаженні та висоті хвилі 3,25 м і більше
8.A.1.h. Судна з гідрокрилом і активними системами 8906 00 91 00,
для автоматичного керування крилом з 8906 00 99 00
максимальною проектною швидкістю 40 вузлів
або більше при висоті хвилі 3,25 м і більше
8.A.1.i. Судна з невеликою площею ватерлінії, які 8906 00 91 00,
мають будь-яку з наведених нижче 8906 00 99 00
характеристик:
1) повну водотоннажність понад 500 т,
максимальну проектну швидкість
понад 35 вузлів при повному завантаженні
та висоті хвилі 3,25 м і більше;
2) повну водотоннажність понад 1500 т,
максимальну проектну швидкість понад
25 вузлів при повному завантаженні та
висоті хвилі 4 м і більше
Технічна Належність судна до суден з невеликою площею
примітка. ватерлінії визначається такою формулою:
площа ватерлінії за відомої величини
водотоннажності при операційній проектній
осадці менше ніж 2 х V (в ступ. 2/3) (де V -
водотоннажність при операційній проектній
осадці).
8.A.2. Системи та обладнання, наведені нижче:
[8A002]
Особлива Підводні системи зв'язку розглядаються в
примітка. розділі 5, частина 1 - "Зв'язок".
8.A.2.a. Системи та обладнання, спеціально призначені
або модифіковані для підводних апаратів,
призначених для роботи на глибинах понад
1000 м:
1) приміщення під тиском або корпуси під 8905 90 10 00,
тиском з максимальним внутрішнім 8906 00 91 00
діаметром камери понад 1,5 м;
2) електродвигуни постійного струму або 8501 33 90 00,
тягові двигуни; 8501 34 50 00,
8501 34 99 00
3) кабельні роз'єднувачі та з'єднувачі, у 8536 90 10 00,
тому числі ті, у яких використовується 9013 90 10 00,
оптиковолокно і які мають силові елементи 9013 90 90 00
із синтетичних матеріалів.
8.A.2.b. Системи, спеціально призначені або 9014 80 00 00
модифіковані для автоматичного керування
рухом підводних апаратів, зазначених у
позиції 8.A.1, які використовують
навігаційні дані та мають замкнені із
зворотним зв'язком сервоконтролюючі засоби:
1) здатні керувати рухом апарата в межах
(усередині) 10 м щодо заданої точки
водяного стовпа;
2) підтримують положення апаратів в межах
(усередині) 10 м щодо заданої точки
водяного стовпа; або
3) підтримують положення апарата у межах
(усередині) 10 м під час руху на
морському судні-матці або на тросі
(кабелі) під ним
8.A.2.c. Волоконно-оптичні корпусні роз'єднувачі або 9013 90 10 00,
з'єднувачі, спеціально призначені для 9013 90 90 00
використання під водою
8.A.2.d. Системи підводного нагляду, наведені нижче:
1) телевізійні системи і телевізійні камери, 8525 10 90 00
наведені нижче:
а) телевізійні системи (уключаючи камеру,
обладнання для моніторингу та передачі
сигналу), які мають роздільну
здатність понад 800 ліній під час
вимірювання її у повітряному
середовищі, а також телевізійні
системи, спеціально призначені або
модифіковані для дистанційного
керування підводним апаратом;
b) підводні телевізійні камери, які мають 8525 30 90 00,
роздільну здатність понад 1100 ліній з 8525 40
під час вимірювання її в повітряному
середовищі;
с) телевізійні камери, призначені для 8525 30 90 00,
зйомки об'єктів з низьким рівнем з 8525 40
освітленості, спеціально призначені
або модифіковані для використання під
водою і мають усі наведені нижче
характеристики:
1) трубки з мікроканальним
підсилювачем зображення, які
контролюються згідно з позицією
6.A.2.a.2.a;
2) понад 150000 "активних пікселів" на
площі твердотільного приймача
Технічна Роздільна здатність у телебаченні
примітка. вимірюється горизонтальним (рядковим)
розділенням, як правило, вираженим у
максимальній кількості ліній по висоті
зображення (екрана), що розпізнаються на
тестовій таблиці, яка використовує стандарт
IEEE 208/1960 або будь-який еквівалент цього
стандарту.
8.A.2.d. 2) системи, спеціально призначені або 8526 92 90 00
модифіковані для дистанційного керування
підводним апаратом, у яких
використовуються засоби мінімізації
ефектів зворотного розсіювання, уключаючи
вузькодіапазонні радіолокаційні станції
або "лазерні" системи
8.A.2.e. Фотодіапозитивні камери, спеціально 9006 53 10 00
призначені або модифіковані для підводного 9006 53 90 00
використання на глибинах до 150 м, які мають 9006 59 00 00
формат стрічки 35 мм або більше і будь-що з
наведеного нижче:
1) анотацію стрічки з даними, що визначають
специфіку зовнішнього джерела камери;
2) автоматичну зворотну корекцію фокусної
відстані;
3) керування з автоматичною компенсацією,
спеціально призначене для боксів
підводної камери, здатних витримувати
тиск на глибинах понад 1000 м
8.A.2.f. Електронні системи спостереження, спеціально 9014 83 90 00,
призначені або модифіковані для підводного 9030 82 00 00
використання, здатні зберігати в цифровій
формі понад 50 експонованих кадрів
8.A.2.g. Системи підсвічування, наведені нижче,
спеціально призначені або модифіковані для
використання під водою:
1) стробоскопічні світлові системи з 9029 20 90 00,
енергією виходу понад 300 Дж в одному 9405 40 10 00,
спалаху і частотністю понад 5 спалахів за 9405 40 39 00
секунду;
2) аргонові дугові світлові системи, 9405 40 10 00,
спеціально призначені для використання 9405 40 39 00
під водою на глибинах понад 1000 м
8.A.2.h. "Роботи", "керовані вмонтованою програмою", 8479 89 50 00,
спеціально призначені для підводного з 8479 89,
застосування, які мають будь-яку з наведених 8479 90 50 00,
нижче характеристик:
1) системи керування "роботом" із 8479 90 97 00
застосуванням інформації від датчиків,
які вимірюють зусилля, прикладені до
зовнішнього об'єкта, момент обертання,
відстань до зовнішнього об'єкта або
контактну (тактильну) взаємодію між
"роботом" та зовнішнім об'єктом;
2) здатні створювати зусилля в 250 Н і
більше, або момент обертання 250 Нм і
більше та які використовують в елементах
конструкції сплави на основі титану чи
"волокнисті або нитковидні"
"композиційні" матеріали
8.A.2.i. Дистанційно керовані шарнірні маніпулятори, 8479 89 50 00,
спеціально призначені або модифіковані для 8479 90 50 00,
використання з підводними апаратами, які 8479 90 97 00
мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
1) системи керування маніпулятором, що
застосовують інформацію від датчиків, які
вимірюють зусилля, прикладені до
зовнішнього об'єкта, момент обертання або
контактну (тактильну) взаємодію між
маніпулятором та зовнішнім об'єктом;
2) керовані засобами пропорційного керування
"ведучий-ведений" або "керовані
вмонтованою програмою" та які мають п'ять
або більше ступенів свободи руху
Примітка. Під час визначення кількості ступенів
свободи руху враховуються тільки функції,
які мають пропорційне керування із
застосуванням позиційного зворотного зв'язку
або "керовані вмонтованою програмою".
8.A.2.j. Ізольовані від атмосфери рушійні системи,
наведені нижче, спеціально призначені для
використання під водою:
1) ізольовані від атмосфери рушійні системи, з 8408 10,
з двигунами циклів Брайтона або Ренкіна, 8409 99 00 00
які мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
a) хімічні скрубери або абсорбери,
спеціально призначені для вилучення
двооксиду вуглецю, оксиду вуглецю і
часток з рециркулюючого вихлопу
двигуна;
b) системи, спеціально призначені для
застосування моноатомного газу;
c) пристрої або глушники, спеціально
призначені для зниження шуму під
водою, з частотами нижче ніж 10 кГц,
чи спеціально змонтовані прилади для
пом'якшення удару викиду;
d) системи, спеціально призначені для:
1) пресування продуктів реакції або
для регенерації палива;
2) зберігання продуктів реакції;
та
3) вихлопу продуктів реакції при тиску
в 100 кПа і більше;
2) дизельні двигуни для ізольованих від з 8408 10,
атмосфери силових систем, які мають усі 8409 99 00 00
наведені нижче характеристики:
a) хімічні скрубери або абсорбери для
вилучення двооксиду та монооксиду
вуглецю і частинок з рециркулюючого
вихлопу двигуна;
b) системи, спеціально спроектовані для
застосування моноатомного газу;
c) пристрої або глушники, спеціально
призначені для зниження шуму під водою
з частотами нижче ніж 10 кГц, чи
спеціально змонтовані для пом'якшення
удару викиду;
d) спеціально призначені вихлопні системи
із затримкою викиду продуктів
згорання;
3) незалежні від атмосфери енергетичні 8409 99 00 00
установки на паливних елементах з
вихідною потужністю понад 2 кВт, які
мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
a) прилади або глушники, спеціально
спроектовані для зниження шуму під
водою, з частотами нижче ніж 10 кГц,
чи спеціально змонтовані прилади для
пом'якшення удару викиду;
b) системи, спеціально призначені для:
1) пресування продуктів реакції або
для регенерації палива;
2) зберігання продуктів реакції;
та
3) вихлопу продуктів реакції при
протитиску 100 кПа або більше;
8.A.2.j. 4) незалежні від атмосфери силові системи з з 8408 10,
двигунами циклів Стірлінга, які мають усі 8409 99 00 00
наведені нижче характеристики:
a) пристрої або глушники, спеціально
призначені для зниження шуму під водою
з частотами нижче ніж 10 кГц, або
спеціально змонтовані пристрої для
пом'якшення удару викиду;
b) спеціально призначені системи для
вихлопу продуктів згорання під час
протитиску 100 кПа або більше
8.A.2.k. Краї корпусу (юбки), ущільнення та висувні
елементи, які мають будь-яку з наведених
нижче характеристик:
1) призначені для зовнішніх тисків у 3830 Па 8479 90 50 00,
або більше, функціонують при висоті хвилі 8479 90 97 00,
1,25 м і більше та спеціально призначені 8906 00 91 00,
для суден на повітряній подушці (з 8906 00 99 00
повністю змінюваною юбкою), зазначених у
позиції 8.A.1.f;
2) призначені для зовнішніх тисків у 6224 Па 8479 90 50 00,
і більше, функціонують при висоті хвилі 8479 90 97 00,
3,25 м і більше та спеціально призначені 8906 00 91 00,
для суден на повітряній подушці (з 8906 00 99 00
незмінюваним бортовим скегом), зазначених
у позиції 8.A.1.g
8.A.2.l. Підйомні вентилятори з рівнем потужності 8412 39 90 00,
понад 400 кВт, спеціально призначені для 8412 80 99 00,
суден на повітряній подушці, які підлягають 8485 10 90 00
контролю згідно з позиціями 8.A.1.f або
8.A.1.g
8.A.2.m. Повністю занурювані підкавітаційні або 8479 90 50 00,
суперкавітаційні гідрокрила суден, 8479 90 97 00,
зазначених у позиції 8.A.1.h 8906 00 91 00,
8906 00 99 00
8.A.2.n. Активні системи, спеціально призначені або 8479 90 50 00,
модифіковані для автоматичного керування 8479 90 97 00,
рухом підводних апаратів або суден, які 8906 00 91 00,
підлягають контролю згідно з позиціями 8906 00 99 00
8.A.l.f, 8.A.1.g, 8.A.1.h чи 8.A.1.i
8.A.2.o. Гвинти, системи одержання і передачі енергії
та системи зниження шуму, наведені нижче:
1) системи двигуна з водяним гвинтом або
системи передачі потужності, наведені
нижче, спеціально призначені для суден на
повітряній подушці (з повністю змінюваною
юбкою або незмінюваним бортовим скегом),
для суден з гідрокрилами і суден з
невеликою площею ватерлінії, які
підлягають контролю згідно з позиціями
8.A.1.f, 8.A.1.g, 8.A.1.h та 8.A.1.i:
a) суперкавітаційні, супервентиляторні, з 8408 10
частково занурені або опущені (які
проникають через поверхню) двигуни
потужністю понад 7,5 МВт;
b) протиобертальні рушійні системи 8412 29 50 00,
потужністю понад 15 МВт; 8485 10 90 00
c) системи вирівнювання потоку, який 8412 29 50 00
набігає на рушій, із застосуванням
методів усунення завихрень потоку до і
після їх утворення;
d) легковагий редуктор високої потужності 8483 40 94 00,
(K-фактор понад 300); 8483 40 96 00
e) системи передачі потужності через 8483 10 60 00
трансмісійний вал, які містять 8483 10 80 00
компоненти з "композиційних"
матеріалів і здатні здійснювати
передачу потужності понад 1 МВт;
2) рушії з водяним гвинтом, системи
одержання і передачі енергії, призначені
для використання на суднах, наведені
нижче:
a) гребні гвинти з регульованим кроком і 8485 10 90 00
збірки маточини номінальною потужністю
понад 30 МВт;
b) електричні двигуни з водяним 8501 34 99 00
внутрішнім охолодженням і вихідною
потужністю понад 2,5 МВт;
c) магнітоелектричні рушії із 8501 20 90 00
застосуванням "надпровідності" та
вихідною потужністю понад 0,1 МВт;
d) системи передачі потужності через 8483 10 60 00,
трансмісійний вал, які містять 8483 10 80 00
компоненти з "композиційних"
матеріалів і здатні здійснювати
передачу потужності понад 2 МВт;
e) системи вентиляторних або системи на 8485 10 90 00
базі вентиляторних гвинтів потужністю
понад 2,5 МВт;
8.A.2.o. 3) системи зниження шуму, призначені для
використання на суднах водотоннажністю
1000 тонн або більше, наведені нижче:
a) системи, які зменшують рівень шуму під 8409 99 00 00,
водою на частотах нижче ніж 500 Гц і 8412 29 50 00
складаються з компаундних акустичних
збірок для акустичної ізоляції
дизельних двигунів,
дизель-генераторних установок, газових
турбін, газотурбінних генераторних
установок, установок двигунів або
редукторів, спеціально призначених для
звукової або вібраційної ізоляції, які
мають усереднену масу понад 30
відсотків маси всього обладнання, яке
монтується;
b) активні системи зниження шуму чи його 8412 29 50 00
погашення або підшипники на магнітній
підвісці, які спеціально призначені
для потужних трансмісійних систем і
містять електронні системи керування,
здатні активно знижувати вібрацію
обладнання генерацією антишумових або
антивібраційних сигналів безпосередньо
біля джерела шуму
8.A.2.p. Системи руху на струменевому двигуні з 8412 29 50 00
вихідною потужністю понад 2,5 МВт, які
використовують сопло, що відхиляється, і
техніку регулювання потоку лопаткою
(лопаттю) з метою збільшення ефективності
рушія або зниження шумів, які генеруються
рушієм і поширюються під водою
8.A.2.q. Апарати занурювальні і для підводного з 8905, 8906
плавання, автономні, замкнутого або
напівзамкнутого контуру (які мають систему
регенерації повітря)
Примітка. Згідно з позицією 8.A.2.q контролю не
підлягають індивідуальні апарати для
персонального використання, що супроводжують
їх користувачів.
8.B. ОБЛАДНАННЯ ДЛЯ ВИПРОБУВАННЯ, КОНТРОЛЮ
І ВИРОБНИЦТВА
8.B.1. Гідроканали, які мають шумовий фон менше ніж 9031 20 00 00,
[8B001] 100 дБ (еталон - 1 мкПа, 1 Гц) в частотному 9031 90 90 00
діапазоні від 0 до 500 Гц, призначені для
вимірювання акустичних полів, згенерованих
гідропотоком навколо моделей рушійних систем
8.C. МАТЕРІАЛИ
8.C.1. Синтактичний пінопласт, призначений для 3921 90 90 00,
[8C001] підводного використання, який має усі 7016 90 30 00
наведені нижче характеристики:
8.C.1.a. Призначений для морських глибин понад 1000 м
8.C.1.b. Питома вага менше ніж 561 кг/м (в ступ. 3)
Технічна Синтактичний пінопласт складається з
примітка. порожнистих шарів пластика або скла, залитих
гумовою матрицею.
8.D. ПРОГРАМНЕ ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ
8.D.1. "Програмне забезпечення", спеціально з 8524
[8D001] призначене або модифіковане для
"розроблення", "виробництва", "використання"
обладнання або матеріалів, що підлягають
контролю згідно з позиціями 8.A, 8.B або 8.C
8.D.2. Специфічне "програмне забезпечення", з 8524
[8D002] спеціально призначене або модифіковане для
"розроблення", "виробництва", "використання"
(у тому числі ремонт) або відновлення
(повторне механічне оброблення) рушіїв,
спеціально призначених для зменшення
підводного шуму
8.E. ТЕХНОЛОГІЯ
8.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 з 3705, 3706,
[8E001] загальних приміток для "розроблення" або з 8524,
"виробництва" обладнання чи матеріалів, що 4901 99 00 00,
підлягають контролю згідно з позиціями 8.A, 4906 00 00 00
8.B або 8.C
Примітка. Код технології згідно з УКТ ЗЕД визначається
кодом носія, на якому вона передається.
8.E.2. Інша "технологія", наведена нижче: з 3705, 3706,
[8E002] а) "технологія" "розроблення", з 8524,
"виробництва", "використання", ремонту, 4901 99 00 00,
капітального ремонту або відновлення 4906 00 00 00
(повторне механічне оброблення) гвинтів,
спеціально призначених для зменшення їх
шуму під водою;
b) "технологія" для проведення капітального
ремонту або відновлення обладнання, що
підлягає контролю згідно з позиціями
8.A.1, 8.A.2.b, 8.A.2.j, 8.A.2.o або
8.A.2.p
----------------------------------------------------------------------
Розділ 9. РУШІЙНІ СИСТЕМИ ТА ДВИГУНИ
----------------------------------------------------------------------
Номер | Найменування | Код товару
позиції | | згідно з
| | УКТ ЗЕД
----------------------------------------------------------------------
9. РУШІЙНІ СИСТЕМИ ТА ДВИГУНИ
9.A. СИСТЕМИ, ОБЛАДНАННЯ ТА КОМПОНЕНТИ
Примітка. Рушійні системи, призначені або розроблені
стійкими до нейтронної або перехідної
іонізуючої радіації, визначені у Списку
товарів військового призначення, міжнародні
передачі яких підлягають державному
контролю, затвердженому постановою Кабінету
Міністрів України від 8 грудня 1997 р.
N 1358 (1358-97-п) .
9.A.1. Газотурбінні авіаційні двигуни, які містять з 8411,
[9A001] одну з "технологій", яка підлягає контролю 8412 10,
згідно з позицією 9.E.3.a, наведені нижче: 8412 90
9.A.1.a. Не сертифіковані для конкретних "цивільних
літальних апаратів", для яких вони
призначені
Примітка. З метою здійснення сертифікації "цивільного
літального апарата" достатньою вважається
сертифікація 16 цивільних двигунів, вузлів
або компонентів, уключаючи запасні частини.
9.A.1.b. Не сертифіковані для цивільного використання
авіаційними органами в державі-учасниці
міжнародного режиму експортного контролю
"Вассенаарська домовленість" ( 998_177 ) (998_177)
9.A.1.e. Призначені для польотів на швидкостях, що
перевищують число Маха 1,2 протягом
понад 30 хв.
9.A.2. Морські газотурбінні двигуни з безперервною з 8411,
[9A002] експлуатаційною потужністю 24245 кВт або 8412 90
більше згідно із стандартом ISO та питомою
витратою палива, що не перевищує
0,219 кг/кВт/год. у діапазоні потужностей
від 35 до 100 відсотків, та спеціально
призначені для них вузли та компоненти
Примітка. Термін "морські газотурбінні двигуни"
включає промислові або авіаційні
газотурбінні двигуни, пристосовані для
виробництва електроенергії або приведення в
рух корабля.
9.A.3. Спеціально призначені вузли і компоненти, 8411 91 90 00,
[9A003] які поєднуються за будь-якою "технологією" і 8411 99 90 00,
підлягають контролю згідно з позицією з 8412 90
9.E.3.a, для наведених нижче рушійних систем
газотурбінних двигунів:
9.A.3.a. Таких, що підлягають контролю згідно з
позицією 9.A.1
9.A.3.b. Походження конструкції або виробництво яких
знаходиться у державах-неучасницях
міжнародного режиму експортного контролю
"Вассенаарська домовленість"; або невідомі
виробники
9.A.4. Космічні кораблі, що запускаються, та з 8802, 8803,
[9A004] "космічні апарати" з 9306 90
Примітка. Згідно з позицією 9.A.4 контролю не підлягає
корисне завантаження.
Особлива Статус контролю виробів, які містяться в
примітка. корисному завантаженні "космічного апарата",
див. у відповідних розділах.
9.A.5. Ракетні рушійні системи на рідкому паливі, 8412 10 90 00
[9A005] які містять будь-яку із систем або
компонентів, що підлягають контролю згідно з
позицією 9.A.6
9.A.6. Системи та компоненти, спеціально призначені
[9A006] для ракетних рушійних систем на рідкому
паливі, наведені нижче:
9.A.6.a. Кріогенні рефрижератори, бортові посудини 8412 90 30 00,
Дьюара, кріогенні нагрівальні труби або 8412 90 90 00
кріогенні системи, спеціально призначені для
застосування в космічних літальних апаратах
та здатні обмежувати втрати кріогенної
рідини до величини менше ніж 30 відсотків на
рік
9.A.6.b. Кріогенні контейнери або рефрижераторні 8412 90 30 00,
системи замкненого циклу, 8412 90 90 00
здатні забезпечувати температуру
100 K (-173 град. C) або нижче для
"літальних апаратів", здатних виконувати
політ на швидкості з числом Маха понад 3,
космічних кораблів або "космічних апаратів"
9.A.6.c. Системи зберігання рідкого водню або системи з 7311 00,
його транспортування 8413 19 90 00,
8419 60 00 00
9.A.6.d. Турбонасоси високого тиску (понад 17,5 МПа), з 8413 19
компоненти насосів або поєднані з ними
газогенератори або системи приводу турбіни
циклу детандера
9.A.6.e. Камери згоряння високого тиску 8412 90 30 00
(понад 10,6 МПа) та сопла до них
9.A.6.f. Системи зберігання палива, у яких 8412 29 99 00,
використовується принцип капілярної з 8479 89
локалізації або позитивної продувки (тобто з
еластичними балонами)
9.A.6.g. Інжектори рідкого палива з окремими отворами 8412 90 90 00,
діаметром 0,381 мм або менше (площа перерізу 9306 90 90 00
1,14 х 10 (в ступ. -3) см (в ступ. 2) або
менше для некруглих отворів), спеціально
призначені для ракетних двигунів на рідкому
паливі
9.A.6.h. Нерознімні вуглецеві камери згоряння або з 3801,
нерознімні та вуглецеві конусні сопла із з 8412 90,
щільністю понад 1,4 г/см (в ступ. 3) та з 9306
міцністю на розрив понад 48 МПа
9.A.7. Рушійні системи ракет на твердому паливі, 8412 10 90 00
[9A007] які мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
9.A.7.a. Загальна потужність імпульсу понад 1,1 МНс
9.A.7.b. Питомий імпульс 2,4 кНс/кг або більше, якщо
потік із сопла розширюється залежно від
навколишніх умов, рівня моря та
відрегульований тиск у камері згоряння
становить 7 МПа
9.A.7.c. Фракції маси ступеня понад 88 відсотків і
навантаження палива понад 86 відсотків
9.A.7.d. Будь-який з компонентів, що підлягають
контролю згідно з позицією 9.A.8; або
9.A.7.e. Системи ізоляції та закріплення палива,
виконані як конструкції з безпосереднім
поєднанням з двигуном для забезпечення
міцного механічного зчеплення або бар'єра
для хімічної міграції між твердим паливом та
матеріалом ізоляції корпусу
Технічна У позиції 9.A.7.e міцне механічне зчеплення
примітка. означає міцність з'єднання, що дорівнює або
більше, ніж міцність палива.
9.A.8. Компоненти, наведені нижче, спеціально
[9A008] призначені для ракетних двигунів на твердому
паливі:
9.A.8.a. Системи ізоляції та закріплення палива із 8412 90 30 00,
застосуванням прокладок для забезпечення 8412 90 90 00,
міцного механічного зчеплення або бар'єра 8803 90 10 00,
для хімічної міграції між твердим паливом і 8803 90 99 00
матеріалом ізоляції корпусу
Технічна У позиції 9.A.8.a міцне механічне зчеплення
примітка. означає міцність з'єднання, що дорівнює або
більше, ніж міцність палива.
9.A.8.b. Відсіки двигунів з "композиційних" 8412 90 30 00,
матеріалів з діаметром понад 0,61 м або які 8412 90 90 00
мають питому міцність (PV/W) понад 25 км
Технічна Питома міцність (PV/W) - це тиск розриву
примітка. (P), помножений на об'єм відсіку (V) і
поділений на загальну масу відсіку високого
тиску (W).
9.A.8.c. Сопла двигунів з рівнем тяги понад 45 кН або 8416
швидкістю ерозії критичного перерізу сопла
менше ніж 0,075 мм/с
8.A.8.d. Рухоме сопло або вторинні системи керування 8412 90 30 00,
вектором тяги інжекції рідини, здатні 8412 90 90 00
виконувати будь-які з наведених нижче
функцій:
1) багатовісьовий рух у діапазоні понад
+(-) 5 (град.);
2) оберти кутового вектора тяги 20 (град.)/c
або більше;
3) прискорення кутового вектора
40 (град.)/c (в ступ. 2) або більше
9.A.9. Гібридні рушійні ракетні системи з: 8412 10 90 00,
[9A009] 8412 90 30 00
9.A.9.a. Загальною потужністю імпульсів понад
1,1 МНс;
або
9.A.9.b. Зусиллям поштовху на виході понад 220 кН в
умовах вакууму
9.A.10. Спеціально призначені компоненти, системи та 8803 90 10 00,
[9A010] структури космічних кораблів, рушійних 8803 90 99 00
систем космічних кораблів або "космічних
апаратів":
9.A.10.a. Компоненти та структури, кожний з яких вагою 2804 50 10 00,
понад 10 кг, спеціально призначені для 2818 20 00 00,
рушійних систем космічних кораблів, 2849 20 00 10,
виготовлених із застосуванням металевих 2849 20 00 90,
"матриць", "композиційних", органічних з 3801,
"композиційних", керамічних "матричних" або 3926 90 10 00,
інтерметалевих зміцнених матеріалів, які 6815 99 10 00,
підлягають контролю згідно з позиціями 1.C.7 6903 10 00 00,
або 1.C.10 з 7019 19,
з 7019 5,
8101 92 00 00,
8102 92 00 00,
з 8108 90,
з 8412 90,
8803 90 10 00,
з 9306 90
Примітка. Обмеження маси не стосується носових
обтічників.
9.A.10.b. Компоненти та структури, спеціально 2804 50 10 00,
призначені для рушійних систем космічних 2818 20 00 00,
кораблів, що підлягають контролю згідно з 2849 20 00 10,
позиціями 9.A.5 - 9.A.9, виготовлені із 2849 20 00 90,
застосуванням металевих "матриць", з 3801,
"композиційних", органічних "композиційних", 3926 90 10 00,
керамічних "матричних" або інтерметалевих 6815 99 10 00,
зміцнених матеріалів, які підлягають 6903 10 00 00,
контролю згідно з позиціями 1.C.7 або 1.C.10 з 7019 19,
з 7019 5,
8101 92 00 00,
8102 92 00 00,
з 8108 90,
з 8412 90,
8803 90 10 00,
з 9306 90
9.A.10.c. Структурні компоненти та ізоляційні системи, 8803 90 10 00,
спеціально призначені для активного з 9306 90
керування динамічною чутливістю або
деформацією конструкцій "космічного апарата"
9.A.10.d. Імпульсні реактивні двигуни на рідкому 8412 10 90 00
паливі з відношенням тяги до маси, що
дорівнює або більше ніж 1 кН/кг, та часом
спрацювання (час, необхідний для досягнення
90 відсотків загальної паспортної тяги з
моменту запуску) менше ніж 30 мс
9.A.11. Прямоструминні, надзвукові або комбінованого 8412 10 90 00
[9A011] циклу двигуни та спеціально призначені для
них компоненти
9.B. ОБЛАДНАННЯ ДЛЯ ВИПРОБУВАННЯ, КОНТРОЛЮ
І ВИРОБНИЦТВА
9.B.1. Спеціально призначене обладнання,
[9B001] інструменти та пристрої, наведені нижче, для
виготовлення або вимірювання лопаток газових
турбін, лопатей або верхніх частин вінців:
9.B.1.a. Обладнання для спрямованого тверднення або з 8456
вирощування монокристалу
9.B.1.b. Керамічні осердя або патрони 6903 90 20 00
9.B.2. Системи керування в реальному часі, 9031 90 10 00
[9B002] контрольно-вимірювальні прилади (уключаючи
датчики) або автоматичне обладнання для
збирання і оброблення інформації, спеціально
призначені для "розроблення" газотурбінних
двигунів, вузлів або компонентів, уключаючи
"технології", які підлягають контролю згідно
з позицією 9.E.3.a
9.B.3. Обладнання, спеціально призначене для з 8459 61,
[9B003] "виробництва" або випробування кріплення з 8459 69,
щіток газової турбіни та для забезпечення з 9024 10
функціонування при швидкостях на кінчиках
лопатей понад 335 м/с і температурах понад
773 K (500 град. C), та спеціально
призначені для нього компоненти або приладдя
9.B.4. Інструменти, штампи або затискачі для 8467 89 00 00,
[9B004] твердотільного з'єднання суперсплаву титану 8515 80 19 00,
або інтерметалевих комбінацій динамічного 8515 90 00 00
профілю з диском турбіни, описаних у
позиціях 9.E.3.a.3 або 9.E.3.a.6 для газових
турбін
9.B.5. Системи керування в реальному часі, 8537 10 10 00,
[9B005] контрольно-вимірювальні прилади (уключаючи 8537 10 99 00,
датчики) або автоматичне обладнання для 9031 20 00 00
збирання і оброблення інформації, спеціально
призначене для використання з будь-якими
наведеними нижче аеродинамічними трубами або
пристроями:
9.B.5.a. Аеродинамічні труби, призначені для
швидкості з числом Маха 1,2 або більше, за
винятком тих, які спеціально призначені для
цілей тренування і мають розмір перерізу
випробування (виміряний латерально) менше
ніж 250 мм
Технічна Розмір перерізу випробування: діаметр кола
примітка. або сторона квадрата, або довша сторона
прямокутника при вимірюванні в площині
найбільшого перерізу.
9.B.5.b. Пристрої для моделювання потоку обтікання з
числами Маха понад 5, що включають теплові,
плазмово-дугові та ударно-аеродинамічні
труби з газовим поршнем та газові гармати
9.B.5.c. Аеродинамічні труби або пристрої, відмінні
від двовимірних, здатні моделювати обтікання
потоками при числах Рейнольдса понад
25 х 10 (в ступ. 6)
9.B.6. Випробувальне обладнання акустичної 9031 20 00 00
[9B006] вібрації, здатне створювати рівні звукового
тиску 160 дБ або більше (еталон 20 мкПа) з
номінальною потужністю 4 кВт або більше при
температурі на випробувальному стенді понад
1273 K (1000 град. C), та спеціально
призначені для нього кварцові нагрівачі
9.B.7. Обладнання, спеціально призначене для з 9022 90,
[9B007] перевірки цілісності ракетних двигунів із 9031 20 00 00,
застосуванням методів неруйнівного контролю з 9031 4,
(NDT) (відмінних від рентгенівського 9027 80 95 00,
контролю), фізичних або хімічних методів 9027 80 97 00
аналізу
9.B.8. Датчики, спеціально призначені для 9025 19 99 10,
[9B008] безпосереднього вимірювання поверхневого 9025 19 99 90,
тертя на стінці в потоці з температурою 9027 80 95 00,
гальмування понад 833 K (560 град. C) 9027 80 97 00,
з 9031 80
9.B.9. Оснащення, спеціально призначене для 8462 99 10 00
[9B009] виготовлення компонентів ротора двигуна
турбіни методом порошкової металургії,
здатних функціонувати при напруженні 60
відсотків межі міцності на розрив (UTS) або
більше і температурі металу
873 K (600 град. C) або більше
9.C. МАТЕРІАЛИ - відсутні
9.D. ПРОГРАМНЕ ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ
9.D.1. "Програмне забезпечення", спеціально з 8524
[9D001] призначене або модифіковане для
"розроблення" обладнання або "технології",
що підлягають контролю згідно з позиціями
9.A, 9.B або 9.E.3
9.D.2. "Програмне забезпечення", спеціально з 8524
[9D002] призначене або модифіковане для
"виробництва" обладнання, що підлягає
контролю згідно з позиціями 9.A або 9.B
9.D.3. "Програмне забезпечення", спеціально з 8524
[9D003] призначене або модифіковане для
"використання" повністю автономного
цифрового контролера двигунами (FADEC) для
рушійних систем, зазначених у позиції 9.A,
або обладнання, що підлягає контролю згідно
з позицією 9.B, наведене нижче:
9.D.3.a. "Програмне забезпечення" в
електронно-цифрових контролерах для рушійних
систем, аерокосмічних випробувальних
установок або повітродувних установок для
випробування авіаційних двигунів
9.D.3.b. Безвідмовне "програмне забезпечення",
застосоване в системах FADEC для рушійних
систем і асоційоване у стендове обладнання
9.D.4. Інше "програмне забезпечення", наведене з 8524
[9D004] нижче:
9.D.4.a. "Програмне забезпечення" для моделювання
двов'язкої або трив'язкої течії потоку
всередині двигуна в аеродинамічних трубах
або для оброблення даних польотних
випробувань, які дають змогу детально
моделювати потік всередині двигуна
9.D.4.b. "Програмне забезпечення" для випробування
повітряних газотурбінних двигунів, збірок
або компонентів, спеціально призначене для
узагальнення, перетворення та аналізу даних
у реальному масштабі часу, здатне
забезпечувати керування із зворотним
зв'язком, уключаючи динамічне налагодження
виробів, що проходять випробування, або умов
під час здійснення експериментів
9.D.4.c. "Програмне забезпечення", спеціально
призначене для керування спрямованим
твердненням або кристалізацією
9.D.4.d. "Програмне забезпечення" у вигляді "тексту
програми", "об'єктного коду" або машинного
коду, необхідне для "використання" активних
компенсаційних систем для керування зазором
між вінцем та лопатками ротора
Примітка. Згідно з позицією 9.D.4.d контролю не
підлягає "програмне забезпечення",
вмонтоване в обладнання, що не підлягає
експортному контролю, або "необхідне" для
технічного обслуговування, пов'язаного з
калібруванням, ремонтом або модернізацією
системи керування з активною компенсацією
зазору.
9.E. ТЕХНОЛОГІЯ
9.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 з 3705, 3706,
[9E001] загальних приміток для "розроблення" з 8524,
обладнання або "програмного забезпечення", 4901 99 00 00,
що підлягає контролю згідно з позиціями 4906 00 00 00
9.A.1.c, 9.A.4 - 9.A.11, 9.B або 9.D
9.E.2. "Технологія" відповідно до пункту 3 з 3705, 3706,
[9E002] загальних приміток для "виробництва" з 8524,
обладнання, що підлягає контролю згідно з 4901 99 00 00,
позиціями 9.A.1.c, 9.A.4 - 9.A.11, або 9.B 4906 00 00 00
Особлива Для "технології" ремонту конструкцій,
примітка. ламінатів або матеріалів, які підлягають
контролю, див. позицію l.E.2.f.
Примітка. "Технологія" "розроблення" або
"виробництва", яка підлягає контролю згідно
з позицією 9.E, газотурбінних двигунів
залишається контрольованою, якщо
"технологія" "використовується" під час
модернізації, переробки або капітального
ремонту. Не підлягають контролю технічні
дані, креслення або документація для
технічного обслуговування, безпосередньо
пов'язаного з калібруванням, демонтажем або
таких, що не підлягають обслуговуванню,
типових елементів заміни, уключаючи заміну
всіх двигунів або модулів двигунів.
9.E.3. Інша "технологія", наведена нижче: з 3705, 3706,
[9E003] з 8524
9.E.3.a. "Технологія", "необхідна" для "розроблення" 4901 99 00 00,
або "виробництва" будь-якого з наведених 4906 00 00 00
нижче компонентів або систем газотурбінних
двигунів:
1) лопаток газових турбін, лопатей або
верхніх частин вінців, виготовлених
методом спрямованого тверднення (DS) або
спрямованої кристалізації (SC), які мають
(у напрямку, що відповідає показнику
Міллера 001) час опору зламу
понад 400 годин при температурі
1273 K (1000 град. C), тиску 200 МПа, на
основі середніх значень властивостей
матеріалу;
2) багатокупольних камер згоряння, які
функціонують при середніх температурах на
виході з камери понад
1813 K (1540 град. C), або камер
згоряння, які містять термічно
розподілені теплозахисні елементи,
неметалеві теплозахисні елементи або
неметалеві корпуси;
3) компонентів, виготовлених з будь-яких з
наведених нижче матеріалів:
a) органічних "композиційних" матеріалів
для температур застосування понад
588 K (315 град. C);
b) металевих "матричних" "композиційних",
керамічних "матричних", інтерметалевих
або інтерметалевих зміцнених
матеріалів, які підлягають контролю
згідно з позицією 1.C.7; або
c) "композиційних матеріалів",
контрольованих згідно з позицією
1.C.10 та виготовлених з використанням
смол, контрольованих згідно з позицією
1.C.8;
9.E.3.a. 4) турбінних лопаток, лопатей, верхніх
частин вінців або інших компонентів, які
не охолоджуються, призначених для
функціонування в газовому потоці з
температурою 1323 K (1050 град. C) або
вище;
5) турбінних лопаток, лопатей, верхніх
частин вінців або інших компонентів, які
охолоджуються, крім описаних у позиції
9.E.3.a.1, які функціонують без теплового
захисту при температурі газу
1643 K (1370 град. C) або вище;
6) комбінацій лопаті з профілем крила - диск
турбіни, із застосуванням жорсткого
з'єднання;
7) компонентів газотурбінного двигуна із
застосуванням "технології" "дифузійного
зварювання", які підлягають контролю
згідно з позицією 2.E.3.b;
8) високоресурсних обертових компонентів
газотурбінного двигуна, при створенні
яких використовуються матеріали,
виготовлені методом порошкової
металургії, які підлягають контролю
згідно з позицією 1.C.2.b;
9) системи "повністю автономного цифрового
контролю за двигуном" ("FADEC") для
газотурбінних двигунів та двигунів з
комбінованим циклом, діагностичне
обладнання, що належить до них, датчики
та спеціально призначені компоненти;
10) системи керування геометрією газового
потоку та системи керування в цілому
для:
a) газогенераторних турбін;
b) вентиляторних або потужних турбін;
с) реактивних сопел;
Примітки. 1. Системи керування геометрією газового
потоку та системи керування в цілому,
зазначені в позиції 9.E.3.a.10, не
включають вихідні поворотні лопатки,
вентилятори із змінним кроком, поворотні
статори або дренажні клапани для
компресорів.
2. Згідно з позицією 9.E.3.a.10 контролю не
підлягає "технологія" "розроблення" або
"виробництва" систем керування геометрією
газового потоку для реверса тяги.
11) пустотілі лопатки з широкою хордою без
міжпрогонового кріплення
9.E.3.b. "Технологія", "необхідна" для "розроблення"
або "виробництва" будь-якого з наведеного
нижче обладнання:
1) аеродинамічних моделей газотурбінних
двигунів для випробування в
аеродинамічній трубі, обладнаних знімними
датчиками, здатними транслювати дані від
первісних сенсорів у систему збору
інформації;
2) турбінних лопаток з "композитів" або їх
кріплень, здатних витримувати понад
2000 кВт при швидкостях польоту
понад 0,55 М
9.E.3.c. "Технологія", "необхідна" для "розроблення"
або "виробництва" компонентів газотурбінних
двигунів, у яких застосовуються "лазерні",
водоструминні, електрохімічні (ECM) або
електроіскрові (EDI) методи свердління
отворів, які мають будь-який з наведених
нижче комплектів характеристик:
1) усі наведені нижче характеристики:
a) глибина більша ніж у чотири рази за
діаметр;
b) діаметр менше ніж 0,76 мм;
c) кути нахилу дорівнюють або менше ніж
25 (град.); або
2) усі наведені нижче характеристики:
a) глибина більша ніж у п'ять разів за
діаметр;
b) діаметр менше ніж 0,4 мм;
c) кути нахилу більше ніж 25 (град.)
Технічна У позиції 9.E.3.c кут нахилу вимірюється від
примітка. поверхні, дотичної до поверхні тіла, що
обтікається, в точці, де вісь отвору
перетинає поверхню, що обтікається.
9.E.3.d. "Технологія", "необхідна" для наведеного
нижче:
1) "розроблення" вертолітних систем передачі
потужності на завалений несучий гвинт або
завалене крило "літального апарата";
2) "виробництва" вертолітних систем передачі
потужності на завалений несучий гвинт або
завалене крило "літального апарата"
9.E.3.e. Інші "технології", наведені нижче:
1) "технологія" "розроблення" або
"виробництва" рушійних систем наземних
транспортних засобів з поршневими
дизельними двигунами, які мають усі
наведені нижче характеристики:
a) об'єм боксу 1,2 м (в ступ. 3) або
менше;
b) повну вихідну потужність понад 750 кВт
на основі стандартів 80/1269/EEC,
ISO 2534 або їх національних
еквівалентів;
c) щільність потужності понад
700 кВт/м (в ступ. 3) об'єму боксу;
Технічна Об'єм боксу: похідна трьох значень
примітка. перпендикулярів, виміряних
таким чином:
Довжина: довжина колінчастого вала від
переднього фланця до лицьової
поверхні маховика;
Ширина: максимальне значення таких вимірів:
a) зовнішня відстань від однієї
крайньої кришки клапана до іншої
крайньої кришки; або
b) відстань між краями головок
циліндрів; або
с) діаметр кожуха маховика;
Висота: найбільший з таких вимірів:
a) відстань від осі колінчастого
вала до верхньої площини
клапанної кришки (або головки
циліндра) плюс подвійна довжина
ходу поршня;
b) діаметр кожуха маховика.
9.E.3.e. 2) "технологія", "необхідна" для
"виробництва" наведених нижче
компонентів, спеціально призначених для
дизельних двигунів з високою вихідною
потужністю:
a) "технологія", "необхідна" для
"виробництва" систем двигуна, який має
всі наведені нижче компоненти із
застосуванням керамічних матеріалів,
що підлягають контролю згідно з
позицією 1.C.7:
1) гільзи циліндрів;
2) поршні;
3) головки циліндрів;
та
4) один або більше компонентів
(уключаючи вихлопні отвори,
турбоповітродув, спрямовуючі
клапани, збірки клапана або
ізольовані паливні інжектори);
b) "технологія", "необхідна" для
"виробництва" систем турбоповітродуву
з одноступінчастими компресорами, які
мають усі наведені нижче
характеристики:
1) функціонують при співвідношенні
тисків 4:1 або більше;
2) витрати палива від 30 до
130 кг/хв.;
3) здатність змінювати переріз потоку
всередині компресора або секції
турбіни;
9.E.3.e.2. c) "технологія", "необхідна" для
"виробництва" систем паливної інжекції
із спеціально призначеною багатопаливною
(наприклад, дизельне паливо або паливо
для реактивних двигунів) здатністю до
зміни в'язкості палива в діапазоні від
дизельного палива [2,5 сантистокса при
310,8 K (37,8 град. C)] до бензину [0,5
сантистокса при 310,8 K (37,8 град. C)],
які мають усі наведені нижче
характеристики:
1) інжектовану кількість понад
230 мм (в ступ. 3) на одне
впорскування в один циліндр;
2) спеціально призначене електронне
керування для регулятора перемикання
та автоматичного вимірювання
характеристик палива залежно від
певного значення моменту обертання із
застосуванням адаптивних датчиків
9.E.3.e. 3) "технологія", "необхідна" для
"розроблення" та "виробництва" дизельних
двигунів з високою вихідною потужністю з
твердими, газофазними або рідкоплівковими
(або їх комбінаціями) мастилами стінок
циліндрів, які дають змогу витримувати
температуру понад 723 K (450 град. С),
виміряну на стінці циліндра у верхній
крайній точці дотику поршневого кільця
Технічна Дизельні двигуни з високою вихідною
примітка. потужністю - це двигуни з визначеним
середнім ефективним тиском гальмування
1,8 МПа або більше на частоті
обертання 2300 об./хв., якщо номінальна
частота обертання становить 2300 об./хв. або
більше.
------------------------------------------------------------------
------------------------------------------------------------------
Номер | Найменування
позиції |
|
------------------------------------------------------------------
"ЧУТЛИВІ" ТОВАРИ
Примітки. 1. У цьому додатку міститься перелік "чутливих товарів",
уключених до списку, і відомості стосовно експорту
яких подаються Україною до Секретаріату міжнародного
режиму експортного контролю "Вассенаарська
домовленість" у визначені терміни за встановленими
формами стосовно наданих дозволів, фактичних передач
та відмов у наданні дозволів.
2. Для користування скороченими записами з метою більшої
деталізації звертайтесь до списку.
РОЗДІЛ 1
1.A.2. "Композиційні" структури або ламінати (шаруваті
матеріали)...
1.C.1. Матеріали, наведені нижче, спеціально призначені для
поглинання електромагнітних хвиль ...
1.C.7.c. "Композиційні" матеріали типу кераміка-кераміка ...
1.C.7.d. "Композиційні" матеріали типу кераміка-кераміка ...
1.C.10.c. "Волокнисті або ниткоподібні матеріали" ...
1.C.10.d. "Волокнисті або ниткоподібні матеріали" ...
1.C.12. Матеріали, наведені нижче ...
1.D.2. "Програмне забезпечення" для "розроблення" органічної
"матриці", металевої "матриці" або вуглецевої
"матриці", "композиційних" або багатошарових структур,
описаних у цьому додатку
1.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних приміток
для "розроблення" або "виробництва" обладнання чи
матеріалів, описаних у позиціях 1.A.2 або 1.C цього
додатка
1.E.2.e. Інша "Технологія" ...
1.E.2.f. Інша "Технологія" ...
РОЗДІЛ 2
2.B.1.a. Токарні верстати, що мають усі наведені нижче
характеристики:
1) точність позиціювання з "усіма доступними
компенсаціями", що дорівнює або менше (краще) ніж
3,6 мкм відповідно до ISO 230/2 (1997) або
національного еквівалента стандарту ISO уздовж
будь-якої лінійної осі;
2) дві або більше осі, які можуть бути одночасно
задані для "контурного керування"
2.B.1.b. Фрезерні верстати, що мають будь-яку із зазначених
нижче характеристик:
1)a) точність позиціювання з "усіма доступними
компенсаціями", що дорівнює або менше (краще) ніж
3,6 мкм відповідно до ISO230/2 (1997) або
національного еквівалента стандарту ISO уздовж
будь-якої лінійної осі; та
b) три лінійні осі плюс одна вісь обертання, які
можуть бути одночасно задані для "контурного
керування"; або
2) п'ять або більше осей, які можуть бути одночасно
скоординовані для "контурного керування" і мають
точність позиціювання з "усією доступною
компенсацією", що дорівнює або менше (краще) ніж
3,6 мкм уздовж будь-якої лінійної осі;
3) точність позиціювання для
копіювально-розточувальних верстатів з "усією
доступною компенсацією", що дорівнює або менше
(краще) ніж 3 мкм уздовж будь-якої лінійної осі
2.B.1.d. Верстати для електроіскрового оброблення (EDM) ...
2.B.1.f. Верстати для свердління глибоких отворів ...
2.B.3. Верстати з "числовим керуванням" або з ручним
керуванням ...
2.D.1. "Програмне забезпечення", інше ніж те, що підлягає
контролю згідно з позицією 2.D.2, спеціально
призначене або модифіковане для "розроблення",
"виробництва" або "використання" обладнання,
зазначеного в позиції 2.B цього додатка
2.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних приміток
для "розроблення" обладнання або "програмного
забезпечення", які підлягають контролю згідно з
позиціями 2.B або 2.D цього додатка
2.E.2. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних приміток
для "виробництва" обладнання, яке підлягає контролю
згідно з позицією 2.B цього додатка
РОЗДІЛ 3
3.A.2.g.2. Атомні еталони частоти ...
3.B.1.a.2 Обладнання хімічного осадження з металоорганічної
парової фази ...
3.D.1. "Програмне забезпечення", спеціально призначене для
"розроблення" або "виробництва" обладнання, що
підлягає контролю згідно з позиціями 3.A.2.g або 3.B
цього додатка
3.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних приміток
для "розроблення" або "виробництва" обладнання або
матеріалів, що підлягають контролю згідно з позиціями
3.A або 3.B цього додатка
РОЗДІЛ 4
4.A.1.a.2. Електронні комп'ютери ... стійкі до радіації ...
4.A.3.b. "Цифрові комп'ютери", які мають "сукупну теоретичну
продуктивність" ("CTP") понад 75000 Мегатопсів
4.A.3.c. "Електронні збірки", спеціально призначені або
модифіковані для підвищення продуктивності
"обчислювальних елементів" шляхом об'єднання
"обчислювальних елементів" таким чином, що "сукупна
теоретична продуктивність" перевищує межу, зазначену в
позиції 4.A.3.b цього додатка
Примітка 1. Вимоги позиції 4.A.3.c застосовуються лише для
"електронних збірок" та запрограмованих
взаємозв'язків, які не перевищують меж, зазначених у
позиції 4.A.3.b цього додатка, у разі постачання їх у
вигляді необ'єднаних "електронних збірок".
Примітка 2. Згідно з позицією 4.A.3.c "електронні збірки",
спеціально спроектовані для продукції або цілого ряду
виробів, які у власній максимальній конфігурації не
перевищують обмежень, зазначених у позиції 4.A.3.b
цього додатка.
4.D.1. "Програмне забезпечення", спеціально призначене для
"розроблення" або "виробництва" обладнання або
"програмного забезпечення", зазначеного в позиціях 4.A
або 4.D цього додатка
4.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних приміток
для "розроблення" або "виробництва" обладнання або
"програмного забезпечення", що підлягають контролю
згідно з позиціями 4.A або 4.D цього додатка
РОЗДІЛ 5. ЧАСТИНА 1
5.A.1.b.3. Радіоапаратура ...
5.A.1.b.4. Радіоприймачі з цифровим керуванням ...
5.B.1.a. Обладнання і спеціально призначені компоненти або
аксесуари до нього, спеціально призначені для
"розроблення", "виробництва" або "використання"
обладнання, матеріалів, функцій або ознак, що
підлягають контролю згідно з частиною 1 розділу 5
цього додатка
5.D.l.a. "Програмне забезпечення", спеціально призначене для
"розроблення" або "виробництва" обладнання, функцій
або ознак, що підлягають контролю згідно з частиною 1
розділу 5 цього додатка
5.D.l.b. "Програмне забезпечення", спеціально розроблене або
модифіковане для підтримки "технологій", зазначених у
позиції 5.E.1 цього додатка
5.E.1.a. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних приміток
для "розроблення" або "виробництва" обладнання,
функцій, ознак або "програмного забезпечення",
зазначених у частині 1 розділу 5 цього додатка.
РОЗДІЛ 5. ЧАСТИНА 2 - відсутні
РОЗДІЛ 6
6.A.1.a.1.b. Системи виявлення або визначення місцезнаходження
об'єкта, які мають будь-яку з наведених нижче
характеристик:
1) частоту передачі нижче ніж 5 кГц;
2) рівень звукового тиску понад 224 дБ (1 мкПа
на 1 м) для обладнання з робочою частотою у
діапазоні від 5 до 24 кГц включно;
3) рівень звукового тиску ...
4) формування променів ...
5) призначені для функціонування ...
6) призначені для нормального функціонування ...
6.A.1.a.2.a.1. Гідрофони, які містять ...
6.A.1.a.2.a.2. Гідрофони, що мають будь-який ...
6.A.1.a.2.a.7. Гідрофони, призначені для ...
6.A.1.a.2.b. Акустичні гідрофонні ґратки ...
6.A.1.a.2.c. Апаратура оброблення даних, спеціально призначена
для використання в реальному масштабі часу, з
акустичними гідрофонними ґратками, які буксируються
і мають "можливість програмування користувачем" та
часовий або частотний метод оброблення і кореляції,
включаючи спектральний аналіз, цифрову фільтрацію
та формування діаграми спрямованості променя із
застосуванням швидкого перетворення Фур'є або інших
перетворень чи процесів
6.A.1.a.2.d. Датчики напрямку ...
6.A.1.a.2.e. Донні або занурені кабельні системи, які мають
будь-яку з наведених нижче характеристик:
1) наявність гідрофонів ...
2) наявність сигнальних модулів мультиплексної
гідрофонної групи ...
6.A.1.a.2.f. Апаратура оброблення даних, спеціально призначена
для використання в реальному масштабі часу, з
донними або зануреними кабельними системами, яка
має "можливість програмування користувачем" і
часовий або частотний метод оброблення та
кореляції, уключаючи спектральний аналіз, цифрову
фільтрацію та формування діаграми спрямованості
променя із застосуванням швидкого перетворення
Фур'є або інших перетворень чи процесів
6.A.2.a.1.a. Твердотільні детектори, "придатні для використання
в космосі" ...
6.A.2.a.1.b. Твердотільні детектори, "придатні для використання
в космосі" ...
6.A.2.a.1.c. Твердотільні детектори, "придатні для використання
в космосі" ...
6.A.2.a.2.a. Електронно-оптичні підсилювачі яскравості ...
1) максимальний відгук ...
2) мікроканальний анод ...
3) фотокатоди, наведені нижче:
a) S-20, S-25 або багатолужні фотокатоди із
світловою чутливістю понад 550 мкА/лм;
b) фотокатоди з GaAs або GaInAs;
c) інші III - V-компонентні напівпровідникові
фотокатоди
6.A.2.a.3. "Ґратки фокальної площини", не "придатні для
використання в космосі" ...
Примітка 3. Не поширюється на кремнієві матриці "ґраток
фокальної площини" згідно з позицією 6.A.2.a.3
цього додатка:
a) "ґратки фокальної площини" силіцида платини
(PtSi), які мають менше ніж 10000 елементів;
b) "ґратки фокальної площини" силіцида іридія
(InSi) ...
Примітка 4. У позиції 6.A.2.a.3 такі "ґратки фокальної площини"
не включені до цього додатка:
a) "ґратки фокальної площини" з антимоніду індію
(InSb) або селеніду свинцю (PbSe), які мають
менше ніж 256 елементів;
b) "ґратки фокальної площини" з арсеніду індію
(InAs);
c) "гратки фокальної площини" із сульфіду свинцю
(PbS);
d) "ґратки фокальної площини" з арсеніду галію
індію (InGaAs).
Примітка 5. У позиції 6.A.2.a.3 такі "ґратки фокальної площини"
з ртутного телуриду кадмію (HgCdTe) не включені до
цього додатка:
1) сканувальні антенні ґратки, які мають будь-яку з
наведених нижче характеристик:
a) 30 елементів або менше;
b) об'єднують затримку та інтеграцію часу в
межах елемента і мають 2 елементи або менше;
2) зіркоподібні гратки, які мають менше ніж 256
елементів.
Технічні "Сканувальні антенні ґратки" визначаються як
примітки. "гратки фокальної площини", призначені для
застосування із сканувальною оптичною системою, яка
послідовно відбиває об'єкт передачі для одержання
зображення.
"Зіркоподібні гратки" визначаються як "гратки
фокальної площини", призначені для застосування з
несканувальною оптичною системою, яка відображує
об'єкт передачі.
Примітка 6. У позиції 6.A.2.a.3 такі "ґратки фокальної площини"
не включені до цього додатка:
а) "ґратки фокальної площини" квантової ями з
арсеніду галію (GaAs) або арсеніду алюмінію
галію (GaAlAs), які мають менше ніж 256
елементів;
b) "ґратки фокальної площини" з піроелектричного
або фероелектричного матеріалу (включаючи
титанат стронцію барію, титанат цирконату свинцю
або титанат скандію свинцю), які мають менше ніж
8000 елементів;
c) "ґратки фокальної площини" мікроболометра
нітриду діоксиду кремнію ванадію, які мають
менше ніж 8000 елементів.
6.A.2.b. "Багатоспектральні приймачі зображення" та
"моноспектральні приймачі зображення" ...
6.A.2.c. Апаратура формування зображення "безпосереднього
спостереження" у видимому або інфрачервоному
діапазоні, що містить будь-яку з наведених нижче
ґраток:
1) електронно-оптичні перетворювачі для підсилення
яскравості зображення, зазначені у позиції
6.A.2.a.2.a цього додатка;
2) "гратки фокальної площини", зазначені у позиції
6.A.2.a.3 цього додатка
6.A.2.e. "Ґратки фокальної площини", "придатні для
використання в космосі" ...
6.A.3.b.3. Камери формування зображення, які містять
підсилювачі яскравості зображення і мають
характеристики, зазначені у позиції 6.A.2.a.2.a
цього додатка
6.A.3.b.4. Камери формування зображення, які містять "ґратки
фокальної площини" і мають характеристики,
зазначені в позиції 6.A.2.a.3 цього додатка
6.A.4.c. Компоненти для оптичних систем, "придатні для
використання в космосі" ...
6.A.4.d. Апаратура оптичного контролю ...
6.A.6.g. Магнітокомпенсаційні системи ...
Примітка 7. Згідно з позицією 6.A.6.g цього додатка контролю не
підлягають системи, які забезпечують лише
компенсацію абсолютних величин магнітного поля
землі як вихідного сигналу (тобто ширина смуги
частот вихідного сигналу простягається від
постійного току (DC) до принаймні 0,8 Гц).
6.A.6.h. "Надпровідні" електромагнітні датчики ...
6.A.8.d. РЛС типу SAR, ISAR або SLAR ...
6.A.8.h. РЛС, які використовують "оброблення сигналу" ...
6.A.8.k. РЛС, які містять підсистеми "оброблення
сигналу" ...
6.A.8.l.3. РЛС з автоматичним розпізнаванням образу
(виділенням ознак) та порівнянням з базами даних
характеристик цілей (сигналів або образів) для
ідентифікації або класифікації цілей ...
6.B.8. Імпульсні радіолокаційні системи для вимірювання
поперечного перерізу ...
6.D.1. "Програмне забезпечення", спеціально призначене для
"розроблення" або "виробництва" обладнання, що
підлягає контролю згідно з позиціями 6.A.4, 6.A.8
або 6.B.8 цього додатка
6.D.3.a. "Програмне забезпечення", як зазначено нижче ...
6.E.1. "Технологія" відповідно до ...
6.E.2. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних
приміток, призначена для "виробництва" обладнання,
що підлягає контролю згідно з позиціями 6.A або 6.B
цього додатка
РОЗДІЛ 7
7.D.2. "Текст програми" для "використання" ...
7.D.3.a. "Програмне забезпечення", спеціально призначене або
модифіковане...
7.D.3.b. "Текст програми" для ...
7.D.3.c. "Текст програми" для ...
від 7.D.3.d.l. "Текст програми" для "розроблення" ...
до 7.D.3.d.4.
та 7.D.3.d.7.
7.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних
та 7.E.2. приміток ...
РОЗДІЛ 8
8.A.1.b. Підводні апарати, пілотовані людиною ...
8.A.1.c. Підводні апарати, не пілотовані людиною ...
8.A.l.d. Підводні апарати, не пілотовані людиною ...
8.A.2.b. Системи, спеціально призначені або модифіковані для
автоматичного керування рухом підводних суден,
зазначених у позиції 8.A.1, які використовують
навігаційні дані та мають замкнені із зворотним
зв'язком сервоконтролюючі засоби:
1) здатні керувати ...
2) підтримують положення ...
3) підтримують положення ...
8.A.2.h. "Роботи", "керовані вмонтованою програмою",
спеціально призначені для підводного
застосування ...
8.A.2.j. Ізольовані від атмосфери рушійні системи ...
8.A.2.o.3. Системи зниження шуму, призначені для використання
на суднах ...
8.A.2.p. Системи руху на струминному двигуні ...
8.D.1. "Програмне забезпечення", спеціально призначене для
"розроблення" або "виробництва" обладнання, що
підлягає контролю згідно з позицією 8.A цього
додатка
8.D.2. Спеціальне "програмне забезпечення" ...
8.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних
приміток для "розроблення" або "виробництва"
обладнання, що підлягає контролю згідно з позицією
8.A цього додатка
8.E.2.a. Інша "технологія" ...
РОЗДІЛ 9
9.A.11. Прямоструминні, надзвукові або комбінованого циклу
двигуни ...
9.B.1.b. Обладнання або інструменти для виготовлення
керамічних осердь ...
9.D.1. "Програмне забезпечення", спеціально призначене або
модифіковане для "розроблення" обладнання або
"технології", що підлягають контролю згідно з
позиціями 9.A, 9.B або 9.E.3 цього додатка
9.D.2. "Програмне забезпечення", спеціально призначене або
модифіковане для "виробництва" обладнання, що
підлягає контролю згідно з позиціями 9.A або 9.B
цього додатка
9.D.4.a. Інше "програмне забезпечення" ... 2D або 3D ...
9.D.4.c. Інше "програмне забезпечення", спеціально
призначене ...
9.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних
приміток ...
9.E.2. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних
приміток ...
9.E.3.a.1. Інша "технологія" ... лопаток газових турбін...
9.E.3.a.2. Інша "технологія" ...
до 9.E.3.a.5.
та 9.E.3.a.8.
і 9.E.3.a.9.
------------------------------------------------------------------
------------------------------------------------------------------
Номер | Найменування
позиції |
|
------------------------------------------------------------------
"ДУЖЕ ЧУТЛИВІ" ТОВАРИ
Примітки. 1. У цьому додатку міститься перелік "дуже чутливих
товарів", уключених до списку, і відомості
стосовно експорту яких подаються Україною до
Секретаріату міжнародного режиму експортного
контролю "Вассенаарська домовленість" у
визначені терміни за встановленими формами щодо
наданих дозволів, фактичних передач та відмов у
наданні дозволів.
2. Для користування скороченими записами з метою
більшої деталізації звертайтесь до списку.
РОЗДІЛ 1
1.A.2.a. "Композиційні" структури або багатошарові матеріали
(ламінати), які мають органічну "матрицю" і
виготовлені з матеріалів, зазначених у позиціях
1.C.10.c або 1.c.10.d
1.C.1. Матеріали, спеціально призначені для поглинання
електромагнітних хвиль ...
1.C.12. Матеріали, наведені нижче ...
1.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних
приміток для "розроблення" або "виробництва"
обладнання або матеріалів, які підлягають контролю
згідно з позиціями 1.A.2 або 1.C цього додатка
РОЗДІЛ 4
4.A.3.b. "Цифрові комп'ютери", які мають "сукупну теоретичну
продуктивність" ("CTP") понад 150000 Мегатопсів
4.A.3.c. "Електронні збірки", спеціально призначені або
модифіковані для підвищення продуктивності
"обчислювальних елементів" шляхом об'єднання
"обчислювальних елементів" таким чином, що "сукупна
теоретична продуктивність" перевищує обмеження,
зазначені в позиції 4.A.3.b цього додатка
Примітки. 1. Згідно з позицією 4.A.3.c контролю підлягають
лише "електронні збірки" та запрограмовані
взаємозв'язки, які не перевищують обмежень,
зазначених у позиції 4.A.3.b цього додатка, у
разі постачання їх у вигляді необ'єднаних
"електронних збірок".
2. Згідно з позицією 4.A.3.c контролю не підлягають
"електронні збірки", спеціально спроектовані для
продукції або цілого ряду пристроїв, які у своїй
максимальній конфігурації не перевищують
обмежень, зазначених у позиції 4.A.3.b цього
додатка.
4.D.1. "Програмне забезпечення", спеціально призначене для
"розроблення" або "виробництва" обладнання,
зазначеного в позиції 4.A цього додатка
4.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних
приміток для "розроблення" або "виробництва"
обладнання або "програмного забезпечення", що
підлягають контролю згідно з позиціями 4.A або 4.D
цього додатка
РОЗДІЛ 5. ЧАСТИНА 1
5.A.1.b.4. Радіоприймачі з цифровим керуванням ...
5.D.1.a. "Програмне забезпечення", спеціально призначене для
"розроблення" або "виробництва" обладнання, функцій
або ознак, зазначених у частині 1 розділу 5 цього
додатка
5.E.1.a. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних
приміток для "розроблення" або "виробництва"
обладнання, функцій, ознак або "програмного
забезпечення", зазначених у частині 1 розділу 5
цього додатка
РОЗДІЛ 6
6.A.1.a.2.a.1., Гідрофони (перетворювачі) ..., які мають ...
6.A.1.a.2.a.2.
та
6.A.1.a.2.a.5.
6.A.1.a.2.b. Акустичні гідрофонні ґратки ...
6.A.1.a.2.c. Апаратура оброблення даних, спеціально призначена
для використання в реальному масштабі часу з
акустичними гідрофонними ґратками, які буксируються
і мають "можливість програмування користувачем" та
часовий або частотний метод оброблення і кореляції,
уключаючи спектральний аналіз, цифрову фільтрацію і
формування діаграми направленості променя із
застосуванням швидкого перетворення Фур'є або інших
перетворень чи процесів
6.A.1.a.2.e. Донні або занурені кабельні мережі, що мають
будь-яку з наведених нижче характеристик:
1) об'єднують гідрофони ...
2) об'єднують сигнальні модулі мультиплексної
гідрофонної групи ...
6.A.l.a.2.f. Апаратура оброблення, спеціально призначена для
використання в реальному масштабі часу, для донних
або занурених кабельних систем, яка має "можливість
програмування користувачем" та часовий або
частотний метод оброблення і кореляції, уключаючи
спектральний аналіз, цифрову фільтрацію і
формування діаграми направленості променя із
застосуванням швидкого перетворення Фур'є або інших
перетворень чи процесів
6.A.2.a.1.c. Твердотільні детектори, "придатні для використання
в космосі" ...
6.A.8.l.3. РЛС з автоматичним розпізнаванням образу
(виділенням ознак) та порівнянням з базами даних
характеристик цілей (сигналів або образів) для
ідентифікації або класифікації цілей
6.B.8. Імпульсні радіолокаційні системи для
вимірювання ...
6.D.1. "Програмне забезпечення", спеціально призначене для
"розроблення" або "виробництва" обладнання, що
підлягає контролю згідно з позиціями 6.A.8 або
6.B.8 цього додатка
6.D.3.a. "Програмне забезпечення", наведене нижче ...
6.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних
приміток, призначена для "розроблення" обладнання
або "програмного забезпечення", що підлягають
контролю згідно з позиціями 6.A, 6.B або 6.D цього
додатка
6.E.2. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних
приміток, призначена для "виробництва" обладнання,
що підлягає контролю згідно з позиціями 6.A або 6.B
цього додатка
РОЗДІЛ 7
7.D.3.a. "Програмне забезпечення", спеціально призначене або
модифіковане ...
7.D.3.b. "Текст програми" для ...
РОЗДІЛ 8
8.A.1.b. Підводні апарати, пілотовані людиною, що не
з'єднані з носієм ...
8.A.1.d. Підводні апарати, не пілотовані людиною, що не
з'єднані з носієм ...
8.A.2.o.3.b. Активні системи зниження або погашення шуму ...
8.D.1. "Програмне забезпечення", спеціально призначене для
"розроблення" або "виробництва" обладнання, що
підлягає контролю згідно з позицією 8.A цього
додатка
8.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних
приміток для "розроблення" або "виробництва"
обладнання, що підлягає контролю згідно з позицією
8.A цього додатка
РОЗДІЛ 9
9.A.11. Прямоточні, надзвукові або комбінованого циклу
двигуни ...
9.D.1. "Програмне забезпечення", спеціально призначене або
модифіковане для "розроблення" обладнання або
"технології", що підлягають контролю згідно з
позиціями 9.A або 9.E.3 цього додатка
9.D.2. "Програмне забезпечення", спеціально призначене або
модифіковане для "виробництва" обладнання, що
підлягає контролю згідно з позицією 9.A цього
додатка
9.E.1. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних
приміток для "розроблення" обладнання або
"програмного забезпечення", що підлягає контролю
згідно з позиціями 9.A.11 або 9.D цього додатка
9.E.2. "Технологія" відповідно до пункту 3 загальних
приміток для "виробництва" обладнання, що підлягає
контролю згідно з позицією 9.A.11 цього додатка
9.E.3.a.1. Інша "технологія" ... систем газотурбінного
двигуна ...
9.E.3.a.3.a. "Технологія", "необхідна" для ...
Компоненти, виготовлені з ...
Органічні "композиційні" матеріали, призначені для
роботи при температурах понад 588 K (315 град. C)
ABEC Комітет інженерів у справах виробництва
газостатичних підшипників
AGMA Американська асоціація виробників зубчастих передач
AHRS Системи орієнтування та визначення курсу польоту
ALU Арифметично-логічний пристрій
ATC Керування повітряним рухом
C(в ступ. 3)I Командування, зв'язок, управління і розвідка
CAD Автоматизоване проектування
CAS Служба хімічних термінів
CDU Пристрій керування та відображення
CEP Радіус кола розсіювання (Кругова імовірна помилка)
CNTD Термічне осадження з керованим зародкоутворенням
CVD Хімічне осадження з парової фази
CW Хімічна зброя
CW (для Незатухаюча гармонійна хвиля
лазерів)
DEW Системи зброї направленої енергії
DME Далекомірне обладнання
DS Спрямоване тверднення
EB-PVD Фізичне осадження з парової фази електронним
променем
EBU Європейський союз радіомовлення
ECM Електрохімічне оброблення
ECR Електронний циклотронний резонанс
EDM Електроерозійні верстати
EEPROMS Програмована постійна пам'ять зі стиранням
електричним струмом
EIA Асоціація електронної промисловості
EMC Електромагнітна сумісність
EMCDB Еластомерне модифіковане монолітне ракетне паливо
на подвійній основі
FFT Швидке перетворення Фур'є
GLONASS Глобальна навігаційна супутникова система
GPS Глобальна система місцевизначення
HBT Біполярні гетеротранзистори
HDDR Цифровий запис високої щільності
HEMT Транзистор з високою рухливістю електронів
ICAO Міжнародна організація цивільної авіації
IEC Міжнародна електротехнічна комісія
IEEE Інститут інженерів - спеціалістів у галузі
електротехніки та електроніки
IFOV Миттєве поле огляду
ILS Система посадки за приладами
IRIG Група апаратури міждіапазонного вимірювання
ISAR РЛС з інверсною синтезованою апертурою
ISO Міжнародна організація зі стандартизації
ITU Міжнародний союз електрозв'язку
JIS Промисловий стандарт Японії
JT Джоуль-Томсон
LIDAR Лазерна РЛС інфрачервоного діапазону
LRU Швидкознімний блок
MAC Код ідентифікації повідомлення
Mach Відношення швидкості руху об'єкта до швидкості
звуку (названо ім'ям Ернста Маха)
MLS Мікрохвильова система забезпечення посадки
MOCVD Хімічне осадження з металоорганічної парової фази
MRI Магнітно-резонансне формування зображення
MTBF Середній час напрацювання між відмовами
Mtops Мільйон теоретичних операцій за секунду
MTTF Середній час напрацювання до відмови
NBC Ядерний, біологічний та хімічний
NDT Метод неруйнівного контролю
PAR РЛС посадки
PIN Особистий ідентифікаційний номер
ppm Частин на мільйон
PSD Спектральна щільність потужності
QAM Квадратурна амплітудна модуляція
RF Радіочастота
RPV Літальний апарат з дистанційним керуванням
SACMA Асоціація постачальників перспективних
"композиційних" матеріалів
SAR РЛС із синтезованою апертурою
SC Монокристал
SLAR Бортова РЛС бокового огляду
SMPTE Спілка кіно- та телевізійних інженерів
SRA Складальна одиниця, що може бути замінена у
ремонтній майстерні
SRAM Статичний запам'ятовувальний пристрій з довільною
вибіркою
SRM Методи, рекомендовані Асоціацією постачальників
перспективних "композиційних" матеріалів
SSB Одна бокова смуга
SSR Оглядова РЛС з активним відгуком
TCSEC Надійні критерії оцінки комп'ютерних систем
TIR Загальне показання приладу
UTS Межа міцності при розтягові
VOR Всеспрямований курсовий радіомаяк УКХ-діапазону
YAG Алюмоіттрійовий гранат